chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

關(guān)于MIL、SIL、PIL和HIL之間的聯(lián)系和異同分析

MATLAB ? 來(lái)源:djl ? 作者:董淑成 ? 2019-09-17 11:51 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

我們?cè)谑褂肕BD開(kāi)發(fā)軟件的過(guò)程中,經(jīng)常會(huì)聽(tīng)到MIL、SIL、PIL和HIL等In-the-Loop測(cè)試。

這幾種測(cè)試之間到底是什么關(guān)系?

分別做什么事情?

下面我來(lái)簡(jiǎn)單說(shuō)說(shuō)。

M模型在環(huán)測(cè)試(MIL)

關(guān)于MIL、SIL、PIL和HIL之間的聯(lián)系和異同分析

圖一:模型在環(huán)測(cè)試(MIL)示意圖

如圖一所示,如果在Simulink模型中,將控制算法模型和被控對(duì)象模型連起來(lái)形成閉環(huán),就是我們經(jīng)常說(shuō)的MIL,顧名思義,在模型層面上實(shí)現(xiàn)閉環(huán)測(cè)試。這種測(cè)試通常發(fā)生在兩種場(chǎng)景之下:

系統(tǒng)工程師為了驗(yàn)證算法,使用控制算法模型控制被控對(duì)象模型

軟件工程師做模型級(jí)別的集成測(cè)試

當(dāng)然,MIL測(cè)試的前提是要有被控對(duì)象模型,搭建被控對(duì)象模型或者采購(gòu)現(xiàn)成的被控對(duì)象模型都可以。

M軟件在環(huán)測(cè)試(SIL)

SIL測(cè)試,這里的Software是指控制策略模型轉(zhuǎn)換成的C代碼編譯之后的軟件。我們可以想象,對(duì)于圖一,如果我們把控制策略模型替換成由控制策略模型轉(zhuǎn)換得到的C代碼編譯后的DLL文件,如果我們使用了和MIL測(cè)試時(shí)相同的測(cè)試用例,如果我們的測(cè)試用例足夠多,如果我們得到了和MIL測(cè)試相同的結(jié)果,那么我們是不是可以認(rèn)為我們生成的C代碼就和用于代碼生成的模型是一致的呢?

沒(méi)錯(cuò),SIL測(cè)試的目的就是為了驗(yàn)證自動(dòng)生成的代碼和用于代碼生成的模型中行為上是一致的。

也就是說(shuō)SIL測(cè)試是一種等效性測(cè)試,既然是等效性測(cè)試,那么我們就沒(méi)必要搭建圖一那樣的閉環(huán)模型,而可以用圖二實(shí)現(xiàn)等效性測(cè)試。

關(guān)于MIL、SIL、PIL和HIL之間的聯(lián)系和異同分析

圖二:軟件在環(huán)測(cè)試(SIL)示意圖

其實(shí)Simulink提供了SIL仿真模式,所以,我們可以用更方便的方式實(shí)現(xiàn)SIL測(cè)試,使用:

set_param(model_name,’SimulationMode’,’Software-in-the-loop(SIL)’)

設(shè)置算法模型的仿真模式為SIL,然后對(duì)比Normal模式下的輸出結(jié)果即可,并且這樣做有助于過(guò)程自動(dòng)化。如圖三所示:

關(guān)于MIL、SIL、PIL和HIL之間的聯(lián)系和異同分析

圖三:選擇SIL仿真模式測(cè)試

M處理器在環(huán)測(cè)試(PIL)

SIL測(cè)試是驗(yàn)證代碼和模型的一致性,代碼運(yùn)行在Windows平臺(tái)上,某種程度上說(shuō),這并不能保證代碼到目標(biāo)處理器上的運(yùn)行結(jié)果也能夠和模型保持一致。所以,就有了PIL測(cè)試。

PIL和SIL的不同之處在于,SIL將生成的代碼通過(guò)DLL的方式運(yùn)行在Windows平臺(tái)上,而PIL,是將生成的代碼運(yùn)行到目標(biāo)處理器上,兩種模式使用的編譯器也是不同的,SIL使用的就是Windows下的編譯器,比如Visual Studio C++或者LCC編譯器,而PIL使用的是目標(biāo)編譯器。

前面說(shuō)過(guò),等效性測(cè)試的目的是為了防止代碼生成過(guò)程出錯(cuò)。同樣,編譯過(guò)程也可能出錯(cuò),編譯器也可能有bug,綜合模型測(cè)試、SIL測(cè)試和PIL測(cè)試的結(jié)果,也可以幫助我們發(fā)現(xiàn)編譯器出錯(cuò)可能引入的bug。

SIL和PIL是等效性測(cè)試,測(cè)試的目的是為了驗(yàn)證自動(dòng)生成的代碼和模型具有相同的行為,既然如此,對(duì)于SIL和PIL的測(cè)試用例就沒(méi)有功能意義上的要求,只要要求代碼和模型輸入的測(cè)試數(shù)據(jù)相同即可,當(dāng)然希望數(shù)據(jù)量足夠大,能夠覆蓋各種路徑以及各種信號(hào)范圍。

另外,因?yàn)镻IL測(cè)試中代碼運(yùn)行在實(shí)際的控制器上,所以PIL測(cè)試除了可以驗(yàn)證代碼和模型是否一致之外,還可以獲得算法在實(shí)際控制器上的最長(zhǎng)運(yùn)行時(shí)間,而這個(gè)最長(zhǎng)時(shí)間的價(jià)值,做嵌入式實(shí)時(shí)軟件開(kāi)發(fā)的工程師都懂得。

M硬件在環(huán)測(cè)試(HIL)

最后再說(shuō)一下HIL測(cè)試,很多人會(huì)把HIL和PIL混淆,也有人認(rèn)為PIL是一種簡(jiǎn)化的HIL,理由是PIL測(cè)試的時(shí)候也需要引入硬件。這種理解是錯(cuò)誤的。PIL和HIL測(cè)試的目的是不同的,PIL用于測(cè)試軟件和模型是否一致,而HIL是用于測(cè)試控制器系統(tǒng)的,控制器系統(tǒng)包括了硬件、底層軟件和應(yīng)用層軟件。HIL測(cè)試通常將一個(gè)被測(cè)控制器和工控機(jī)相連,工控機(jī)上運(yùn)行著被控對(duì)象的模型,并且模擬出被控對(duì)象的一些電氣特性。在HIL場(chǎng)景下,被測(cè)試的控制器并不知道和它相連的是一臺(tái)工控機(jī),它會(huì)認(rèn)為自己連接的就是真實(shí)的實(shí)物對(duì)象。

MIL、SIL、PIL三種測(cè)試都是和MBD開(kāi)發(fā)模式下特有的,而HIL不同,無(wú)論你是否使用MBD開(kāi)發(fā),都可能需要做HIL。不是所有的應(yīng)用都需要,但是以下兩種情況建議做HIL:

在控制器軟硬件不成熟的條件下,運(yùn)行出錯(cuò)可能會(huì)導(dǎo)致人身傷害或者重大財(cái)產(chǎn)損失的情況;

在開(kāi)發(fā)過(guò)程中,被控對(duì)象開(kāi)發(fā)滯后于控制器開(kāi)發(fā)的情況。

另外,HIL測(cè)試通常比實(shí)物測(cè)試更節(jié)省成本,比如,做汽油機(jī)臺(tái)架測(cè)試,需要有大量的汽油消耗,而通過(guò)HIL測(cè)試汽油機(jī)控制器,就沒(méi)有汽油消耗。但這并不是說(shuō)HIL可以替代實(shí)物測(cè)試,HIL測(cè)試之后,通常會(huì)跟著做實(shí)物測(cè)試。

如果記不住上面的大段文字

就請(qǐng)記住下面3點(diǎn)——

MIL用于測(cè)算法

SIL和PIL用于測(cè)代碼(和模型的一致性)

HIL用于測(cè)控制器系統(tǒng)

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 處理器
    +關(guān)注

    關(guān)注

    68

    文章

    20329

    瀏覽量

    254815
  • 控制器
    +關(guān)注

    關(guān)注

    114

    文章

    17869

    瀏覽量

    195064
  • 編譯器
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    1672

    瀏覽量

    51902
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    德州儀器LMZ10501SIL和LMZ10500SIL評(píng)估板使用指南

    德州儀器LMZ10501SIL和LMZ10500SIL評(píng)估板使用指南 一、引言 德州儀器(TI)的LMZ10501和LMZ10500評(píng)估板專為從2.7V - 5.5V輸入獲得1.8V輸出電壓而配置
    的頭像 發(fā)表于 04-21 13:40 ?62次閱讀

    軟件在環(huán)(SIL)測(cè)試方案及康謀aiSim實(shí)現(xiàn)路徑

    軟件在環(huán)(SIL)測(cè)試是自動(dòng)駕駛算法研發(fā)的核心驗(yàn)證環(huán)節(jié),通過(guò)構(gòu)建虛擬測(cè)試環(huán)境,實(shí)現(xiàn)算法的閉環(huán)驗(yàn)證,解決傳統(tǒng)測(cè)試模式中存在的效率瓶頸,為算法迭代提供可靠支撐。在自動(dòng)駕駛研發(fā)實(shí)踐中,普遍存在HiL臺(tái)架
    的頭像 發(fā)表于 04-08 13:51 ?658次閱讀
    軟件在環(huán)(<b class='flag-5'>SIL</b>)測(cè)試方案及康謀aiSim實(shí)現(xiàn)路徑

    HiL 到 vECU SiL:汽車控制器驗(yàn)證為什么正在加速前移

    HiL 依然重要,但它更適合承擔(dān)系統(tǒng)級(jí)和硬件相關(guān)問(wèn)題的最終收斂;而基于 vECU的 SiL,則讓更多軟件驗(yàn)證工作可以前移到更早階段完成。對(duì)于正在推進(jìn)軟件平臺(tái)化、持續(xù)集成和虛擬交付的企業(yè)來(lái)說(shuō),vECU
    的頭像 發(fā)表于 03-26 09:09 ?1362次閱讀
    從 <b class='flag-5'>HiL</b> 到 vECU <b class='flag-5'>SiL</b>:汽車控制器驗(yàn)證為什么正在加速前移

    貼片電阻的封裝和阻值之間有什么聯(lián)系?

    貼片電阻的封裝與阻值之間沒(méi)有直接聯(lián)系 ,封裝主要取決于額定功率和散熱需求,而阻值由電阻材料和結(jié)構(gòu)決定。以下是對(duì)兩者關(guān)系的詳細(xì)分析:封裝與額定功率的關(guān)系 貼片電阻的封裝尺寸(如0402、0603
    的頭像 發(fā)表于 03-25 16:52 ?400次閱讀
    貼片電阻的封裝和阻值<b class='flag-5'>之間</b>有什么<b class='flag-5'>聯(lián)系</b>?

    2026年HIL測(cè)試全方位指南:主流平臺(tái)、供應(yīng)商選擇與關(guān)鍵技術(shù)解析

    隨著汽車電動(dòng)化與智能化的深度融合,硬件在環(huán)(HIL)測(cè)試已成為確保車輛安全性與可靠性的核心環(huán)節(jié)。從三電系統(tǒng)到高階自動(dòng)駕駛,HIL測(cè)試通過(guò)模擬真實(shí)世界場(chǎng)景,幫助工程師在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下高效驗(yàn)證控制器的功能
    的頭像 發(fā)表于 03-02 10:57 ?346次閱讀
    2026年<b class='flag-5'>HIL</b>測(cè)試全方位指南:主流平臺(tái)、供應(yīng)商選擇與關(guān)鍵技術(shù)解析

    vECU/SIL: OEM從“技術(shù)嘗鮮”到“研發(fā)標(biāo)配”

    01SIL測(cè)試——從“嘗試”變?yōu)椤摆厔?shì)”在整車廠與供應(yīng)商的項(xiàng)目中,以下場(chǎng)景屢見(jiàn)不鮮:ECU軟件已進(jìn)入跨團(tuán)隊(duì)/公司級(jí)的功能聯(lián)調(diào),硬件板子卻還未到位;算法工程師寫(xiě)好控制策略,卻找不到真實(shí)環(huán)境進(jìn)行驗(yàn)證
    的頭像 發(fā)表于 02-26 10:02 ?395次閱讀
    vECU/<b class='flag-5'>SIL</b>: OEM從“技術(shù)嘗鮮”到“研發(fā)標(biāo)配”

    LMC6482-MIL:高性能CMOS雙運(yùn)算放大器的卓越之選

    ——LMC6482-MIL,詳細(xì)剖析其特點(diǎn)、應(yīng)用及設(shè)計(jì)要點(diǎn)。 文件下載: lmc6482-mil.pdf 一、產(chǎn)品概述 LMC6482-MIL是一款支持軌到軌輸入和輸出的雙CMOS運(yùn)算放大器,可在雙電源和單電源模式下運(yùn)行。它的出
    的頭像 發(fā)表于 02-05 16:20 ?436次閱讀

    Vector CANoe中vECU/SIL測(cè)試功能

    過(guò)去,這些瓶頸往往只能靠“等”——等硬件、等設(shè)備、等協(xié)調(diào)。但隨著軟件在整車系統(tǒng)中的復(fù)雜度占比持續(xù)攀升,等待直接意味著項(xiàng)目延期、返工和成本飆升,更有甚者出現(xiàn)測(cè)試兩班倒。于是,越來(lái)越多團(tuán)隊(duì)開(kāi)始采用一項(xiàng)關(guān)鍵手段——SIL(Software-in-the-Loop,軟件在環(huán)測(cè)試)。
    的頭像 發(fā)表于 02-05 11:09 ?888次閱讀
    Vector CANoe中vECU/<b class='flag-5'>SIL</b>測(cè)試功能

    HiL測(cè)試系統(tǒng)電氣設(shè)計(jì)與集成服務(wù)

    北匯信息作為汽車電子行業(yè)知名的測(cè)試系統(tǒng)集成商,不僅為汽車行業(yè)客戶提供交鑰匙方案和實(shí)施,同時(shí)也能為汽車客戶提供HiL測(cè)試系統(tǒng)搭建服務(wù)、實(shí)車數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)搭建等,提供更靈活的合作模式,助力客戶高效推進(jìn)汽車電子研發(fā)與測(cè)試工作。
    的頭像 發(fā)表于 11-21 17:27 ?1943次閱讀
    <b class='flag-5'>HiL</b>測(cè)試系統(tǒng)電氣設(shè)計(jì)與集成服務(wù)

    電源控制器MCU硬件在環(huán)(HIL)測(cè)試方案

    實(shí)時(shí)仿真平臺(tái)為電源控制器 MCU 提供硬件在環(huán)(HIL)測(cè)試系統(tǒng),與用戶 MCU 構(gòu)成一整套測(cè)試系統(tǒng)。 在整體系統(tǒng)中,EasyGo 實(shí)時(shí)仿真平臺(tái)與 MCU 之間通過(guò)實(shí)際物理 IO 交互。MCU
    發(fā)表于 08-20 18:31

    汽車硬件在環(huán)(HIL)之車身電子測(cè)試解析

    車身電子 HIL 測(cè)試通過(guò) “虛擬場(chǎng)景 + 硬件驗(yàn)證” 的模式,將傳統(tǒng)需要實(shí)車投入的測(cè)試場(chǎng)景數(shù)字化,不僅大幅提升研發(fā)效率,更能覆蓋物理測(cè)試難以觸及的極端工況與故障場(chǎng)景。隨著汽車電子化程度加深,HIL 技術(shù)將成為車身電子系統(tǒng)從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的關(guān)鍵質(zhì)量屏障。
    的頭像 發(fā)表于 07-03 09:22 ?2657次閱讀
    汽車硬件在環(huán)(<b class='flag-5'>HIL</b>)之車身電子測(cè)試解析

    搭建完整的ADAS測(cè)試鏈路,推動(dòng)自動(dòng)駕駛技術(shù)的安全發(fā)展

    隨著全球L3級(jí)自動(dòng)駕駛法規(guī)落地,產(chǎn)業(yè)進(jìn)入規(guī)?;l(fā)展階段。針對(duì)高階自動(dòng)駕駛系統(tǒng)復(fù)雜度與測(cè)試效率的挑戰(zhàn),北匯信息構(gòu)建覆蓋MILSIL、HIL、VIL及實(shí)車的全生命周期測(cè)試鏈路。面對(duì)端到端架構(gòu)與艙駕融合
    的頭像 發(fā)表于 05-30 11:59 ?2220次閱讀
    搭建完整的ADAS測(cè)試鏈路,推動(dòng)自動(dòng)駕駛技術(shù)的安全發(fā)展

    5月22日技術(shù)直播分享 | 智能底盤(pán)電控產(chǎn)品仿真測(cè)試解決方案

    本次研討會(huì),經(jīng)緯恒潤(rùn)將結(jié)合多年汽車電子領(lǐng)域研發(fā)和測(cè)試的經(jīng)驗(yàn),聚焦底盤(pán)技術(shù)現(xiàn)狀及測(cè)試難點(diǎn)、測(cè)試需求及流程分析SIL/HIL仿真測(cè)試解決方案,分享和探討智能底盤(pán)電控產(chǎn)品仿真測(cè)試解決方案。期望能給您以及您的團(tuán)隊(duì)帶來(lái)一些啟發(fā)。
    的頭像 發(fā)表于 05-20 11:03 ?360次閱讀
    5月22日技術(shù)直播分享 | 智能底盤(pán)電控產(chǎn)品仿真測(cè)試解決方案

    BMS HIL測(cè)試技術(shù)演進(jìn):高壓架構(gòu)、多域融合與儲(chǔ)能系統(tǒng)應(yīng)用解析

    隨著新能源汽車及儲(chǔ)能系統(tǒng)高壓化、智能化發(fā)展,BMS HIL測(cè)試技術(shù)成為驗(yàn)證電池安全與性能的核心手段。北匯信息基于Vector工具鏈的BMS HIL方案演變,涵蓋400V至800V高壓架構(gòu)升級(jí)、分布式
    的頭像 發(fā)表于 05-19 14:56 ?2165次閱讀
    BMS <b class='flag-5'>HIL</b>測(cè)試技術(shù)演進(jìn):高壓架構(gòu)、多域融合與儲(chǔ)能系統(tǒng)應(yīng)用解析