簡介
使用當今的計算機和商業(yè)CAD軟件包,現(xiàn)在可以在產(chǎn)品開發(fā)的初始設(shè)計和優(yōu)化階段全面解決制造參數(shù)問題。這一突破的一些明顯好處是:
- 我們設(shè)計了一種更具可制造性的產(chǎn)品
- 我們消除(或至少減少)設(shè)計和制造之間昂貴的迭代周期
- 我們的設(shè)計可靠性
制造過程中遇到兩種類型的故障:
- 災(zāi)難性故障 - 由于設(shè)備中的物理問題導致的故障,例如焊點不良和材料故障。
- 參數(shù)故障 - 由于在制造或使用壽命期間遇到參數(shù)變化而導致故障。
當前設(shè)計
典型的當前設(shè)計過程如圖1所示。制造業(yè)的特點是參數(shù)值不確定,可以產(chǎn)生測試時單元中的參數(shù)故障。

圖1 - 當前設(shè)計
過程中參數(shù)故障太多 - 制造測試需要重新設(shè)計和另一次制造嘗試。
制造設(shè)計(DFM)
使用DFM(也稱為統(tǒng)計設(shè)計),我們?yōu)樵O(shè)計工程師配備測試和制造環(huán)境模型(圖2)。結(jié)合使用這些模型的專業(yè)CAD工具,設(shè)計工程師可以更好地將設(shè)計融入制造過程中遇到的參數(shù)環(huán)境中,在產(chǎn)品開發(fā)的設(shè)計階段。

圖2 - 制造設(shè)計
統(tǒng)計設(shè)計技術(shù)和CAD軟件可以對敏感的射頻和微波設(shè)計進行表征和減敏,并將其集中在他們的制造環(huán)境。
統(tǒng)計設(shè)計
可制造的設(shè)計在整個范圍內(nèi)提供可接受的性能,并在制造過程中遇到參數(shù)值的組合。
統(tǒng)計設(shè)計的方法如圖3所示。在這種方法中有四個主要步驟:
- 步驟1 - 開發(fā)和單點優(yōu)化設(shè)計
- 步驟2 - 執(zhí)行統(tǒng)計分析以確定性能統(tǒng)計數(shù)據(jù)
- 步驟3 - 確定性能統(tǒng)計數(shù)據(jù)是否可接受并獲取統(tǒng)計變量之間的任何統(tǒng)計敏感度
- 步驟4 - 如有必要,統(tǒng)計優(yōu)化并重新分析產(chǎn)量
在第2步中,我們將統(tǒng)計變量(統(tǒng)計模型)分配給在制造過程中會發(fā)生變化的所有參數(shù)。然后,CAD軟件包通過估計由于參數(shù)變化(統(tǒng)計模型)引起的性能變化(性能統(tǒng)計)來執(zhí)行統(tǒng)計分析。第3步,評估設(shè)計的統(tǒng)計性能,是本文的重點。

圖3 - 制造設(shè)計
統(tǒng)計設(shè)計優(yōu)化了設(shè)計的性能統(tǒng)計。
可制造性措施
有許多統(tǒng)計指標可以表征制造業(yè)績設(shè)計,包括性能均值,標準差和方差,以及像Tagucci S/N這樣的更復雜的測量。但是在統(tǒng)計設(shè)計中最有用的通用度量是收益率。產(chǎn)量定義為:

我們現(xiàn)在將討論用于評估設(shè)計統(tǒng)計性能的三個重要統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示。所有這些都可以在今天的CAD軟件包中找到。
測量直方圖,MH
測量直方圖是數(shù)字的直方圖(或百分比)測量值的出現(xiàn)與測量值的百分比。測量直方圖給出了在統(tǒng)計分析期間遇到的測量值的擴展。圖4給出了一個例子。

圖4 - 測量直方圖
MH可以幫助您設(shè)置設(shè)計規(guī)格獲得可接受的屈服值。只需將規(guī)格設(shè)置為包含所需的測量百分比即可。這可能在產(chǎn)量優(yōu)化開始時是必要的。
統(tǒng)計響應(yīng)圖,SRP
統(tǒng)計響應(yīng)圖是統(tǒng)計模擬期間遇到的所有響應(yīng)的圖。通常將響應(yīng)相對于自變量繪制,例如S11與頻率。 SRP給出了由于定義的統(tǒng)計參數(shù)變化而發(fā)生的響應(yīng)變化的度量。統(tǒng)計響應(yīng)圖的一個例子如圖5所示。

圖5 - 統(tǒng)計響應(yīng)圖
統(tǒng)計響應(yīng)圖顯示可能的測量變化類型,因為給出了單位參數(shù)的統(tǒng)計變化。
屈服靈敏度直方圖,YSH
屈服靈敏度直方圖是垂直軸上的屈服“圖”,而橫軸是電路參數(shù)的(階梯式)值。
在所有統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示中,YSH是通常最有用的是因為它顯示哪些參數(shù)會影響設(shè)計的產(chǎn)量以及如何可能更改參數(shù)以提高產(chǎn)量。
屈服靈敏度直方圖可以指示設(shè)計是否處于最大產(chǎn)量(a 居中設(shè)計)或設(shè)計是否需要進行產(chǎn)量優(yōu)化(未中心設(shè)計。)屈服靈敏度直方圖還告訴設(shè)計師de中的哪些參數(shù)符號影響設(shè)計產(chǎn)量,需要包含在產(chǎn)量優(yōu)化中。
示例YSH如下圖6所示。垂直軸(0-100)是以百分比表示的屈服,水平軸(30-42)是給定組件的參數(shù)值范圍。

圖6 - A產(chǎn)量靈敏度直方圖
解釋產(chǎn)量靈敏度直方圖
YSH是產(chǎn)量與您的設(shè)計參數(shù)值之間的關(guān)系圖。繪制的參數(shù)值不被認為是統(tǒng)計變量,但是允許所有其他參數(shù)根據(jù)其指定的統(tǒng)計分布而變化。當參數(shù)在其允許的變化范圍內(nèi)步進時,計算每個步驟的產(chǎn)量。
YSH是估計產(chǎn)量與每個階梯參數(shù)值的關(guān)系圖。例如,參見圖6,當curVar(一個元件,如電容或電感)固定在32時,估計的電路良率約為95%。當curVar固定為40時,估計產(chǎn)率為44%。
YSH繪圖軸上使用的下限和上限是統(tǒng)計參數(shù)的上限和下限。
如果YSH基本上是平坦的,則參數(shù)在較低的范圍內(nèi)限制(LL)到上限(UL)不會影響設(shè)計的產(chǎn)量。如圖7(d)所示。在這種情況下,我們說參數(shù)居中。
可能沒有必要在yield yield中包含此參數(shù),因為此參數(shù)(在其當前范圍內(nèi))對yield沒有影響。也可以在不降低產(chǎn)量的情況下增加該參數(shù)的容差。

圖7 - 如何使用屈服靈敏度柱狀圖
如果YSH傾斜,如圖7(a)和(b)所示,參數(shù)會影響屈服值,我們說參數(shù)不居中。將參數(shù)的標稱值移動到更高的產(chǎn)量值可能會增加設(shè)計的總產(chǎn)量。
YSH中的每個矩形稱為bin。每個箱的高度是使用來自模擬試驗的測量值的產(chǎn)量估計,其中參數(shù)值在箱底部所覆蓋的區(qū)間內(nèi)。應(yīng)計算每個箱高的置信區(qū)間。
如果YSH在中心位置較高而在極端處較低,如圖7.3(c)所示,則需要上限和下限(UL和LL)待調(diào)整。參數(shù)變化的程度是其容差,在這種情況下,參數(shù)容差應(yīng)該減小。
統(tǒng)計敏感度
看著在圖8中的屈服靈敏度直方圖中,統(tǒng)計靈敏度是直方圖的斜率。 YSH具有較大斜率的參數(shù),如圖8所示,被認為是一個統(tǒng)計上敏感的參數(shù)。

圖8 - 統(tǒng)計靈敏度
因為每個箱高代表一個產(chǎn)量估算,所以使用少量試驗的YSH可能粗糙且不穩(wěn)定。這是由于數(shù)值估計誤差造成的。真實的產(chǎn)量與參數(shù)圖總是平滑的函數(shù)。
統(tǒng)計靈敏度降低
圖9顯示了統(tǒng)計靈敏度降低的概念,這是設(shè)計居中的本質(zhì)。

圖9— (a)設(shè)計居中前的YSH,(b)設(shè)計居中后的YSH
從圖9(a)中我們看到參數(shù)標稱值(YSH的中心)為35Ω并且當參數(shù)值高于36Ω收益率為零。隨著參數(shù)值從35&#937減小,產(chǎn)量增加。從這個YSH的斜率,我們看到對該參數(shù)值有很大的統(tǒng)計敏感性。
統(tǒng)計優(yōu)化后,該參數(shù)的YSH如圖9(b)所示。在產(chǎn)量優(yōu)化(設(shè)計中心)之后,我們看到這個參數(shù)的YSH在任一方向都沒有主導斜率,我們說這個參數(shù)是居中。(從9(b)可以看出YSH減少了在28和#937;的標稱值的兩個方向上。因此,減小該參數(shù)的公差將增加產(chǎn)量。)對應(yīng)于9.5(a)的估計產(chǎn)量約為25%,而對應(yīng)于9.5(b)的估計產(chǎn)量約為86%。
歸一化統(tǒng)計敏感度(NSS)定義為:

對于圖中的YSH 8,NSS是:

因此,參數(shù)值增加(NSS為正)1%會增加產(chǎn)量減少2.5%。您需要了解設(shè)計中每個統(tǒng)計參數(shù)的統(tǒng)計靈敏度。
示例:低噪聲放大器
電路和初始單點設(shè)計和優(yōu)化來自ADS 2001功率放大器設(shè)計指南示例部分(LNA_prj)。一個晶體管電路如圖10所示。

圖10—突出顯示匹配電路的LNA示例電路
該電路的初始設(shè)計和優(yōu)化規(guī)范如下:
- 3 V電源,2mA集電極電流
- 2 GHz時噪聲系數(shù)盡可能低
- 2 GHz時S21> 10 dB
- S11和S22 <-10 =“”db =“”at =“” 2 =“”ghz =“”>
- 無條件穩(wěn)定
- 選擇晶體管
- 設(shè)計偏置網(wǎng)絡(luò),確定穩(wěn)定性
- 添加穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)
- 確定晶體管的輸入和輸出阻抗
- 設(shè)計輸入匹配電路
- 設(shè)計輸出匹配電路
- 模擬響應(yīng)
- 單點優(yōu)化設(shè)計
LNA的統(tǒng)計分析
按照圖3中給出的統(tǒng)計設(shè)計步驟,我們進行統(tǒng)計分析,然后優(yōu)化此設(shè)計。
1。選擇統(tǒng)計參數(shù)。選擇輸入和輸出匹配結(jié)構(gòu)以具有統(tǒng)計變量。匹配結(jié)構(gòu)在圖10中突出顯示。
2。分配參數(shù)統(tǒng)計信息。統(tǒng)一+/- 10%分布分配給每個匹配的組件參數(shù)。統(tǒng)計模型的選擇直接影響估計的屈服值。但統(tǒng)計敏感度并不受統(tǒng)計模型選擇的強烈影響。因此,這個簡單的模型將有效識別和降低該電路的統(tǒng)計靈敏度。
3。設(shè)置良品率規(guī)格。產(chǎn)量規(guī)格設(shè)定為:
- 3 V電源,2mA集電極電流
- S21> 2 GHz時8 dB
-
S11和S22 <-6.5 =“”db =“”at =“”1.8ghz =“”>
<2.2 =“”ghz =“”> - 無條件穩(wěn)定
4。計算產(chǎn)量。使用500次試驗計算得到的收率為91%。
5。檢查YSH的所有統(tǒng)計參數(shù)。圖11和圖12顯示輸入和輸出匹配組件參數(shù)(C2,L2(輸入)和C3,L3(輸出))的YSH。

圖11&#151;輸入匹配的統(tǒng)計分析,YSH

圖12&#151;輸出匹配的統(tǒng)計分析,YSH
很容易看出,描述輸入組件C2和L2的參數(shù)是居中的,而描述輸出組件C3和L3的參數(shù)不是居中的。
6。估計統(tǒng)計敏感度。從圖11和12中得到的歸一化統(tǒng)計靈敏度在表1中給出。

7。執(zhí)行產(chǎn)量優(yōu)化。由于在輸出匹配參數(shù)中檢測到統(tǒng)計靈敏度,因此執(zhí)行了產(chǎn)量優(yōu)化。此外,使用ADS2001,現(xiàn)在可以進行編程優(yōu)化。這里首先對輸入進行良率優(yōu)化,然后對輸出進行優(yōu)化,然后對整個電路進行整體最終良率優(yōu)化。
8。執(zhí)行產(chǎn)量分析,驗證優(yōu)化結(jié)果。輸出匹配的結(jié)果如圖13所示。得到的收益率為100%。此時,可以收緊屈服規(guī)格,以確定這種以設(shè)計為中心的設(shè)計中的任何其他靈敏度。
測量直方圖(MH)將幫助您查看此設(shè)計的新統(tǒng)計性能,并將根據(jù)需要幫助您設(shè)置新規(guī)格。產(chǎn)量優(yōu)化前后的參數(shù)值如表2所示。

圖13 - 產(chǎn)量優(yōu)化后的YSH圖

表2 - 設(shè)計居中之前和之后的參數(shù)值
LNA示例討論
我們從一組針對一組參數(shù)值的性能進行優(yōu)化的設(shè)計開始:單點優(yōu)化設(shè)計。我們看到這種設(shè)計雖然性能高,但產(chǎn)量并不高。通常就是這種情況。
單點優(yōu)化設(shè)計通常不是高產(chǎn)量設(shè)計。統(tǒng)計分析和設(shè)計對于優(yōu)化產(chǎn)量等統(tǒng)計性能是必要的。
使用當前的CAD軟件可以很容易地完成圖3中給出的統(tǒng)計設(shè)計步驟。
結(jié)論
當今CAD軟件的突破使設(shè)計工程師能夠輕松有效地將制造的參數(shù)變化納入初始設(shè)計過程。這里提出的關(guān)鍵點是:
- 統(tǒng)計分析,包括最小化統(tǒng)計敏感性,將導致更可制造的設(shè)計。
- 單點優(yōu)化可能會導致設(shè)計中出現(xiàn)不必要的統(tǒng)計敏感度。小心!
- 產(chǎn)量靈敏度直方圖顯示設(shè)計中的統(tǒng)計靈敏度,有助于確定是否需要產(chǎn)量優(yōu)化。
- 歸一化統(tǒng)計靈敏度可量化參數(shù)的統(tǒng)計靈敏度。
- 產(chǎn)量優(yōu)化可提高產(chǎn)量并最大限度地降低統(tǒng)計敏感度。
- 統(tǒng)計設(shè)計工具目前可在商業(yè)設(shè)計平臺上使用。
組件 - 電路元件,如R,L或傳輸線。
參數(shù) - 定義組件值的數(shù)字:對于電容器,如57pF。單位 - 像放大器或振蕩器一樣的設(shè)計目標。
性能 - 單位的計算或測量響應(yīng),如S11,S22,S21和群延遲的組合。
可制造性 - 單位性能對制造過程中遇到的統(tǒng)計參數(shù)變化的敏感性。標稱參數(shù)值 - 用于描述組件的單個參數(shù)值,如果參數(shù)是統(tǒng)計變量,通常是參數(shù)平均值。容差 - 制造過程中參數(shù)變化的程度。單點設(shè)計 - 最大化單個參數(shù)值的單位性能。
統(tǒng)計設(shè)計 - 通過參數(shù)最大化性能統(tǒng)計統(tǒng)計模型 - 分配給a的概率分布參數(shù),數(shù)學上或一組測量值。
CAD - 計算機輔助設(shè)計。
參考文獻
ADS 2001功率放大器設(shè)計指南參考手冊,第9章.M。 Meehan和J. Purviance,微波電路和系統(tǒng)設(shè)計的產(chǎn)量和可靠性,Artech House,1993。 Purviance,蒙特卡羅統(tǒng)計設(shè)計方法,IEEE MTT-S 2001.國際微波研討會研討會和短期課程,WMB:微波CAD的統(tǒng)計設(shè)計和建模技術(shù)。 Purviance和M. Meehan,“用于提高產(chǎn)量的靈敏度圖”,IEEE Trans。微波理論與技術(shù),Vol。 1988年2月36日第2期,第413-417頁。
博士。 John Purviance,行業(yè)顧問,幫助他的客戶理解和使用CAD產(chǎn)量分析和優(yōu)化工具來設(shè)計高產(chǎn)量微波和高速數(shù)字電路。他在高收益設(shè)計,統(tǒng)計靈敏度降低和統(tǒng)計建模方面擁有20年CAD經(jīng)驗,并在高產(chǎn)量設(shè)計領(lǐng)域撰寫了30多篇技術(shù)論文??梢酝ㄟ^purviancej@galacticomm.org與他聯(lián)系。
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