如果您正在尋找將您描述為完全進(jìn)入PCB的人的飛針測(cè)試儀。這對(duì)你來(lái)說(shuō)很熱門。如果你認(rèn)為我會(huì)使這復(fù)雜化，那是因?yàn)樗?。但不要?dān)心，因?yàn)槲覀円呀?jīng)讓你滿意。我們幾乎擁有本文中討論的飛針測(cè)試儀的所有內(nèi)容，內(nèi)容，方法和方法。在我們了解飛針測(cè)試儀的確切含義之前，我們需要了解是什么讓它如此復(fù)雜。這是我們，我們把它取下來(lái)的方式。

所以，讓我們一次取下一個(gè)怪物。從PCB是什么開始！
PCB是用于將電子元件電氣連接在一起并提供機(jī)械支撐的電路板。 PCB數(shù)量非常多，包括SMT元件，處理器電阻，電容，二極管，LED等。使用導(dǎo)電跡線，焊盤和從一個(gè)或多個(gè)銅片層蝕刻的其他特征來(lái)連接這些部件。這個(gè)/這些銅層被層壓到介電基板的層上和/或?qū)又g。但是，這是我們都知道的嗎？我們真正沒有思考的是那些人口密集的PCB中出現(xiàn)的問(wèn)題！

在線測(cè)試

在線測(cè)試檢查應(yīng)用程序的工作方式，即白盒測(cè)試。在這里，我們使用電子探針檢查填充的PCB的短路，開路，電阻，電容和其他基本質(zhì)量。這將顯示板的制造是否合適。有兩種執(zhí)行信息通信技術(shù)的方式，其中一種是我們的主題：釘床式夾具和無(wú)需安裝的ICT設(shè)置。傳統(tǒng)上，用于PCB的“床釘”測(cè)試需要定制夾具來(lái)固定PCBA和與PCBA接觸的彈簧針。就像現(xiàn)實(shí)世界的釘子床一樣，這些裝置包含一系列小型彈簧式彈簧針。每個(gè)彈簧針都與被測(cè)設(shè)備電路中的一個(gè)節(jié)點(diǎn)相連。

As隨著電路板復(fù)雜性增加的趨勢(shì)繼續(xù)存在，它們挑戰(zhàn)傳統(tǒng)測(cè)試儀的功能甚至超越。飛針探測(cè)器將在線測(cè)試的優(yōu)勢(shì)擴(kuò)展到無(wú)法使用這種釘床（無(wú)法使用），太長(zhǎng)時(shí)間無(wú)法構(gòu)建（原型）或太昂貴無(wú)法證明（高混合/低體積）的應(yīng)用。

無(wú)夾具在線測(cè)試或飛針測(cè)試儀

飛針測(cè)試最初只適用于裸板測(cè)試。但是從上面的陳述我們已經(jīng)了解FICT或FPT在提出可訪問(wèn)性問(wèn)題的PCB中是有效的。此外，在原型和中低產(chǎn)量生產(chǎn)。與釘床相比，它使用軟件指令移動(dòng)飛針。飛針探測(cè)器中的機(jī)電控制器。我們沿X-Y軸裝備四個(gè)頭部飛針測(cè)試儀，可以高速移動(dòng)。我們?cè)陲w針測(cè)試儀上安裝了一個(gè)攝像頭來(lái)檢查元件的極性。因此，飛針測(cè)試儀可以減少所需的測(cè)試夾具的數(shù)量。引入更改也變得更加容易，特別是對(duì)于墊或組件位置等功能。它只需要更換軟件。

同樣，飛針可以直接訪問(wèn)組件引腳或通過(guò)自動(dòng)測(cè)試點(diǎn)探測(cè)。他們不需要測(cè)試點(diǎn)。這改善了使用釘床的在線測(cè)試的測(cè)試覆蓋率。它使用電路板上的過(guò)孔作為嵌入式測(cè)試點(diǎn)，并將它們用作測(cè)試點(diǎn)。因此，測(cè)試點(diǎn)不再起作用。

這有什么幫助？

我們時(shí)尚，時(shí)尚的電子產(chǎn)品無(wú)法滿足這些要求因?yàn)槎聲?huì)房地產(chǎn)是一種珍貴的商品。消除一些（如果不是全部）測(cè)試點(diǎn)可以節(jié)省大量的電路板空間。

飛針測(cè)試是一種用于小批量和原型電路板的方法，原因有幾個(gè)。就像在今天增加密度和復(fù)雜性的時(shí)代一樣，它很容易在編程中使用。小批量生產(chǎn)運(yùn)行或原型并不能證明固定裝置價(jià)格昂貴的釘床在線測(cè)試成本。使用飛針技術(shù)提供了一種經(jīng)濟(jì)高效的解決方案。它還可以測(cè)試幾乎無(wú)限數(shù)量的網(wǎng)板。因此，這將大大縮短產(chǎn)品設(shè)計(jì)周期并縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。

現(xiàn)在是時(shí)候破譯飛針測(cè)試儀的工作原理了。

在這部分中，我們將在兩個(gè)不同的部分中使用飛針的工作：一個(gè)用于硬件，另一個(gè)用于測(cè)試程序或軟件。如果使用硬件：

被測(cè)設(shè)備的單元將首先通過(guò)傳送帶傳送到內(nèi)部測(cè)試儀。然后，探針將接觸過(guò)孔和測(cè)試墊以檢測(cè)該單元的缺陷。它將探頭與信號(hào)發(fā)生器和電源等驅(qū)動(dòng)器連接起來(lái)。連接是通過(guò)多路復(fù)用系統(tǒng)和傳感器。數(shù)字萬(wàn)用表，頻率計(jì)數(shù)器等是這樣的傳感器，通過(guò)它們測(cè)試有缺陷的設(shè)備的組件。當(dāng)它測(cè)試一個(gè)組件時(shí)，它會(huì)阻止同一單元上的其他組件進(jìn)行測(cè)試。

想知道為什么？顯而易見，要阻止讀數(shù)受到干擾。

正如我們所知，飛針測(cè)試儀可以測(cè)試短路，開路和元件值。我們還在飛針測(cè)試儀上安裝了一個(gè)攝像頭來(lái)檢查元件的極性。測(cè)試人員可以更輕松地在單個(gè)測(cè)試中測(cè)試多個(gè)方面。因此，請(qǐng)注意制作電路板組件。

在我們進(jìn)入軟件部分之前，讓我們看一些關(guān)于通過(guò)探針進(jìn)行測(cè)試的獨(dú)家內(nèi)容。

相位差測(cè)量單位

相位差測(cè)量單元就是這樣一種測(cè)試。今天我們可以買得起任何不必要的時(shí)間。 PDM在參考線和信號(hào)線之間發(fā)送高頻信號(hào)，以測(cè)量這些相位之間的差異。這將減少網(wǎng)內(nèi)不必要的隔離測(cè)試。

高壓應(yīng)力測(cè)試

高壓應(yīng)力測(cè)試是針對(duì)未檢測(cè)到的高電阻PDM隔離缺陷。我們通過(guò)在信號(hào)線之間施加高壓脈沖來(lái)進(jìn)行HVS以檢測(cè)高電阻缺陷。 HVS和PDM在兩方面都是相似的方面是類似的。因此，準(zhǔn)時(shí)很快。

當(dāng)我們說(shuō)高時(shí)它包括從高到高的范圍。因此，接下來(lái)我們將討論這個(gè)高到更高的范圍。標(biāo)準(zhǔn)隔離電阻測(cè)量的最大適用電壓為250V。這提供了最大500V/1000V的選擇?，F(xiàn)在，針對(duì)超高阻隔離缺陷。它采用低功率測(cè)試電壓來(lái)實(shí)現(xiàn)此目的。低電壓的使用允許用戶進(jìn)行超高電阻測(cè)試，而不會(huì)在測(cè)試板上增加高應(yīng)力。

Micro Shorts Detection

接下來(lái)在我們的盤片上是Micro Short detection。在隔離測(cè)試中突然施加高壓可能會(huì)導(dǎo)致燒壞包含微短路的部件。這適用于碳化殘留物，可能與空氣中的水分或工廠中的氣體反應(yīng)。這導(dǎo)致元件在測(cè)試完成后作為高電阻短路錯(cuò)誤復(fù)發(fā)。微短路測(cè)試可以通過(guò)在逐漸增加施加電壓之前施加低電壓來(lái)避免這種損壞和故障。有時(shí)，多層電路板之間的高電阻短路具有半導(dǎo)體和電容器的特性。高壓極性的反轉(zhuǎn)也可以檢測(cè)到這些缺陷。

對(duì)于軟件或測(cè)試程序的工作：

飛針測(cè)試儀攜帶比傳統(tǒng)的ICT更容易和更快地進(jìn)行編程。
為什么？讓我們找出...

為了實(shí)現(xiàn)飛針測(cè)試編程，測(cè)試人員首先將工程師提供的CAD數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為適用的文件。之后，新生成的文件將運(yùn)行測(cè)試程序。他們使用生成相應(yīng)格式的新文件運(yùn)行它。最后，創(chuàng)建的所有文件都完全符合該單元的測(cè)試要求和要求。

一旦程序準(zhǔn)備就緒，測(cè)試探針就可以立即采取行動(dòng)了。然后，如確定測(cè)試項(xiàng)目那樣顯而易見，例如開路阻力。然后，應(yīng)從CAD數(shù)據(jù)中選取符合缺陷的參考數(shù)據(jù)點(diǎn)或測(cè)試該單元的東西。一旦一個(gè)單元固定在平臺(tái)上，就會(huì)進(jìn)行編程以檢查制造或裝配問(wèn)題。必須記住，調(diào)試需要在官方測(cè)試之前完成。

什么是好消息;就是這樣，與傳統(tǒng)的ICT測(cè)試相比，我們現(xiàn)在可以提前調(diào)試飛針測(cè)試方法。

我們的承諾

飛針探測(cè)器需要進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的深入研究（目前我們的頂級(jí)列表中的方式）。但我們認(rèn)為這篇文章可以幫助您踏上這個(gè)主題。我們將為您提供最新信息，并繼續(xù)為您完成這項(xiàng)繁重的任務(wù)。

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