(文章來源:集微網(wǎng))
中微半導體設(shè)備(上海)有限公司(以下簡稱“中微”)在本周舉辦的SEMICON China期間正式發(fā)布了第一代電感耦合等離子體刻蝕設(shè)備Primo nanova?,用于大批量生產(chǎn)存儲芯片和邏輯芯片的前道工序。該設(shè)備采用了中微具有自主知識產(chǎn)權(quán)的電感耦合等離子體刻蝕技術(shù)和許多創(chuàng)新的功能,以幫助客戶達到芯片制造工藝的關(guān)鍵指標。
例如關(guān)鍵尺寸(CD)刻蝕的精準度、均勻性和重復性等。其創(chuàng)新的設(shè)計包括:完全對稱的反應(yīng)腔,超高的分子泵抽速;獨特的低電容耦合線圈設(shè)計和多區(qū)細分溫控靜電吸盤(ESC)。憑借這些特性和其他獨特功能,該設(shè)備將為7納米、5納米及更先進的半導體器件刻蝕應(yīng)用提供比其他同類設(shè)備更好的工藝加工能力,和更低的生產(chǎn)成本。
中微 Primo nanova?刻蝕機已獲得多家客戶訂單,設(shè)備產(chǎn)品已陸續(xù)付運。中微首臺Primo nanova?設(shè)備已在客戶生產(chǎn)線上正常運行,良率穩(wěn)定。目前公司正在和更多客戶合作,進行刻蝕評估。在中微提供了一系列電容耦合等離子體刻蝕設(shè)備之后,這一電感耦合等離子體刻蝕新設(shè)備大大增強了中微的刻蝕產(chǎn)品線,能涵蓋大多數(shù)芯片前段的刻蝕應(yīng)用。
當今芯片制造所采用的新材料、新的器件結(jié)構(gòu)、雙重模板以至四重模板工藝和其他新的技術(shù)正在推動器件尺度的不斷縮小,這使得芯片的制造越來越復雜。中微開發(fā)Primo nanova? 時,充分考慮了在這種苛刻的加工環(huán)境中,如何使刻蝕達到在晶圓片內(nèi)更好的刻蝕均勻性和實時的控制能力、為芯片制造提供更寬的工藝窗口,以達到客戶日益提高的技術(shù)要求,并實現(xiàn)較低的制造成本。
“Primo nanova?采用了當下最先進的等離子體刻蝕技術(shù),為前沿客戶提供更具創(chuàng)新、更靈活的解決方案?!敝形⒏笨偛眉娴入x子體刻蝕產(chǎn)品部總經(jīng)理倪圖強博士說道,“該設(shè)備不僅能夠用于多種導體刻蝕工藝,比如淺溝槽隔離刻蝕、多晶硅柵極刻蝕;同時可用于介質(zhì)刻蝕,如間隙壁刻蝕、掩??涛g、回刻蝕等,具有業(yè)界領(lǐng)先的生產(chǎn)率和卓越的晶圓內(nèi)加工性能。這項基于電感耦合等離子體的刻蝕技術(shù)既可以用于刻蝕垂直深孔,也可以用于刻蝕淺錐形輪廓。此外,由于這個設(shè)備占地面積小、減少了耗材的使用,有相當大的成本優(yōu)勢。我們非常高興看到客戶已經(jīng)從該設(shè)備投入生產(chǎn)中獲益?!?br /> (責任編輯:fqj)
-
刻蝕設(shè)備
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
28瀏覽量
9351 -
中微
+關(guān)注
關(guān)注
1文章
25瀏覽量
10589
發(fā)布評論請先 登錄
電感耦合等離子發(fā)射光譜法(ICP-OES)測定電池生產(chǎn)廢水中的金屬元素
中微公司重磅發(fā)布六大半導體設(shè)備新產(chǎn)品 覆蓋等離子體刻蝕(Etch)、原子層沉積(ALD)及外延(EPI)等關(guān)鍵
高端芯片制造裝備的“中國方案”:等離子體相似定律與尺度網(wǎng)絡(luò)突破
遠程等離子體刻蝕技術(shù)介紹
中微公司首臺金屬刻蝕設(shè)備付運
安泰高壓放大器在等離子體發(fā)生裝置研究中的應(yīng)用
半導體刻蝕工藝技術(shù)-icp介紹
中微公司推出12英寸晶圓邊緣刻蝕設(shè)備Primo Halona
等離子體光譜儀(ICP-OES):原理與多領(lǐng)域應(yīng)用剖析
等離子體蝕刻工藝對集成電路可靠性的影響
等離子體的一些基礎(chǔ)知識

中微發(fā)布了第一代電感耦合等離子體刻蝕設(shè)備
評論