一、JTAG的基本知識

JTAG是Joint Test Action Group的縮寫，是IEEE 1149.1標準。使用JTAG的優(yōu)點：JTAG的建立使得集成電路固定在PCB上，只通過邊界掃描便可以被測試。在ARM7TDMI處理器中，可以通過JTAG直接控制ARM的內(nèi)部總線、I/O口等信息，從而達到調(diào)試的目的。

二、ARM的JTAG調(diào)試結構

（1）Debug主控（Host）通常是運行有ARM公司或者第三方提供的調(diào)試軟件的PC機，常用的調(diào)試軟件有ARMSDT中的ARM Debug for Windows（ADW）、Linux下的arm-elf-gdb等。通過這些調(diào)試軟件，可以發(fā)送高級的ARM調(diào)試命令，如設置斷點、讀寫存儲器、單步跟蹤、全速運行等。

（2）協(xié)議轉換器（Protocol Converter）負責轉換Debug主控端發(fā)出的高級ARM調(diào)試命令為底層的和ARM內(nèi)核通信的JTAG命令。Debug主控端和協(xié)議轉換器之間的介質(zhì)可以有很多種，比如以太網(wǎng)、USB、RS-232、并口等。Debug主控端和協(xié)議轉換器之間的通信協(xié)議最典型的就是ARM公司提供的Angel標準，也可以是第三方廠家自己定義的標準。關于Angel的協(xié)議，可參考ARMSDT和ADS的相關文檔。典型的協(xié)議轉換器有：ARM公司的MulTI-ICE、Abatron公司的BDI、aiji公司的OpenlCE32、EPI公司的Jeeni等。

（3）ARM7TDMI的JTAG宏單元（Macrocell）主要包括3條JTAG掃描鏈（ScanChain） 和1個JTAG的控制TAP狀態(tài)機。

三、ARM7TDMI內(nèi)核的JTAG掃描鏈結構

ARM7TDMI內(nèi)核的JTAG掃描鏈結構主要包括3條JTAG掃描鏈：Scan Chain0、Scan Chain 1、Scan Chain2。

四、ARM7TDMI中通過JTAG對外設的訪問

作為ARM典型的調(diào)試手段，JTAG除了可以設置ARM的斷點以外，還可以對ARM的內(nèi)核進行控制，從而實現(xiàn)對外圍設備的讀/寫（比如下載程序到RAM或者FLASH空間）。通常在ARM7TDMI處理器中，JTAG對ARM外圍設備的訪問是通過對JTAG掃描鏈1的控制實現(xiàn)的。