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PLC的DI端口抗干擾電路設(shè)計方案

電子設(shè)計 ? 來源:面包板社區(qū) ? 作者:fzyiye ? 2021-02-21 10:09 ? 次閱讀
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作為PLC等工控系統(tǒng)上的標(biāo)準(zhǔn)配置,DI端口的功能特點(diǎn)我想也不需要在這里贅述。一般來說DI端口根據(jù)是否需要外接電源,分為有源、無源兩種;根據(jù)端口適用的電壓可分為高壓型(典型的如220VAC)和低壓型(24V等)。但是從電路的基本原理是幾乎都是相同的——使用光耦電路識別開關(guān)信號,一方面可以使內(nèi)部電路與外部電路隔離,另外一方面也可借用光耦進(jìn)行電平轉(zhuǎn)換。典型電路圖如下:

pIYBAGAxv8mAfnMHAAGkkd7q5fA474.png

圖1

在大部分場景條件下,上圖的電路設(shè)計中是沒有問題的,在實(shí)驗(yàn)室浪涌測試時也可以輕松通過正負(fù)2000的測試,但是如果現(xiàn)場更加復(fù)雜一點(diǎn),干擾更大一點(diǎn)的時候能,這種設(shè)計是否可行呢,我們用測試情況來說明:

o4YBAGAxv-6AMK-DAAFU6tupR30370.png

圖2

當(dāng)DI端口浪涌等級上升至3000V時,DI端口出現(xiàn)誤動作——光耦被誤導(dǎo)通了。

pIYBAGAxv_qAV03jAACpKZn3uF4553.png

黃色為原邊,綠色為副邊

圖3

其實(shí)我們只需要在原來電路上進(jìn)行一點(diǎn)小小的改進(jìn)就能顯著提高DI端口的抗干擾能力——在光耦的原邊并聯(lián)一個0.01uF的電容,進(jìn)過測試改進(jìn)后的DI電路浪涌測試可過3500V。

o4YBAGAxwCCAPIUzAACgX8fg1jQ309.png

圖4
編輯:hfy

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