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IGBT的短路測(cè)試

454398 ? 來(lái)源:alpha007 ? 作者:alpha007 ? 2022-11-15 16:51 ? 次閱讀
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來(lái)源:羅姆半導(dǎo)體社區(qū)

前言

我們說(shuō),IGBT的雙脈沖實(shí)驗(yàn)和短路實(shí)驗(yàn)一般都會(huì)在一個(gè)階段進(jìn)行,但是有的時(shí)候短路測(cè)試會(huì)被忽略,原因有些時(shí)候會(huì)直接對(duì)裝置直接實(shí)施短路測(cè)試,但是此時(shí)實(shí)際上并不是徹底和充分的。常見(jiàn)的情況有:

①?zèng)]有進(jìn)行IGBT短路實(shí)驗(yàn)

覺(jué)得這個(gè)實(shí)驗(yàn)風(fēng)險(xiǎn)太大,容易炸管子,損失太大或者覺(jué)得短路時(shí)電流非常大,這樣很恐怖。

②進(jìn)行了短路測(cè)試

但是測(cè)試時(shí)候的判斷標(biāo)準(zhǔn)較簡(jiǎn)單,對(duì)IGBT的短路行為沒(méi)有進(jìn)行較為仔細(xì)的觀察和考證。

這樣做可能會(huì)導(dǎo)致后期裝置出現(xiàn)由于IGBT短路相關(guān)導(dǎo)致的故障時(shí),排查和處理起來(lái)較為麻煩,所以在使用起初,認(rèn)真地對(duì)IGBT進(jìn)行短路測(cè)試是非常必要。

短路分為兩種:

橋臂內(nèi)短路(直通):



我們稱之為“一類短路”,一般為橋臂直通導(dǎo)致的,硬件或軟件失效造成的,此時(shí)短路回路中的電感量很小(100nH),一般我們會(huì)采用VCE(sat)檢測(cè)來(lái)實(shí)現(xiàn)短路保護(hù)。

橋臂間短路(大電感短路):



我們稱之為“二類短路”,一般為相間短路或者是相對(duì)地短路,此時(shí)短路回路中的電感較大(uH級(jí)別),可以使用VCE(sat)檢測(cè)或是使用霍爾檢測(cè)電流變化來(lái)實(shí)現(xiàn)短路保護(hù),這類短路中的電感量是不確定的。

一般我們所說(shuō)的短路測(cè)試是針對(duì)橋臂內(nèi)短路情形來(lái)說(shuō)的,下面就讓我們來(lái)了解下IGBT的短路測(cè)試到底是什么樣的。

2、短路測(cè)試

電網(wǎng)電壓經(jīng)過(guò)調(diào)壓器和接觸器,將母線電容電壓充到所需要的值,再斷開(kāi)接觸器。上管IGBT的門極被關(guān)斷,且上管用粗短的銅排進(jìn)行短路。對(duì)下管IGBT釋放一個(gè)單脈沖,直通就形成了。

短路測(cè)試中需要注意以下事項(xiàng):

①該測(cè)試的關(guān)注對(duì)象是電容組,母排,雜散電感,被測(cè)IGBT;

②短路回路中的電感量很低,所以上管的短路排的電感量可以極大地影響測(cè)量的結(jié)果,因此絕不可忽視“粗短銅排”的長(zhǎng)短和粗細(xì)(當(dāng)然,這里不一定非得使用銅排,電感量很低的導(dǎo)線也是可以的);

③短路測(cè)試的能量全部來(lái)自母排電容組,通常來(lái)說(shuō),雖然短路電流很大,但是因?yàn)闀r(shí)間極短,所以這個(gè)測(cè)試所消耗的能量很小,實(shí)驗(yàn)前后電容上的電壓不會(huì)有明顯變化;

④上管IGBT是被一直關(guān)斷的,但是這個(gè)器件不可或缺,因?yàn)橄?br />
管被關(guān)斷后,短路電流還需要由上管二極管續(xù)流;

⑤該測(cè)試需要測(cè)量三個(gè)物理量,分別是,下管的Vce,Vge,及Ic;

⑥電流探頭需要測(cè)量Ic的位置,而不是短銅排的電流,這兩個(gè)位置的電流波形是不同的;

⑦下管IGBT的脈沖需要嚴(yán)格控制,最開(kāi)始實(shí)驗(yàn)可以使用10us,然后逐步增加;

⑧環(huán)境溫度對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果有較大的影響,通常datasheet給出的高結(jié)溫的結(jié)果;對(duì)應(yīng)用者而言,常溫實(shí)驗(yàn)是比較現(xiàn)實(shí)的;但低溫時(shí)的短路測(cè)試會(huì)比較苛刻,如果系統(tǒng)規(guī)格有低溫要求時(shí),是有必要進(jìn)行測(cè)試的;

⑨在此實(shí)驗(yàn)前需要對(duì)直流母排的雜散電感有一定的評(píng)估,或者用雙脈沖測(cè)試方法對(duì)IGBT關(guān)斷時(shí)的電壓尖峰進(jìn)行評(píng)估,以把握好短路時(shí)的電壓尖峰,這個(gè)值可能會(huì)非常高;

短路測(cè)試步驟:

⑴在弱電情況下,確認(rèn)所發(fā)單脈沖的寬度;

⑵將母線電壓調(diào)至20~30V,發(fā)送一個(gè)單脈沖,此時(shí)也會(huì)發(fā)生短路,會(huì)有一定的電流,利用此步驟確認(rèn)電流探頭的方向及其他各物理量測(cè)量正確,同時(shí)確認(rèn)示波器能正確捕捉該瞬間;這個(gè)步驟會(huì)比較安全;

⑶短路測(cè)試時(shí),母線不宜過(guò)低,否則可能會(huì)見(jiàn)到一些奇異的震蕩;對(duì)于1200V的IGBT,母線為500V起;1700V的IGBT,母線為700V起;3300V的IGBT,1000V起;(最近遇到一個(gè)問(wèn)題:在做1000A/1700VIGBT模塊短路測(cè)試時(shí),母線電壓加到900V時(shí),模塊發(fā)生失效,暫時(shí)還沒(méi)有找到具體原因,等找到原因會(huì)再分享出來(lái)的)。

⑷母線加到額定點(diǎn),將進(jìn)線接觸器斷開(kāi),放出單脈沖,裝置會(huì)發(fā)出“咚”的一聲響,確認(rèn)示波器捕捉到該時(shí)刻;

⑸通常來(lái)說(shuō),如果一切都設(shè)置正確的話,短路測(cè)試是很容易成功的,但也可能由于某些細(xì)節(jié)沒(méi)有處理好,存在一定的幾率,該測(cè)試會(huì)失敗——這個(gè)IGBT會(huì)失效,并將電容的能量全部放掉,一般不會(huì)爆炸得很厲害;

⑹第一次發(fā)10us的脈沖實(shí)際上是一種嘗試性測(cè)試,其目的是,在盡量低風(fēng)險(xiǎn)的情況下,對(duì)設(shè)備的短路性能進(jìn)行最初步的摸底;

⑺如果第一次10us測(cè)試已經(jīng)發(fā)現(xiàn)波形有問(wèn)題,則需要整改;

⑻如果第一次10us測(cè)試發(fā)現(xiàn)IGB沒(méi)有發(fā)生退飽和現(xiàn)象,則可能意味著短路回路電感量太大,需要整改;

⑼如果第一次10us測(cè)試發(fā)現(xiàn)波形正常,可以脈沖延長(zhǎng)至12us,再做,再延長(zhǎng)到15us,再做,如果發(fā)現(xiàn)驅(qū)動(dòng)器釋放出來(lái)的脈沖不再增長(zhǎng),則意味著驅(qū)動(dòng)器對(duì)IGBT進(jìn)行了保護(hù),否則,意味著驅(qū)動(dòng)器保護(hù)電路設(shè)置有問(wèn)題,需要整改;

實(shí)例簡(jiǎn)述

下面是某模塊短路測(cè)試的實(shí)驗(yàn)結(jié)果:


ⅰ 用電流的上升率di/dt求出短路回路中的全部電感量,再減去之前測(cè)出的雜散電感,就能得到插入的銅排的感量;

ⅱ 關(guān)注短路電流的最高值,與datasheet中標(biāo)注的值進(jìn)行比較,是否過(guò)高,電流是否有震蕩;

ⅲ 從IGBT退飽和算起,至電流被關(guān)斷,期間的時(shí)間是否控制在10us內(nèi),這個(gè)條件是不可以妥協(xié)的;

ⅳ 短路電流的峰值與門極鉗位電路有很大的關(guān)系,如果門極鉗位性能不好,短路電流峰值會(huì)很高;(門極鉗位電路出現(xiàn)的原因是因?yàn)槊桌招?yīng)的存在,我們上篇文章有提到過(guò),在IGBT短路時(shí),米勒電容會(huì)影響門極電壓,導(dǎo)致短路電流激增,使IGBT承擔(dān)風(fēng)險(xiǎn)。越大容量的IGBT,米勒效應(yīng)越強(qiáng),門極鉗位電路越重要!)

ⅴ 關(guān)注Vce電壓,需要多久才退飽和,在關(guān)斷時(shí)刻時(shí),Vce電壓尖峰有多高,是否存在危險(xiǎn),有源鉗位是否動(dòng)作;

ⅵ 門極電壓的評(píng)判需要比較謹(jǐn)慎,因?yàn)檫@個(gè)測(cè)試di/dt及du/dt都很大,門極探頭很容易測(cè)不準(zhǔn)。

第二種測(cè)試方法

下面是第二種測(cè)試方法:

給上管IGBT驅(qū)動(dòng)器一個(gè)常高信號(hào),使上管保持開(kāi)通,再給下管發(fā)單脈沖。這個(gè)實(shí)驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)是,確保短路回路中的電感量就是直流母線的雜散電感,足夠低。當(dāng)然,這可能談不上是第二種方法,只是優(yōu)化了短路實(shí)現(xiàn)的條件,將上面的“粗短銅排”的電感帶來(lái)的影響消除了。

上面提到最近實(shí)驗(yàn)中遇到的一個(gè)問(wèn)題,就是測(cè)1000A/1700V模塊時(shí),母線加到900V時(shí)模塊失效,失效時(shí)的波形如下:

我們可以看到,此時(shí)的電流Ic瞬間沖得很高,門極電壓也很大,伴隨的現(xiàn)象是,門極驅(qū)動(dòng)電路那塊發(fā)生了嚴(yán)重的燒毀,具體原因還在分析。

審核編輯 黃昊宇

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