推動高能效創(chuàng)新的安森美半導體 （ON Semiconductor，美國納斯達克上市代號：ON），推出了由該公司硅光電倍增管 （SiPM） 技術實現(xiàn)的單點直接飛行時間 （dToF） 的激光雷達方案。

光檢測和測距或激光雷達的應用在所有領域都在增長，包括機器人和強制要求毫米范圍精度的工業(yè)接近感知。它通?；赿ToF方法，測量通常在近紅外 （NIR） 波長范圍內的一個光脈沖往返于一個物體所需的時間。

盡管原理很簡單，但其應用可能會帶來挑戰(zhàn)性，例如周圍太陽光較強等環(huán)境因素。為了準確確定范圍，接收器需要捕獲盡可能多的信號。就響應時間和靈敏度而言，傳統(tǒng)的光電二極管在這方面會受到影響。安森美半導體開發(fā)的硅光電倍增管 （SiPM） 傳感器提供更快的響應時間和高檢測效率，克服了這些不足。該參考平臺使用安森美半導體第二代SiPM 傳感器RB系列，在紅色和NIR范圍都帶來更高的性能。

安森美半導體開發(fā)的SiPM dToF激光雷達平臺提供低成本、單點激光雷達的完整方案，原始設備制造商 （OEM） 可靈活調整并投入生產(chǎn)，以創(chuàng)建工業(yè)測距應用。它包括NIR激光二極管、SiPM傳感器和光學器件，以及將檢測到的信號轉換為經(jīng)過時間，以及將經(jīng)過時間轉換為距離所需的數(shù)字處理。

為加快客戶的上市時間，安森美半導體提供該參考平臺的所有設計數(shù)據(jù)，涵蓋原理圖、物料單 （BoM） 、gerber文件和PCB設計文件。客戶還可以訪問基于PC的圖形用戶接口（GUI），提供隨時間變化的測量結果的圖形。生成的直方圖進一步證明該系統(tǒng)在測距、碰撞檢測和3D制圖等應用的能力。

安森美半導體物聯(lián)網(wǎng)主管Wiren Perera說：“使用dToF激光雷達進行測距，滿足了許多應用的關鍵需求，從自主導航到地圖繪制到監(jiān)控。但是，開發(fā)基于dToF激光雷達的系統(tǒng)可能具有挑戰(zhàn)性。我司的這個平臺顯然證實這領先技術的效用。有了經(jīng)驗證的設計，客戶就能更快地進行概念驗證，并迅速將產(chǎn)品推向市場?！?/p>

SiPM dToF激光雷達平臺可檢測10厘米至23米距離的物體。使用提供的GUI提供開箱即用的體驗，使工程師可以立即開始評估該技術。該設計已獲得美國食品和藥物管理局 （FDA） 一類認證，并符合IEC / EN 60825-1:2014和21 CFR 1040．10 / 1040．11激光安全標準。

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