如今，半導(dǎo)體企業(yè)愈發(fā)關(guān)注產(chǎn)品上市前的測(cè)試環(huán)節(jié)。NI采用顛覆性的半導(dǎo)體測(cè)試方案，助力企業(yè)降低測(cè)試成本以及加速產(chǎn)品上市，這就是我們常說(shuō)的“一個(gè)平臺(tái)”戰(zhàn)略，從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)測(cè)試，只需一個(gè)平臺(tái)。安森美、英飛凌、高通等公司都在采用這個(gè)測(cè)試方案，一起來(lái)了解下吧~

半導(dǎo)體測(cè)試是NI重點(diǎn)發(fā)力的一個(gè)領(lǐng)域，NI推出了一系列測(cè)試方案，同時(shí)，NI專家還編制了技術(shù)資料《半導(dǎo)體測(cè)試》供大家學(xué)習(xí)參考，內(nèi)容包含解決方案、核心產(chǎn)品、客戶案例，由淺入深比較全面地介紹了NI半導(dǎo)體測(cè)試方案，可以說(shuō)，了解NI半導(dǎo)體測(cè)試方案，看這份秘籍就夠了。

半導(dǎo)體測(cè)試是NI的一個(gè)重要戰(zhàn)略領(lǐng)域，因此我們一直在認(rèn)真傾聽客戶的心聲。也正因?yàn)槿绱耍覀儼l(fā)現(xiàn)芯片制造商需要全新的革命性方法來(lái)改進(jìn)半導(dǎo)體測(cè)試。而且我們也認(rèn)為，現(xiàn)在正是大膽拼搏，變革測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、部署和維護(hù)方法的時(shí)候。

半導(dǎo)體量產(chǎn)測(cè)試?yán)鳌狽I 半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)

◆ STS是一系列基于NI技術(shù)且適用于量產(chǎn)環(huán)境的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)。STS在完全封閉的測(cè)試頭(test head)里面集成了NI PXI平臺(tái)、TestStand測(cè)試管理軟件以及LabVIEW圖形化編程工具；

◆這些系統(tǒng)采用“集成到測(cè)試頭”(tester in a head)的設(shè)計(jì)，將量產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)的主要組件全部集成在測(cè)試頭中，包括系統(tǒng)控制器、直流、交流和射頻儀器；

◆ 待測(cè)設(shè)備連接以及 handler/prober docking機(jī)制。如此緊湊的設(shè)計(jì)大幅減小了占地空間，降低了功耗，減輕了傳統(tǒng)ATE測(cè)試系統(tǒng)的維護(hù)負(fù)擔(dān)，從而節(jié)約了測(cè)試成本。此外，STS采用開放的模塊化設(shè)計(jì)，使您可以利用最新的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)PXI模塊，連接更多的儀器，獲取更強(qiáng)大的計(jì)算能力。

現(xiàn)成即用的交互式軟件

數(shù)字pattern編輯器是一款用于導(dǎo)入、編輯、調(diào)試和載入測(cè)試pattern的交互式工具。編輯器包含Shmoo繪圖等工具，可幫助您更深入地了解不同條件下的DUT性能。您還可以使用豐富的調(diào)試功能，覆蓋pattern的故障，或使用數(shù)字示波器工具查看pin數(shù)據(jù)。該軟件還集成了芯片pin圖、規(guī)格參數(shù)和pattern的編輯表，可讓您開發(fā)、編輯或?qū)霐?shù)字測(cè)試向量和pattern。

設(shè)備規(guī)范

所有設(shè)備都擁有或需要一個(gè)規(guī)范來(lái)規(guī)定它們的使用方式。測(cè)試工程師可以定義這些規(guī)范，并在數(shù)字 Pattern編輯器中將規(guī)范的參數(shù)用作 為公式中的變量。

數(shù)字示波器工具

該工具使用pattern、時(shí)序集(timing set)和電平，逐步更新數(shù)字波形實(shí)際模擬電平的二維圖。

Shmoo工具

Shmoo工具可提供動(dòng)態(tài)更新的合格/失敗值強(qiáng)度圖，而且可一次性 掃描兩個(gè)變量，包括電平、電壓、 電流、邊沿或規(guī)格。

從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)測(cè)試，為何只需一個(gè)平臺(tái)

過(guò)去IC較為簡(jiǎn)單且集成度較低，傳統(tǒng)功能固定的臺(tái)式儀器就足以滿足實(shí)驗(yàn)室的需求。但隨著集成度不斷提高，測(cè)試要求也隨之增加，所需的儀器也越來(lái)越多。我們看到的驗(yàn)證測(cè)試臺(tái)通常包含了眾多儀器，這種測(cè)試臺(tái)大大受限于可用的占地面積和機(jī)架空間。而且空間并非唯一的問題。臺(tái)式儀器通常設(shè)計(jì)為獨(dú)立工作而非協(xié)同運(yùn)行；即使通過(guò) GPIB 或以太網(wǎng)進(jìn)行集成 ，也無(wú)法實(shí)現(xiàn)所需的高數(shù)據(jù)吞吐量、低延遲通信和緊密同步。

另一方面，量產(chǎn)ATE主要是用于滿足對(duì)高度集成的微處理器、存儲(chǔ)器和復(fù)雜SOC的需求。但是對(duì)于RF和混合信號(hào)IC，量產(chǎn)ATE很難進(jìn)行擴(kuò)展，而且通常無(wú)法提供所需的功能?？傮w而言，實(shí)驗(yàn)室的臺(tái)式儀器和量產(chǎn)ATE等傳統(tǒng)方法正在給芯片供應(yīng)商帶來(lái)業(yè)務(wù)風(fēng)險(xiǎn)。此外，代碼模塊無(wú)法復(fù)用或難以充分利用、培訓(xùn)“學(xué)用脫節(jié)”等都會(huì)導(dǎo)致效率低下，從而影響總測(cè)試成 本和產(chǎn)品上市時(shí)間。鑒于上述種種情況，是時(shí)候考慮基于PXI和NI軟件平臺(tái)的整體測(cè)試方法了。

最后，再附上客戶成功案例部分供參考。

以上為秘籍的部分內(nèi)容。若您對(duì)于半導(dǎo)體測(cè)試方案還有疑問，或想進(jìn)一步了解NI半導(dǎo)體測(cè)試方案硬件儀器、測(cè)試系統(tǒng)和客戶成功案例的完整秘籍，請(qǐng)您點(diǎn)擊閱讀原文或掃描二維碼立即下載~

原文標(biāo)題：從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)測(cè)試只需一個(gè)平臺(tái)？安森美、英飛凌、高通都在用這個(gè)方案

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