作者:朱卓婭,程劍平,魏同立
本文提出了一種應(yīng)用于電流型數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的輸出電路。在對(duì)輸出級(jí)的功能和穩(wěn)定性作了分析計(jì)算后,設(shè)計(jì)了一種高增益、低失真的運(yùn)放(OP)電路。運(yùn)放模擬的直流增益為108dB,環(huán)路帶寬為30MHz,環(huán)路相位裕量為60度,在輸出為1rms時(shí),THD+N可達(dá)到104.8dB。和傳統(tǒng)的開關(guān)電容(SC)輸出級(jí)相比,該電路具有面積小、噪聲低等優(yōu)點(diǎn),可應(yīng)用于高精度的電流型DAC。
近年來,電子通訊市場(chǎng)的發(fā)展極其迅速,這給系統(tǒng)中重要的模塊—數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)帶來了發(fā)展機(jī)遇,同時(shí)也對(duì)DAC設(shè)計(jì)者提出了同時(shí)兼顧高精度和高速度的挑戰(zhàn)。
電流型DAC是基于一系列相互匹配的電流鏡,由輸入數(shù)據(jù)控制電流開關(guān)對(duì),將電流導(dǎo)向輸出端或者互補(bǔ)輸出端,因此它具有可以直接驅(qū)動(dòng)負(fù)載、速度快、功耗低、面積小等優(yōu)點(diǎn),被認(rèn)為是一個(gè)解決高速度要求的較佳方案。為了提高轉(zhuǎn)換精度,通常可以采用過采樣(Oversampling)和sigma-delta(ΣΔ)調(diào)制技術(shù)。
在電流型DAC設(shè)計(jì)中,輸出級(jí)設(shè)計(jì)很重要,它的優(yōu)劣將直接影響到系統(tǒng)性能指標(biāo)。如圖1所示,典型的ΣΔ電流型DAC中包含了一個(gè)數(shù)字插值濾波器、一個(gè)ΣΔ調(diào)制器、一個(gè)內(nèi)嵌的電流型DAC以及輸出級(jí)電路。常用的輸出電路由開關(guān)電容(SC)濾波器實(shí)現(xiàn),但從電路設(shè)計(jì)成本的角度,它有很明顯的缺點(diǎn)。這是因?yàn)镾C濾波器的噪聲主要由熱噪聲(kT)/C決定,所以要提高信噪比就意味著需要更大的片內(nèi)電容,這不僅大大增加了設(shè)計(jì)成本,而且在某些應(yīng)用場(chǎng)合,根本無法實(shí)現(xiàn)。而采用連續(xù)輸出級(jí)的ΣΔDAC,就可以避免SC電路熱噪聲的影響。
本文在對(duì)電流型DAC輸出級(jí)穩(wěn)定性詳細(xì)分析的基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)了一種低失真的運(yùn)放電路,由于避免了采用大容量電容,芯片實(shí)現(xiàn)面積減小,同時(shí)又提高了系統(tǒng)信噪比,可廣泛應(yīng)用于電流型DAC輸出電路中。
輸出級(jí)原理及穩(wěn)定性分析
由圖1可知,為了將電流型DAC的輸出電流轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)輸出,輸出級(jí)要能實(shí)現(xiàn)電流到電壓的轉(zhuǎn)換(IVC)。在實(shí)際應(yīng)用中,電流型DAC常采用全差分電流歸零(RTZ)電路,以減小碼間干擾和降低對(duì)時(shí)鐘上升延和下降延的匹配要求。相應(yīng)地,輸出電路也需要采用差分結(jié)構(gòu)。

圖1典型的ΣΔ電流型DAC系統(tǒng)

圖2電流型DAC輸出級(jí)的IVC原理
為了簡(jiǎn)化分析,圖2給出了能實(shí)現(xiàn)IVC的輸出級(jí)原理圖。圖2中,虛線框內(nèi)是電流型DAC的等效電路,其中,Ro、Co分別是電流型DAC的輸出電阻和輸出電容,Rf、Cf分別是反饋電阻和反饋電容,Vref是外接基準(zhǔn)電壓。假設(shè)電流型DAC的輸出阻抗為無窮大,運(yùn)放為理想情況,那么輸出級(jí)轉(zhuǎn)移函數(shù)為:
(1)
由式(1)可見,電流轉(zhuǎn)換到電壓可以由Rf實(shí)現(xiàn)。
圖2中加入了反饋電容Cf,這是為了使輸出級(jí)電路穩(wěn)定,下面給予證明。在無反饋電容Cf時(shí),從圖3給出的開環(huán)小信號(hào)等效電路可得到,電路的輸入輸出關(guān)系為:

(2)

圖3無Cf時(shí)圖2對(duì)應(yīng)的開環(huán)小信號(hào)電路
從式(2)可看出,由于Rf的加入,結(jié)合DAC的輸出電容Co,將會(huì)引入新的極點(diǎn):

(3)
這將會(huì)引起電路不穩(wěn)定。當(dāng)在回路中加入Cf時(shí),輸入輸出關(guān)系變?yōu)椋?/p>

(4)
式中,零、極點(diǎn)分別為:

(5)
從式(5)可以看出,如果加入Cf,并保證: RfCf=RoCo(6)時(shí),零點(diǎn)z可以和極點(diǎn)px2相互抵消,電路穩(wěn)定性提高。此外,Cf還能和Rf實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單的濾波。如果需要進(jìn)一步的濾波,則可以在芯片外部實(shí)現(xiàn)。
運(yùn)放設(shè)計(jì)
結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
圖2所示的輸出級(jí)中,最關(guān)鍵的是運(yùn)放設(shè)計(jì),圖4是運(yùn)放電路圖。運(yùn)放的一端接基準(zhǔn)電壓Vref,以提供共模電壓,另一端接電流型DAC的輸出。設(shè)計(jì)中運(yùn)放必須具有足夠高的增益,這樣才能保證其同相和反相輸入端電壓差小,也就是使DAC中電流源的漏源極電壓Vds和Vref幾乎相等,電流源偏置電路的電流就可以被精確復(fù)制,從而使內(nèi)部DAC獲得較高的精度。另外考慮到寬輸出擺幅的要求,運(yùn)放采用了兩級(jí)結(jié)構(gòu),為了實(shí)現(xiàn)高于100dB的增益,并且在5V電源下,獲得較好的信噪比,第一級(jí)采用了Folded Cascode結(jié)構(gòu)。
運(yùn)放的輸出級(jí)采用了共源放大器,以獲得較高的輸出擺幅,但其缺點(diǎn)是當(dāng)負(fù)載電阻較小時(shí),M12的偏置電流有可能下降。因此,在運(yùn)放中加入了一個(gè)由M3“M10構(gòu)成的gm穩(wěn)定電路。當(dāng)M12的偏置電流下降時(shí),M3和M12的柵電壓下降,使得流過M3的電流降低,由于M9的電流保持恒定,所以此時(shí)流過M6的電流增大,再通過M11的鏡像,使M12的電流上升,從而起到了補(bǔ)償作用。設(shè)計(jì)中為了減小失真,gm穩(wěn)定環(huán)路的跨導(dǎo)需要精心設(shè)計(jì)。
小信號(hào)分析
圖4所示的運(yùn)放是兩級(jí)結(jié)構(gòu),為了提高穩(wěn)定性,加入Miller電容Cc進(jìn)行頻率補(bǔ)償。為排除由Miller補(bǔ)償所產(chǎn)生右半平面零點(diǎn)的影響,加入了電阻Rz。為了確定運(yùn)放的直流增益、單位增益帶寬以及Cc和Rz的取值,圖5給出了運(yùn)放的小信號(hào)等效圖。由圖5可計(jì)算出運(yùn)放的直流增益為:A(0)=gm1gmmultR1RL (7)

圖4輸出級(jí)中運(yùn)放的電路圖

圖5運(yùn)放的小信號(hào)等效圖
其中g(shù)m1為運(yùn)放第一級(jí)中M1跨導(dǎo),

,k、m、h如圖4中所示,有

其中W和L為相應(yīng)MOS管的寬和長(zhǎng)。并得到運(yùn)放的單位增益帶寬為:
GB=gm1/Cc (8)
為了消除Cc造成的右半平面零點(diǎn)的影響,可令:
(9)
即將零點(diǎn)推至無窮遠(yuǎn)處,保證了電路的穩(wěn)定。此時(shí),運(yùn)放的轉(zhuǎn)移特性可以表示為:

(10)
為了獲得60度的相位裕量,并且A(0)很大時(shí),由式(10)可以得到:

(11)
設(shè)p3”pn》》GB,則有:
(12)
由式(12)得,|p2|》1.73GB。設(shè)計(jì)時(shí)取|p2|》2GB,所以Cc取值應(yīng)滿足:
(13)
應(yīng)該指出,上述分析并沒考慮運(yùn)放第一級(jí)和輸出級(jí)的鏡像零極點(diǎn)。如果考慮第一級(jí)的鏡像零極點(diǎn):

(14)
式中,C3為圖4中A點(diǎn)的寄生電容。從式(14)可知,z3部分抵消了p3的影響。設(shè)計(jì)時(shí)需要使p3和z3的值大于GB。
再考慮到運(yùn)放輸出級(jí)的鏡像零極點(diǎn)。由如圖6所示的小信號(hào)原理圖可知,輸入和輸出關(guān)系為:

(15)
其中g(shù)mo為輸出級(jí)跨導(dǎo),并有:

(16)
由式(16)可知,運(yùn)放輸出級(jí)中電流鏡的鏡像極點(diǎn)將影響gmo,從而影響運(yùn)放的帶寬和相位裕量,設(shè)計(jì)時(shí)需要通過模擬進(jìn)行調(diào)整。

圖6運(yùn)放輸出級(jí)的等效小信號(hào)原理圖
噪聲分析
運(yùn)放結(jié)構(gòu)中,來自第二級(jí)的噪聲在除以第一級(jí)增益后可以忽略,主要考慮第一級(jí)噪聲,總噪聲則為:

(17)
其中,k為玻爾茲曼常數(shù),T為絕對(duì)溫度,μ為器件載流子遷移率,Cox為單位面積氧化層電容,ID為MOS管的漏源極電流,K為與工藝有關(guān)的常數(shù)。式(17)中,前一部分為熱噪聲,而后一部分為閃爍噪聲。為了盡可能地降低運(yùn)放噪聲,設(shè)計(jì)時(shí)可根據(jù)式(17),來選擇輸入級(jí)M1和M2的寬長(zhǎng)比,并且進(jìn)一步確定M14、M15以及M20、M21管的尺寸。
模擬結(jié)果
采用0.6μm工藝進(jìn)行Hspice模擬驗(yàn)證,根據(jù)應(yīng)用要求,模擬時(shí)采用電源電壓為5V,負(fù)載電阻為1kΩ。圖7為運(yùn)放的環(huán)路頻率特性。由上圖可見,運(yùn)放的直流增益為108dB,環(huán)路帶寬為30MHz,環(huán)路相位裕量為60度,這表明電路是穩(wěn)定的。
圖8為輸出噪聲電壓(模擬時(shí)積分到100GHz),其值為29μVrms。此外,在輸出擺幅為±1.4V時(shí),模擬得到運(yùn)放的諧波失真電壓(至9次諧波)為3.62μVrms。因此,本文所設(shè)計(jì)的運(yùn)放的THD+N高達(dá)104.8dB。

圖7 環(huán)路頻率特性

圖8 運(yùn)放的輸出噪聲電壓
結(jié)論
設(shè)計(jì)了一種應(yīng)用于電流型DAC的輸出電路。在詳細(xì)分析輸出級(jí)穩(wěn)定性的基礎(chǔ)上,對(duì)其中的運(yùn)放電路進(jìn)行了重點(diǎn)設(shè)計(jì),模擬結(jié)果表明運(yùn)放在輸出為1rms時(shí),THD+N為104.8dB;直流增益為108dB,環(huán)路帶寬為30MHz,環(huán)路相位裕量為60度。此電路具有占用芯片面積小、噪聲低等優(yōu)點(diǎn),適用于高精度電流型DAC的輸出級(jí)中。
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