SMD鋁電解電容失效原因分析：

一、電參數(shù)惡化

①電容量下降與損耗增大

鋁電解電容器的電容量在工作早期緩慢下降，這是由于負(fù)荷過程中工作電解液不斷修補(bǔ)并增厚陽極氧化膜所致。鋁電解電容器在使用后期，由于電解液耗損較多、溶液變稠，電阻率因黏度增大而上升，使工作電解質(zhì)的等效串聯(lián)電阻增大，導(dǎo)致電容器損耗明顯增大。同時，黏度增大的電解液難于充分接觸經(jīng)腐蝕處理的凹凸不平鋁箔表面上的氧化膜層，這樣就使鋁電解電容器的極板有效面積減小，引起電容量急劇下降。這也是電容器使用壽命臨近結(jié)束的表現(xiàn)。

此外，如果工作電解液在低溫下黏度增大過多，也會造成損耗增大與電容量急劇下降的后果。在使用上過溫，過紋波電流都有可能使電容量下降與損耗增大。

②漏電流增加

漏電流增加往往導(dǎo)致鋁電解電容器失效。工藝水平低，氧化膜損傷與沾污嚴(yán)重，工作電解液配方不佳，原材料純度不高，電解液的化學(xué)性質(zhì)與電化學(xué)性質(zhì)難以長期穩(wěn)定，鋁箔純度不高，雜質(zhì)含量多等等這些因素均可能造成漏電流超差失效。鋁電解電容器中氯離子沾污嚴(yán)重，漏電流導(dǎo)致沾污部位氧化膜分解，造成穿孔，促使電流進(jìn)一步增大?？傊?，鋁箔中金屬雜質(zhì)的存在，會使鋁電解電容器漏電流增大，從而縮短電容器的壽命.在使用上過壓等有可能使電容的漏電流增加。

4.5mm高貼片電解電容

二、爆炸擊穿

鋁電解電容器擊穿是由于陽極氧化鋁介質(zhì)膜破裂，導(dǎo)致電解液直接與陽極接觸而造成的。氧化鋁膜可能因各種材料，工藝或環(huán)境條件方面的原因而受到局部損傷。在外加電場的作用下工作電解液提供的氧離子可在損傷部位重新形成氧化膜，使陽極氧化膜得以填平修復(fù)。但是如果在損傷部位存在雜質(zhì)離子或其他缺陷，使填平修復(fù)工作無法完善，則在陽極氧化膜上會留下微孔，甚至可能成為穿透孔，使鋁電解電容器擊穿。

此外，隨著使用和儲存時間的增長，電解液中溶劑逐漸消耗和揮發(fā)，使溶液酸值上升，在儲存過程中對氧化膜層發(fā)生腐蝕作用。同時，由于電解液老化與干涸，在電場作用下已無法提供氧離子修補(bǔ)氧化膜，從而喪失了自愈作用，氧化膜一經(jīng)損壞就會導(dǎo)致電容器擊穿。工藝缺陷也是鋁電解電容器擊穿的一個主要原因。如鉚接工藝不佳時，引出箔條上的毛剌嚴(yán)重剌傷氧化膜，刺傷部位漏電流很大，局部過熱使電容器產(chǎn)生熱擊穿。在使用上過溫，過紋波電流或過機(jī)械應(yīng)力都有可能使電容擊穿失效。

三、開路

鋁電解電容器在高溫或潮熱環(huán)境中長期工作時可能出現(xiàn)開路失效，其原因在于陽極引出箔片遭受電化學(xué)腐蝕而斷裂。對于高壓大容量電容器，這種失效模式較多。此外，陽極引出箔片和陽極箔鉚接后，未經(jīng)充分平，則接觸不良會使電容器出現(xiàn)間歇開路。在使用上，過機(jī)械應(yīng)力有可能使電容開路。

四、燒毀

鋁電解電容發(fā)生燒毀，一般是以下原因引起：

①正負(fù)極接反 鋁電解電容器是一種有正負(fù)極的電容器，如果安裝鋁電解電容器時正負(fù)極接錯就會發(fā)生電容燒毀現(xiàn)象；②耐壓不夠 當(dāng)電壓超過鋁電解電容器的本身的耐壓值時，也會發(fā)生電容燒毀的現(xiàn)象；③質(zhì)量不合格 一些生產(chǎn)廠家生產(chǎn)的鋁電解電容不合格，也可能引發(fā)電容的燒毀等。

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