企業(yè)級(jí)SSD作為數(shù)字信息時(shí)代的主要存儲(chǔ)介質(zhì)，技術(shù)水準(zhǔn)要求相當(dāng)苛刻，浪潮在核心部件SSD領(lǐng)域歷經(jīng)多年探索，研發(fā)和打磨，推出了NVMe SSD產(chǎn)品，已經(jīng)在互聯(lián)網(wǎng)，通信，金融、政府、企業(yè)等關(guān)鍵領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)規(guī)模部署，并得到了市場(chǎng)的檢驗(yàn)和認(rèn)可，浪潮自研SSD高可靠性的高端品質(zhì)是科技創(chuàng)新與工匠精神的極致追求。

NAND Flash作為SSD的關(guān)鍵核心器件，成本占整體成本的比例高達(dá)80%以上，對(duì)NAND特性分析成為SSD產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵核心要素，獲取輸出精準(zhǔn)的NAND驗(yàn)證參數(shù)對(duì)SSD的可靠性和性能至關(guān)重要。

MTBF（Mean time between failures，平均無(wú)故障時(shí)間）和UBER（Uncorrectable Bit Error Rate，不可修復(fù)的錯(cuò)誤比特率）是SSD可靠性上最兩個(gè)重要指標(biāo)，分別對(duì)應(yīng)RDT（Reliability Demonstration Test，可靠度驗(yàn)證測(cè)試）測(cè)試的Quarlity Test和Endurance Test，UBER主要驗(yàn)證NAND壽命和糾錯(cuò)能力，MTBF也包含糾錯(cuò)能力。糾錯(cuò)能力除NAND本身質(zhì)量外，產(chǎn)品可靠性主要依賴(lài)于NAND糾錯(cuò)參數(shù)的準(zhǔn)確性，而NAND特性驗(yàn)證基于NAND治具平臺(tái)輸出NAND參數(shù)供FW固件使用，參數(shù)中就包含糾錯(cuò)參數(shù)，同時(shí)也為SSD性能（主要是QoS）提供參數(shù)支持，比如糾錯(cuò)參數(shù)的成功率，Suspend相關(guān)參數(shù)功能等。

浪潮為獲得產(chǎn)品的超高可靠性，面向SLC/MLC/TLC/QLC等閃存顆粒自主開(kāi)發(fā)出了NAND Prober HX9000系列分析治具，可以提供介質(zhì)特性分析、壽命檢測(cè)、穩(wěn)定性追蹤的NAND特性測(cè)試項(xiàng)目，采用了行業(yè)領(lǐng)先的智能高溫控制器和自主創(chuàng)新的P/E Block讀寫(xiě)算法并行收集閃存介質(zhì)的實(shí)時(shí)狀態(tài)，支持NAND介質(zhì)High Level指令集和Low Level指令集，圖形化界面，全方位監(jiān)測(cè)介質(zhì)實(shí)時(shí)狀態(tài)，通過(guò)開(kāi)放的API（Application Programming Interface，應(yīng)用程序接口）接口，為用戶(hù)提供自定義的介質(zhì)特性控制、監(jiān)測(cè)和狀態(tài)數(shù)據(jù)收集服務(wù)，設(shè)備購(gòu)置和擁有成本有效的進(jìn)行了降低。

敏捷開(kāi)放

使測(cè)試更全更加精準(zhǔn)

inspur

采用可靈活敏捷替換的NAND Socket槽，支持多個(gè)品牌和SLC/MLC/TLC/QLC多種類(lèi)型NAND Flash存儲(chǔ)顆粒。

命令與隨機(jī)數(shù)支持更靈活，針對(duì)NAND介質(zhì)特性同時(shí)支持高級(jí)指令（High level commands）和低級(jí)指令（Low level commands），可以自由按需擴(kuò)展，動(dòng)態(tài)生成匹配芯片的隨機(jī)數(shù)，特性測(cè)試結(jié)果更精準(zhǔn)。

特性收集API接口更開(kāi)放，根據(jù)特性分析需求定向收集狀態(tài)數(shù)據(jù)，上位機(jī)和下位機(jī)源碼自主設(shè)計(jì)研發(fā)，全開(kāi)放的API可以靈活收集狀態(tài)數(shù)據(jù)和可借鑒的特性分析經(jīng)驗(yàn)。

精準(zhǔn)溫控，保障品質(zhì)

inspur

市面上NAND分析治具均存在傳感器與NAND溫度不相符的情況，導(dǎo)致不能精準(zhǔn)對(duì)產(chǎn)品可靠性進(jìn)行模擬評(píng)估。浪潮通過(guò)建立傳感器溫度與NAND溫度對(duì)應(yīng)表和動(dòng)態(tài)調(diào)溫成功解決了此問(wèn)題，數(shù)顯溫度控制器智能設(shè)定NAND環(huán)境溫度，針對(duì)NAND溫控精細(xì)化需求定制溫度控制器，實(shí)現(xiàn)智能設(shè)定、實(shí)時(shí)監(jiān)控NAND Flash環(huán)境溫度，更精準(zhǔn)地去評(píng)估SSD的可靠性。

數(shù)字顯示

溫控芯片

精益求精

可靠性提升30%

inspur

浪潮自研SSD通過(guò)自研NAND治具精準(zhǔn)的獲取狀態(tài)數(shù)據(jù)和靈活的NAND特性算法分析模式，投入上千塊SSD進(jìn)行真實(shí)測(cè)評(píng)，全面的NAND參數(shù)掌握，創(chuàng)新的特性分析算法和豐富的產(chǎn)品化經(jīng)驗(yàn)，提前規(guī)避整盤(pán)的設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)，不斷突破產(chǎn)品可靠性指標(biāo)，使得平均無(wú)故障時(shí)間MTBF達(dá)到了260萬(wàn)小時(shí)，可靠性相比業(yè)內(nèi)其他產(chǎn)品提升30%。

浪潮SSD產(chǎn)品開(kāi)發(fā)或NAND Flash主控芯片研發(fā)中通過(guò)使用NAND Prober測(cè)試分析儀，提升了閃存主控芯片的設(shè)計(jì)、性能優(yōu)化、介質(zhì)壽命管控效率，有效提升主控芯片特性、優(yōu)化SSD整盤(pán)性能和可靠性，同時(shí)可以用于存儲(chǔ)介質(zhì)的新特性和新材料研究，支撐對(duì)傳統(tǒng)介質(zhì)新特性和新介質(zhì)新特性的測(cè)試、收集和分析，為未來(lái)產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)提供了重要參考。

未來(lái)浪潮存儲(chǔ)將秉承“云存智用 運(yùn)籌新數(shù)據(jù)”的存儲(chǔ)理念，在存儲(chǔ)基礎(chǔ)領(lǐng)域不斷下沉研發(fā)創(chuàng)新，掌握底層硬件關(guān)鍵核心技術(shù)，以領(lǐng)先技術(shù)助力關(guān)鍵行業(yè)實(shí)現(xiàn)突破應(yīng)用，全面釋放數(shù)據(jù)價(jià)值，加速數(shù)字化轉(zhuǎn)型。

原文標(biāo)題：攻堅(jiān)核心部件，浪潮存儲(chǔ)重新定義SSD可靠性

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