上一篇提到了《信息技術(shù)設(shè)備,多媒體設(shè)備和接收機(jī) 電磁兼容 第1部分:發(fā)射要求》GB/T 9254.1-2021(對應(yīng)的是CISPR32-2015)中針對信息技術(shù)設(shè)備,多媒體設(shè)備的數(shù)字端口(網(wǎng)口)的傳導(dǎo)發(fā)射測試需要用到的ISN T, ISN ST,本篇繼續(xù)介紹一下針對帶屏蔽的同軸端口測試需要用到的ISN S,如表1所示:

表1:針對帶屏蔽的同軸端口的ISN S
業(yè)界常用的比如ISN S501A、ISN S502A、ISN S751和ISN S752,如圖1所示,這些都針對通信產(chǎn)品的同軸端口上的傳導(dǎo)發(fā)射測量而設(shè)計(jì)的,具體指標(biāo)如圖2所示。
ISN S501A和ISN S502A,內(nèi)部電纜的阻抗為50Ω。
ISN S751和ISN S752內(nèi)部電纜的阻抗為75Ω。
這些ISN S的電纜的屏蔽層在AE側(cè)與地相連。ISN S502A和ISN S752采用的是雙屏蔽同軸電纜和N連接器。

圖1:針對通信產(chǎn)品的同軸端口的ISN S

圖2:ISN S的具體指標(biāo)
采用ISN S進(jìn)行同軸端口的發(fā)射測試的設(shè)置如圖3所示:

圖3:采用ISN S進(jìn)行同軸端口的發(fā)射測試的設(shè)置
針對同軸端口的傳導(dǎo)發(fā)射測試和傳導(dǎo)抗擾測試都是必須的,這些ISN S也可以當(dāng)作符合IEC61000-4-6的CDN使用,同樣滿足標(biāo)準(zhǔn)的要求,當(dāng)然,我們也有對應(yīng)的CDN型號,這些CDN也可以當(dāng)成ISN進(jìn)行傳導(dǎo)發(fā)射測試。采用ISN S進(jìn)行同軸端口的符合IEC61000-4-6射頻傳導(dǎo)抗擾度測試的設(shè)置如圖4所示:

圖4:采用ISN S進(jìn)行抗擾度測試的設(shè)置
以上提到的都是針對GB/T 9254.1-2021(對應(yīng)的是CISPR32-2015)中針對信息技術(shù)設(shè)備,多媒體設(shè)備的數(shù)字和模擬端口的傳導(dǎo)發(fā)射測試需要用到的ISN T, ISN ST,ISN S。
除了這個(gè)標(biāo)準(zhǔn),還有一種針對電力線通信POWER LINE TELECOMMUNICATION (PLT)設(shè)備的端口發(fā)射測試需要用到的ISN PLT,對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)是EN 50561-1,具體產(chǎn)品如圖5所示。
標(biāo)準(zhǔn)要求這種ISN PLT覆蓋的頻率范圍是1.6MHz到30 MHz,LCL >55 dB。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn),當(dāng)被測設(shè)備處于通信狀態(tài)時(shí),針對PLT設(shè)備進(jìn)行1.705 MHz至30 MHz非對稱傳導(dǎo)騷擾的測試設(shè)置如圖6所示:

圖6:采用ISN PLT進(jìn)行測試的設(shè)置
總之,為了實(shí)現(xiàn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的傳導(dǎo)發(fā)射測試,除了接收機(jī),還必須要用到不同類型的ISN, 以及電壓,電流探頭,所有這些附件都是不可少的,都必須經(jīng)過校準(zhǔn)才能使用,相關(guān)的校準(zhǔn)夾具,校準(zhǔn)數(shù)據(jù),這些都是實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)和測試所必須要用到的。
審核編輯 :李倩
-
射頻
+關(guān)注
關(guān)注
106文章
5983瀏覽量
173171 -
阻抗
+關(guān)注
關(guān)注
17文章
984瀏覽量
49021 -
電流探頭
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
534瀏覽量
14888
原文標(biāo)題:GB/T 9254.1和CISPR32中的傳導(dǎo)發(fā)射測試所需的ISN/AAN,電壓和電流探頭(續(xù))
文章出處:【微信號:WEICE_JIGONG,微信公眾號:JIGONG的微測】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
發(fā)布評論請先 登錄
電流探頭 100mV/A應(yīng)該如何解讀呢?
基于高頻電流探頭的電磁兼容(EMI/EMC)測試與診斷技術(shù)方案
電流探頭消磁失敗的原因與解決策略
電流探頭的常見應(yīng)用場景
電流探頭的傳輸比和電流衰減:差異解析
傳導(dǎo)騷擾電流測試中電流探頭的選型指南?
普通電流探頭與高頻電流探頭的核心差異解析
柔性電流探頭介紹
電流探頭核心結(jié)構(gòu)與功能詳解
電流探頭在EMC測試中的應(yīng)用
碳化硅襯底厚度測量中探頭溫漂的熱傳導(dǎo)模型與實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證
CE電流法——測試數(shù)據(jù)會(huì)出現(xiàn)負(fù)值?
麥科信光隔離探頭在碳化硅(SiC)MOSFET動(dòng)態(tài)測試中的應(yīng)用
是德科技解析光隔離探頭構(gòu)造與特性 光隔離探頭的典型測試案例
傳導(dǎo)發(fā)射測試所需的ISN/AAN,電壓和電流探頭(續(xù))
評論