HTOL（High temperature operation life test）：高溫壽命試驗(yàn)，需要上電，用帶測(cè)試向量（Pattern）的老化爐（比如:H160,Incal Echo, LM2100,DI,MCC等）,需定做老化板BIB和老化socket，至少77顆/lot，通常會(huì)多幾顆，比如80顆/lot, 可以1個(gè)lot，也可以3個(gè)lot，老化時(shí)間通常為1000小時(shí)（中間會(huì)在168小時(shí)，500小時(shí)兩個(gè)readpoint拿出來(lái)做功能回測(cè)）。

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：

JESD22-A108B：Temperature, Bias, and Operating Life。

JESD85：METHODS FOR CALCULATING FAILURE RATES IN UNITS OF FITS。

JESD47K：Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits。

JESD74：Early Life Failure Rate Calculation Procedure for Semiconductor Components。

失效模式:

典型浴缸曲線(Bathtub Curve)分成早夭期(Infant Mortality)、可使用期(Useful Life)及老化期(Wear out)，對(duì)于不同區(qū)段的故障率評(píng)估，皆有相對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)手法。

從浴缸曲線(Bathtub Curve) 三個(gè)區(qū)段，其故障率的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)及失效原因，歸納如下：

早夭期(Infant Mortality )：故障率由高而快速下降- 失效原因?yàn)樵O(shè)計(jì)缺失/制程缺失。

可使用期(Useful Life)：故障率低且穩(wěn)定-失效原因隨機(jī)出現(xiàn)(如EOS 故障)

老化期(Wear Out)：故障率會(huì)快速增加-失效原因?yàn)槔匣斐伞?/p>

加速因子：

1.電壓加速：電壓高于使用電壓Vmax 才獲得電壓加速。

計(jì)算公式：

2.溫度加速：HTOL溫度高于使用溫度獲得溫度加速。

計(jì)算公式：

總加速：

LTOL：Low temperature operation life test）：低溫壽命試驗(yàn)，需要上電，基本與HTOL一樣，只是爐溫是低溫，一般用來(lái)尋找熱載流子引起的失效，或用來(lái)試驗(yàn)存儲(chǔ)器件或亞微米尺寸的器件。

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：

JESD22-A108B:Temperature, Bias, and Operating Life

JESD47K:Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits

大多數(shù)可靠性實(shí)驗(yàn)表明，環(huán)境溫度越高，器件退化越嚴(yán)重。熱載流子注入效應(yīng)的情況相反，溫度越低，熱載流子注入效應(yīng)越明顯。對(duì)應(yīng)于LTOL來(lái)說(shuō)溫度越低老化加速越厲害。

LTOL的測(cè)試條件，JESD47是參考Tj<50℃，但一般會(huì)用Ta=-40℃，低溫仍然滿足Tj<50℃，測(cè)試結(jié)果適用范圍相對(duì)較廣。車規(guī)驗(yàn)證，operation ambient temperature range也是從Ta=-40℃開(kāi)始。

使用機(jī)臺(tái)：DI機(jī)臺(tái)的一款DL602可以支持低溫老化實(shí)驗(yàn)，LTOL一般使用的PCB板跟正常HTOL可以兼容，使用板材和元器件一般都可以滿足-40℃低溫條件。

原文標(biāo)題：HTOL與LTOL的一些基本概念

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