來源：半導(dǎo)體芯科技

在半導(dǎo)體制造產(chǎn)業(yè)鏈中，測試工序是一個十分重要的環(huán)節(jié)。后摩爾時代，在現(xiàn)有極限工藝制程的條件下，平面IC逐步過渡到三維，出現(xiàn)了異質(zhì)構(gòu)成、3D堆疊等先進(jìn)封裝技術(shù)。隨著這些新的趨勢和變化，相應(yīng)的IC制造、檢測等工藝也應(yīng)與時俱進(jìn)。

無論是在前道量測進(jìn)行的缺陷檢查、圖案檢測等工序，還是在后道測試環(huán)節(jié)中進(jìn)行的芯片電性能等測試，測試設(shè)備作為優(yōu)化制程、控制良率、提高效率與降低成本的關(guān)鍵，在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中的地位日益凸顯。隨著半導(dǎo)體行業(yè)檢測工序的專業(yè)化和測試領(lǐng)域的細(xì)分，出現(xiàn)了面向特定器件的垂直測試機(jī)構(gòu)，比如針對高速數(shù)字芯片、射頻芯片的測試服務(wù)、針對顯示器件的測試服務(wù)等。

在此背景下，全球半導(dǎo)體測試企業(yè)紛紛升級研發(fā)，在2022年8月25日第十三屆晶芯在線研討會上，我們將共同探討車規(guī)級芯片檢測、SLT測試、存儲芯片測試、半導(dǎo)體測試設(shè)備發(fā)展趨勢等話題，面對5G、大數(shù)據(jù)、人工智能等新興市場的崛起，滿足半導(dǎo)體企業(yè)間的測試對接需求。

審核編輯 黃昊宇