一：測試硬件設備：

E5071C Keysight

4端口20GHz網(wǎng)絡分析儀，帶TDR選件。

適合測試20GHz以內(nèi)的PCB板內(nèi)S參數(shù)、阻抗 頻域、時域、信號。

二：測試夾具設計

2.1：測試夾具說明：

1.待測物焊盤：由待測物本身封裝決定；

2.測試通道走線：根據(jù)待測物大小以及測試方便設計合適寬度及長度的走線；

3. 2.92mm同軸轉(zhuǎn)接頭：適用于帶寬40GHz，用于連接矢網(wǎng)線纜和測試板，轉(zhuǎn)接頭和測試板配合的位置需要進行仿真匹配阻抗。

4.校準通道走線：設計校準通道走線長度為測試通道走線長度的兩倍，用于AFR校準，使用plts軟件。

2.2：測試夾具說明：

2.92mm同軸轉(zhuǎn)接頭datasheet

2.3：推薦疊層：

三：校準軟件

PLTS軟件：

Keysight 自動夾具一出（AFR PLTS）軟件。

4：測全通道s參數(shù)，校準通道s參數(shù)，得出待測物s參數(shù)

第一步：

將待測物精準焊接到測試板上，并使用儀器檢測是否有短路、虛焊、開路等情況。

第二步：

校準儀器后，分別將測試通道兩端的2.92mm同軸轉(zhuǎn)接頭連接到矢網(wǎng)上測得待測物和測試板整體的S參數(shù)，導出SNP1文件用于去嵌操作。

第三步：

測得校準通道的S參數(shù)，導出SNP2文件用于去嵌操作。

第四步：

將測得的整體S參數(shù)和校準通道的S參數(shù)導入PLTS軟件中，進行去嵌操作后就能將SNP1文件中包含的測試板本身數(shù)據(jù)消掉，從而得到待測物的S參數(shù)。

注：插入損耗使用S21讀取測試曲線，回波損耗或駐波比使用S11讀取測試曲線。

審核編輯 ：李倩