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cut point可優(yōu)化FEV的執(zhí)行效率

lhl545545 ? 來源:芯片驗證工程師 ? 作者:芯片驗證工程師 ? 2022-09-19 11:09 ? 次閱讀
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cut point就是在模型中指定一個位置,將這個cutpoint的值設為隨機值,去除這個點前后邏輯的關聯(lián)性。 需要確認這個cut point的設定不會影響所需要證明的assert,如果影響了可以根據fail反例定位。 其實,這也類似于一個黑盒,只不過blackbox針對的是一個模塊,將該模塊所有的輸出都設定為隨機值,而cut point只是將特定的點(信號)設置為隨機值。 一句話概括:

cutpoint就是更細粒度的黑盒化。

前面我們提到的FEV等價性驗證中的每一個map點都是一個cut point。所以內部能夠map上的點越多,F(xiàn)EV等價性證明的效率越高。 像黑盒化一樣,cutpoint也是一個安全的復雜度優(yōu)化手段,可能會導致假fail,但絕不會引入假pass。因為使用cut point后證明的空間比原來更大了,并且降低了被證明邏輯的復雜度。

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在combinational FEV中,所有寄存器的狀態(tài)都是一個cut point。在sequential FEV中,默認只會比較輸出的一致性,如果添加內部某些寄存器狀態(tài)作為map點,可以優(yōu)化FEV的執(zhí)行效率。

審核編輯:彭靜
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原文標題:FPV復雜度優(yōu)化之cut point

文章出處:【微信號:芯片驗證工程師,微信公眾號:芯片驗證工程師】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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