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功率器件Power Cycling測(cè)試與數(shù)據(jù)后處理分析

2yMZ_BasiCAE ? 來源:貝思科爾 ? 作者:貝思科爾 ? 2022-10-21 17:15 ? 次閱讀
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日前,貝思科爾舉辦了《功率器件Power Cycling測(cè)試與數(shù)據(jù)后處理分析》線上直播活動(dòng)。

本次直播主要針對(duì)各種先進(jìn)封裝工藝的功率器件和模塊的快速發(fā)展,分析該領(lǐng)域功率器件模塊的Rth熱測(cè)試和PC可靠性測(cè)試需求和發(fā)展趨勢(shì),分享Siemens MicRed Power Tester功率循環(huán)測(cè)試解決方案以及一些案例,并利用專業(yè)的數(shù)據(jù)后處理軟件對(duì)這些案例分析和總結(jié)。

主要內(nèi)容:

1,分析功率器件(單管,平面式IGBT模塊,SiC Mosfet模塊)測(cè)試需求;

2,Rth熱測(cè)試介紹與數(shù)據(jù)后處理分析;

3,PCs/min測(cè)試介紹與數(shù)據(jù)后處理分析。

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部分講義截圖

貝思科爾(BasiCAE),專注于為國內(nèi)高科技電子、半導(dǎo)體、通信等行業(yè)提供先進(jìn)的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)、工程仿真分析(CAE)、半導(dǎo)體器件熱阻(Rth)及功率循環(huán)(Power Cycling)熱可靠性測(cè)試,以及研發(fā)數(shù)據(jù)信息化管理的解決方案和產(chǎn)品服務(wù)。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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原文標(biāo)題:【活動(dòng)回顧】功率器件Power Cycling測(cè)試與數(shù)據(jù)后處理分析

文章出處:【微信號(hào):BasiCAE,微信公眾號(hào):貝思科爾】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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