在生產(chǎn)線上，經(jīng)常涉及到測量各種類型的電子元件，在測量中會用到一種叫做LCR測試儀的測量裝置。這種測量設(shè)備在進(jìn)行測量時也能快速進(jìn)行測量，使用起來非?？煽?。那么有了這個測量設(shè)備，就可以在生產(chǎn)線上提高產(chǎn)品質(zhì)量，進(jìn)而保證產(chǎn)品質(zhì)量。這種測量技術(shù)即使在特性阻抗很大的情況下，仍然可以進(jìn)行非常有效的測量。下面簡單介紹一下這種測量設(shè)備的現(xiàn)象。

使用這種LCR測試儀進(jìn)行測量確實可以提高測量效率。之前是用反射面測量技術(shù)，但是用這種測量技術(shù)的時候速度會比較慢，然后測量精度會比較差。然而，使用這種新的測量設(shè)備后，情況發(fā)生了顯著變化。這種新的測量設(shè)備反應(yīng)非?？?，測量及時。lcr測試儀的指令可以大大減少整個平均值測量過程所花費的時間。那么這種測量設(shè)備的操作或者系統(tǒng)軟件的建立都比較簡單，可以快速部署到生產(chǎn)線上，快速啟動測量。

這種測量設(shè)備有優(yōu)化的夾具，然后有專門的PC服務(wù)器。通過將這些夾具與PC服務(wù)器相結(jié)合，可以快速投入具體測量。而且測量設(shè)備在測量時產(chǎn)生的測量信息可以直觀清晰地顯示在顯示屏上，測量時產(chǎn)生的數(shù)據(jù)信息也可以通過專用插座導(dǎo)出。導(dǎo)出后，可以使用一些分析系統(tǒng)對測量結(jié)果進(jìn)行進(jìn)一步分析。

這里簡單分享一下LCR測試者的現(xiàn)象。很有可能很多小伙伴都在一些電子元器件生產(chǎn)企業(yè)工作過，所以很有可能見過這種測量設(shè)備。事實上，經(jīng)過這么多年的發(fā)展，這種測量設(shè)備不僅測量速度更快，而且數(shù)據(jù)處理能力也很強。除此之外，今天還可以小型化，可以用在各種生產(chǎn)線上。國內(nèi)也有專業(yè)的廠家可以設(shè)計方案，制造這種測量設(shè)備，可以為用戶提供非常好的測量設(shè)備售后支持。

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審核編輯：湯梓紅