提到“老化”我們第一時間可能會想到生銹的鋼材，腐朽的樹木，那么你知道嗎我們?nèi)粘Ｉ钍褂玫碾娮赢a(chǎn)品中的電子元器件也會老化，這些電子元器件一部分是因?yàn)楣に囍圃爝^程中可能存在的一系列缺陷，如表面沾污、引線焊接不良、溝道漏電、硅片裂紋等問題而老化，另一部分則是在我們長使用時間內(nèi)對元器件連續(xù)的使用過程中電熱應(yīng)力加速元器件了內(nèi)部的各種物理、化學(xué)反應(yīng)過程從而造成電子元器件老化損壞。

無論是哪一種情況，電子元器件的老化問題存在于我們生活中的方方面面，因此針對電子元器件的老化問題，它的出廠測試必不可少。

在對電子元器件的老化測試時我們可以通過電子元器件自動測試系統(tǒng)在加速元器件的壽命退化后，對代表其性能退化的電參量進(jìn)行測試，從而獲取測試數(shù)據(jù)，保證獲取數(shù)據(jù)的實(shí)時性和可靠性，同時也可以對元器件老化后的功能和交參數(shù)進(jìn)行測試，比如對二極管極性的自動識別極性、最大整流電流、正向壓降項(xiàng)目測試等。

通過這些項(xiàng)目的測試我們一方面可以促使隱藏于元器件內(nèi)部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達(dá)到剔除早期失效產(chǎn)品的目的，另一方面可以評定電子元器件是否適合在特點(diǎn)環(huán)境下長期使用，同時可以判斷出電子元器件的使用壽命和整體性能。

審核編輯黃昊宇