Spark test 火花測試

火花測試用于發(fā)現(xiàn)絕緣導體的絕緣皮不良.火花測試機通常用于芯線押出或芯線對絞工段.有時也用于總絞工段.一般帶屏蔽的電纜(編織線,鋁箔向外)押出外被時也用火花機測其不良點.基本方法為在與被測物相接觸的電極與接地 導體之間施加一電壓.若絕緣介質(zhì)不良(如太薄或一部分缺失),施加的電壓會在接地導體上產(chǎn)生電弧.從而激發(fā)與此相連的指示器(如蜂鳴器.燈.計數(shù)器等).;火花測試中存在危險高壓,故相關設備必須完全接地.一般測試機可采用AC或DC電壓,老使用AC可使用不同的頻率.為了安全,測試電流通常限制為無致命危險的水平.

Conductor Continuity 導體導通測試

電線電纜的導體導通是一關鍵特性.

除非另有規(guī)定.應用100V或更低的d-c電壓測試導體導通性.手動導通測試時用一9V電池與一可視或可聽的指示器串聯(lián).去除導體兩端絕緣皮.把導體分開.使用自動測試儀時把每一根導體分別固定于測試治具上.若使用手動測試,通常把電線一端的所有導體連接于一共同測試端,把電壓依次加于每一根導體兩端.用指示燈表明電路導通或不導通.

Conductor Resistance 導體電阻(銅導體相關技術參數(shù)分享）

電線電纜中每一根導體的電阻是一重要特性.但導體電阻的測量通常只對成品進行抽樣檢查時進行,樣本以出貨時電線的單位(如軸)計算.若電纜含非常多根導體.測量時也可對導體抽樣進行.除非另有規(guī)定. 導體電阻測量在68℉(20℃)條件下進行.溫度核心依ASTMB 193.電阻隨電纜長度變化.導體電阻通常用伏特表1歐姆計或惠斯顧電橋進行測試.

Conductor Resistance Unbalance 不平衡導體電阻（電線電性能之基礎知識（電阻、電容和電感））

任一對導體的電阻差在通訊傳輸中是一關鍵特性. 不平衡導體電阻的測量通常與導體電阻的測量同時進行. 電阻值按每 對記錄.較大電阻減去較小電阻值即為每對導體電阻的絕對差值. 絕對不平衡電阻通常以 Ω/1000ft或Ω/Km表示.有一使用較多的表示方法如下:

Coaxial Capacitance (Capacitance To Water)同軸電容(水中電容)

制程中測水中電容時,按如下進行,絕緣導體通過水槽,測量接地導體與水之間的電容,并自動反饋于控制設備.同軸電容為圓形金屬導體外表面與絕緣層外表面之間存在的電容. 測試方法為取一截絕緣線浸入水池中.直接測量接地導體與水之間的電容,一般水溫20℃土2 ℃,頻率1000土10HZ.

Mutual Capacitance 相互電容

相互電容為一對導體之間的有效電容.在多對導體的電纜中.互容公式如下:

測量之前.電纜兩端剝?nèi)ネ獗?屏蔽層等.至兩端露出芯線約2FT.把電纜一端的導體分開.保證導體不短路.不接地. 電纜另一端的導體剝?nèi)ソ^緣皮后.把所有導體短接后接地再量測.除非另有規(guī)定,互容為交流頻率為1000土100HZ時的電容.

Capacitance Unbalance –- (Pair To Ground) 對線與地線間不平衡電容

對地不平衡電容如下圖解. A和B為一對導體..Cag. Cbg.分別為導體A和B與屏蔽之間的直接電容.Cap和Cbp為導體A和B與其他對導體之間直接電容. 公式如下:

Capacitance Unbalance –- (Pair To pair) 對與對間的不平衡電容

其中,a-b為一對,c-d為一對.

Attenuation 衰減衰減參數(shù)科普篇

衰減為一訊號行經(jīng)電線電纜的信號損失強度.受絕緣導體材料和幾何性的影響，單位為分貝(dB)，dB值 (Decibel)之縮寫，為衰減,串音與音量的單位，其觀念與定義均由能量或功率的觀念出發(fā),即功率等于能量對時間的微分或單位時間輸出能.

Propagation Delay 傳輸延遲免費科普：傳播延遲差(SKEW)+延遲（Delay)

傳輸延遲為訊號經(jīng)過待測物所需的時間,介質(zhì)的介電常數(shù)愈小,傳播速度愈快,損耗愈小.

Velocity of propagation 傳播速率圖像分辨率，傳輸帶寬，傳輸速率關系科普

傳播速率亦即波長縮短率(同軸線特性之一)，其定義為真空之介質(zhì)系數(shù)與絕緣體介質(zhì)系數(shù)之平方根比值，由于真空之介質(zhì)系數(shù)為1，故以公式表示如下:

即信號傳送之速度在電纜中與自由真空中之比較，如下為各種材料與空氣中的介質(zhì)系數(shù).

Cross talk 串音高頻參數(shù)基礎篇03-串音參數(shù)

是鄰接兩導體之間由于傳輸信號時發(fā)生互相干擾現(xiàn)象而產(chǎn)生。串音產(chǎn)生之原因很多，在通信電纜而言通常是由于相鄰對之絞距設計不當而引起.常見有下列幾種

Worst Pair Near-End Cross talk (NEXT) 近端串音Crosstalk；串音

Power Sum Near End Cross talk (PSNEXT) 功率和近端串音

Equal Lever Far-End Cross talk (ELFEXT) 遠端串音

Power Sum Equal Lever Far End Cross talk (PSELFEXT) 功率和遠端串音

Return Loss (RL) 反射損耗

Structural Return Loss (SRL)結構性反射損耗阻抗和反射簡述

SRL從輸入阻抗中得出(開路/短路阻抗的平方根),RL從終端阻抗掃瞄中得出.SRL把輸入阻抗與特性阻抗相比,而RL則把終端阻抗與負載阻抗(如100Ω)相比,因而兩種測量不同．獨立的特性阻抗和ＳＲＬ特性曲線通常是特性說明的首選方法．因為兩種曲線易于清楚的分開．從測量角度看,RL方法有時會更可取,因為它不要求輸入阻抗的函數(shù),擬合而使用負載阻抗作為參考值.

Impedance 特性阻抗什么是電纜的特性阻抗？

在一定交流電路中電阻,容抗與感抗之總和,單位為歐姆(Ω)

即以 Z=R2+(XL-XC)2 來表示,式中Z為阻抗，R為電阻，XL為感抗，XC為容抗.常見的有下列兩種:

Input Impedance 輸入阻抗

Characteristic Impedance 特性阻抗

Input Impedance (輸入阻抗)的測試方法有兩種

開路和短路法(Open/Short Method)的測量方法

開路和短路的測量方法基本原理如下:

以網(wǎng)路分析儀測試,將實測出的開路與短路的數(shù)據(jù)帶入上列式中算出輸入阻抗

負載法的輸入阻抗(Matched Load Method)測量方法

負載法的測量方法基本原理如下:

于測試線材尾端連接一個與待測線阻抗相匹配的負載,以網(wǎng)路分析儀測試,儀器將自動依上述公式計算完成,即輸入阻抗.

Characteristic Impedance 特性阻抗特性阻抗

以陣列方式擬合輸入阻抗值大小依頻率變化求出一漸進線。

審核編輯：劉清