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芯片“爆米花”現(xiàn)象探究

新陽檢測(cè)中心 ? 來源: 新陽檢測(cè)中心 ? 作者: 新陽檢測(cè)中心 ? 2023-02-27 16:05 ? 次閱讀
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No.1什么是“爆米花”現(xiàn)象?

答:爆米花現(xiàn)象,是濕敏器件在受潮后,經(jīng)過高溫?zé)崽幚憝h(huán)節(jié)時(shí),如回流焊、波峰焊等,導(dǎo)致器件內(nèi)部氣體膨脹,進(jìn)而將器件撐起,甚至破壞塑封膠體或基板。并且在冷卻過程中,由于器件內(nèi)部材料熱脹冷縮速率不一致,進(jìn)而使其出現(xiàn)“破裂”。

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爆米花效應(yīng)常出現(xiàn)在以塑封BGA芯片上,但近年來,PBGA的封裝組件也屢有發(fā)生。在PBGA的封裝中,不僅銀膠會(huì)吸水,而且連載板的BT基材也會(huì)吸水,一旦出現(xiàn)管理不良,爆米花現(xiàn)象就較易出現(xiàn)。

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No.2“爆米花”現(xiàn)象出現(xiàn)的機(jī)理是?

答:典型共晶SnPb回流峰值溫度為220℃ ,水蒸氣壓力約17396㎜。無鉛焊SnAgCu的熔點(diǎn)217℃,即便一塊相對(duì)小的記憶卡或手機(jī)板也需要230~235℃的峰值溫度,而大而復(fù)雜的產(chǎn)品可能需要250~260℃。此點(diǎn)水蒸氣壓力為35188 ㎜,是220℃時(shí)的兩倍 ,因此任何焊接前吸潮的器件在回流焊過程中都會(huì)造成損壞的威脅。

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No.3“爆米花”現(xiàn)象如何檢測(cè)?

答:目前關(guān)于芯片“爆米花”現(xiàn)象的檢測(cè),聲學(xué)掃描無疑是很好的方式。它利用超聲波的特性進(jìn)行檢測(cè),對(duì)器件內(nèi)部存在的空氣層非常敏感,故而可以快速地定位問題點(diǎn),幫助排查失效原因。

參考文獻(xiàn):最實(shí)用的掃描聲學(xué)顯微鏡(SAT)操作與應(yīng)用指南

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No.4“爆米花”現(xiàn)象如何預(yù)防?

答:嚴(yán)格的物料管理制度

1?設(shè)計(jì)在明細(xì)表中應(yīng)注明元件潮濕敏感度

2?工藝要對(duì)潮濕敏感元件做時(shí)間控制標(biāo)簽

3?對(duì)已受潮元件進(jìn)行去潮處理

SMD元件的潮濕敏感等級(jí)

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檢查包裝內(nèi)附的濕度顯示卡,當(dāng)指示濕度>20%(在23±5℃時(shí)讀?。?,說明器件已經(jīng)受潮。在貼裝前,需對(duì)器件進(jìn)行去潮處理。

輕度受潮時(shí),再流焊緩慢升溫有一定效果。此外,還可以使用電熱鼓風(fēng)干燥箱去潮,根據(jù)潮濕敏感度等級(jí)在125±1℃下烘烤12~48h或125±5℃下烘烤24h。

去潮處理注意事項(xiàng)

a. 應(yīng)把器件碼放在耐高溫(大于150℃) 防靜電塑料托盤中進(jìn)行烘烤;

b. 烘箱要確保接地良好,操作人員手腕帶接地良好的防靜電手鐲;

c. 操作過程中要輕拿輕放,注意保護(hù)器件的引腳,引腳不能有任何變形和損壞。

對(duì)于有防潮要求器件的存放和使用

開封后的器件和經(jīng)過烘烤處理的器件必須存放在相對(duì)濕度≤20%的環(huán)境下,如干燥箱或干燥塔中,貼裝時(shí)隨取隨用;

開封后,在環(huán)境溫度≤30℃,相對(duì)濕度≤60%的環(huán)境下,在規(guī)定時(shí)間內(nèi)完成貼裝;

當(dāng)天沒有貼完的器件,應(yīng)存放在23±3℃,相對(duì)濕度≤20%的環(huán)境下。

選擇具有優(yōu)良活性焊劑的SnAgCu焊膏

通過優(yōu)化再流焊工藝,將峰值溫度降到最低(230~240℃),在接近Sn63/Pb37,在回流峰值僅高于Sn63/Pb37溫度10℃的情況下,將由于吸潮器件失效的風(fēng)險(xiǎn)減到最少。

新陽檢測(cè)中心有話說:

本篇文章介紹了芯片“爆米花”現(xiàn)象,部分資料來源于網(wǎng)絡(luò),侵權(quán)刪。如需轉(zhuǎn)載本篇文章,后臺(tái)私信獲取授權(quán)即可。若未經(jīng)授權(quán)轉(zhuǎn)載,我們將依法維護(hù)法定權(quán)利。原創(chuàng)不易,感謝支持!

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審核編輯黃宇

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