IV曲線測(cè)試是一種常用的電源表測(cè)試方法，它可以測(cè)量電源表的輸出電壓和電流之間的關(guān)系，以及電源表的負(fù)載特性。在測(cè)試測(cè)量實(shí)驗(yàn)中，可以借助源表測(cè)試軟件來(lái)測(cè)試I-V曲線、I-P曲線、恒定輸出等。下面納米軟件Namisoft小編給大家分享一下：用源表測(cè)試軟件如何輸出I-V曲線、I-P曲線、恒定輸出。

1、測(cè)試內(nèi)容：伏安特性I-V曲線(900KΩ)

測(cè)試配置：全局測(cè)試參數(shù)默認(rèn)，接線方法(二線法)，掃描模式(從起點(diǎn)到終點(diǎn)單項(xiàng)掃描)，傳感器模式(關(guān)閉)，通道(CH1)，輸出類型(電壓輸出)，起點(diǎn)電壓(0.10V),終點(diǎn)電壓(10.00V)，掃描步長(zhǎng)(0.10)、電流限制(1.00A)，測(cè)量間隔(0.01S)，循環(huán)間隔(0.10S),循環(huán)次數(shù)(1.00次)

測(cè)量結(jié)果：源表會(huì)根據(jù)改模塊配置，如掃描模式(從起點(diǎn)到終點(diǎn)單項(xiàng)掃描)，傳感器模式(關(guān)閉)，通道(CH1)，輸出類型(電壓輸出)，起點(diǎn)電壓(0.10V),終點(diǎn)電壓(10.00V)，掃描步長(zhǎng)(0.10)、電流限制(1.00A)，測(cè)量間隔(0.01S)，循環(huán)間隔(0.10S),循環(huán)次數(shù)(1.00次)進(jìn)行掃描，如下圖所示。

2、測(cè)試內(nèi)容：源表功率電流測(cè)量I-P曲線

測(cè)試配置：全局測(cè)試參數(shù)默認(rèn)，接線方法(二線法)，掃描模式(從起點(diǎn)到終點(diǎn)單項(xiàng)掃描)，傳感器模式(關(guān)閉)，通道(CH1)，輸出類型(線性電壓測(cè)量電流)，起點(diǎn)電壓(0.10V),終點(diǎn)電壓(1.00V)，掃描點(diǎn)數(shù)(50)、電流限制(1.00A)，測(cè)量間隔(0.01S)，循環(huán)間隔(0.10S),循環(huán)次數(shù)(1.00次)

測(cè)量結(jié)果：源表會(huì)根據(jù)改模塊配置，如掃描模式(從起點(diǎn)到終點(diǎn)單項(xiàng)掃描)，傳感器模式(關(guān)閉)，通道(CH1)，輸出類型(線性電壓測(cè)量電流)，起點(diǎn)電壓(0.10V),終點(diǎn)電壓(1.00V)，掃描點(diǎn)數(shù)(50)、電流限制(1.00A)，測(cè)量間隔(0.01S)，循環(huán)間隔(0.10S),循環(huán)次數(shù)(1.00次)

進(jìn)行掃描，獲得I-P圖像，如下圖所示。

3、恒定輸出功能舉例：輸出0.1V的電壓，測(cè)試被測(cè)試品的電流值。

測(cè)試配置：全局測(cè)試參數(shù)默認(rèn)，接線方法(二線法)，傳感器模式(關(guān)閉)，通道(CH1)，輸出類型(電壓輸出)，輸出電壓(0.10v)、電流限制(1.00A)、輸出延時(shí)(1s)、測(cè)量延遲(1s)、定時(shí)停止(1分鐘)。

測(cè)量結(jié)果：在測(cè)量中可以改變輸出電壓控制源表輸出不同的電壓值，在本次試驗(yàn)中將輸出值依次改變?yōu)?.2v、0.5v、1v，如下圖所示：

審核編輯：湯梓紅