電子元件是有壽命的，除了與它本身的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)有關(guān)，也和它的使用環(huán)境和在電路中所起作用密切相關(guān)。

在電路中電子元件有強(qiáng)弱之分，電子元器件抵抗能力排行榜如下：

電阻、電感，電容、半導(dǎo)體器件(包括二極管、三極管、場(chǎng)管、集成電路)，也就是說(shuō)，在同樣的工作條件下，半導(dǎo)體器件損壞概率最大。

在查找故障元件時(shí)要優(yōu)先檢查二極管、三極管、場(chǎng)管、集成電路等，一般半導(dǎo)體器件損壞時(shí)以擊穿為多見，萬(wàn)用表二極管蜂鳴檔測(cè)這些器件的任意兩腳最低也應(yīng)有一個(gè)PN結(jié)的阻值500左右，若是蜂鳴八成是壞了，可拆下再測(cè)以確認(rèn)。

在電路中，工作在高電壓、大電流、大功率狀態(tài)下的元件無(wú)疑承受的壓力也大，損壞的可能性大，同時(shí)也是電路的關(guān)鍵元件、功能性元件。

凡在大電流的地方發(fā)熱就大(焦耳楞次定律——熱量與電流的平方成正比)，所以凡是加有散熱片的元件都是易損件。大功率的電阻也是易損件。在電路中，保險(xiǎn)絲、保險(xiǎn)電阻是最不保險(xiǎn)的元件，首先因?yàn)樗娜埸c(diǎn)低，容易斷，又因?yàn)樗潜e人的險(xiǎn)，沖到第一線，當(dāng)警衛(wèi)員，所以壞時(shí)先壞。

元件損壞的方式，有過(guò)壓損壞、過(guò)流損壞，當(dāng)然還有機(jī)械損壞。過(guò)壓損壞如雷擊，擊穿橋式整流管。過(guò)流損壞如顯示器行管熱擊穿。

過(guò)壓損壞的元件外觀看不出明顯的變化，只是參數(shù)全變了。過(guò)流損壞的元件表面溫度很高，有裂紋、變色、小坑等明顯變化。嚴(yán)重時(shí)元件周圍的線路板變黃、變黑。

常用電子元器件在外表看上去無(wú)異常時(shí)可以用數(shù)字萬(wàn)用表做一些簡(jiǎn)單的測(cè)試。

電阻：這個(gè)很簡(jiǎn)單，測(cè)試阻值對(duì)不對(duì)。

二極管：用數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)試PN結(jié)的壓降，可與同型號(hào)的完好的二極管做對(duì)比。

三極管：不管是N管還是P管可以用數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)量測(cè)試兩個(gè)PN結(jié)是否正常。

場(chǎng)效應(yīng)管：測(cè)試場(chǎng)效應(yīng)管的體內(nèi)二極管的PN結(jié)是否正常，測(cè)試GD,GS是否有短路。

電容：無(wú)極性電容，擊穿短路或脫焊，漏電嚴(yán)重或電阻效應(yīng)。

電解電容的實(shí)效特性是：擊穿短路，漏電增大，容量變小或斷路。

電感：實(shí)效特性為：斷線，脫焊。

芯片：集成電路內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜，功能很多，任何一部分損壞都無(wú)法正常工作。集成電路的損壞也有兩種：徹底損壞、熱穩(wěn)定性不良。徹底損壞時(shí)，可將其拆下，與正常同型號(hào)集成電路對(duì)比測(cè)其每一引腳對(duì)地的正、反向電阻，總能找到其中一只或幾只引腳阻值異常。對(duì)熱穩(wěn)定性差的，可以在設(shè)備工作時(shí)，用無(wú)水酒精冷卻被懷疑的集成電路，如果故障發(fā)生時(shí)間推遲或不再發(fā)生故障，即可判定。通常只能更換新集成電路來(lái)排除。

無(wú)論是自然損耗所出現(xiàn)的故障，還是人為損壞所出現(xiàn)的故障，一般可歸結(jié)為電路接點(diǎn)開路，電子元器件損壞和軟件故障三種故障。接點(diǎn)開路，如果是導(dǎo)線的折斷，撥插件的斷開，接觸不良等，檢修起來(lái)一般比較容易。而電子元器件的損壞，(除明顯的燒壞，發(fā)熱外)，一般很難憑觀察員發(fā)現(xiàn)，在許多情況下，必須借助儀器才能檢測(cè)判斷，因此對(duì)于技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，首先必需了解各種器件實(shí)效的特點(diǎn)，這對(duì)于檢修電路故障，提高檢修效率是極為重要的。

審核編輯：湯梓紅