SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、國防軍工、科研院所等領(lǐng)域中。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計300余種2D、3D參數(shù)作為評價標(biāo)準(zhǔn)。

SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀輪廓分析步驟介紹：

1.將樣品放置在載物臺鏡頭下方；

2.檢查電機(jī)連接和環(huán)境噪聲，確認(rèn)儀器狀態(tài)；

3.使用操縱桿調(diào)節(jié)Z軸，找到樣品表面干涉條紋；

4.微調(diào)XY軸，找到待測區(qū)域，并重新找到干涉條紋；

5.完成掃描設(shè)置和命名等操作；

6.點擊開始測量（進(jìn)入3D視圖窗口旋轉(zhuǎn)調(diào)整觀察一會）；

7.臺階樣品分析第一步：校平；

8.進(jìn)入數(shù)據(jù)處理界面，點擊“校平”圖標(biāo)，和平面樣品不同，臺階樣品需手動選取基準(zhǔn)區(qū)域，選好基準(zhǔn)區(qū)域后，先“全部排除”再“包括”；

9.若樣品表面有好幾處區(qū)域均為平面且高度一致，可多選擇幾個區(qū)域作為基準(zhǔn)面進(jìn)行校平；

10.臺階高度測量：線臺階高度測量；

11.進(jìn)入分析工具界面，點擊“臺階高度”圖標(biāo)，即可直接獲取自動檢測狀態(tài)下的面臺階高度相關(guān)數(shù)據(jù)；

12.在右側(cè)點擊“手動檢測”，根據(jù)需求選擇合適的形狀作為平面1和平面2的測量區(qū)域，數(shù)據(jù)欄可直接讀取兩個區(qū)域的面臺階高度數(shù)值；

13.臺階高度測量：線臺階高度測量；

14.進(jìn)入數(shù)據(jù)處理界面，點擊“提取剖面”圖標(biāo)，使用合適方向的剖面線，提取目標(biāo)位置的剖面輪廓曲線；

15.進(jìn)入分析工具界面，點擊“臺階高度”圖標(biāo)，由于所測為中間凹槽到兩側(cè)平面高度，因此點擊右側(cè)工具欄，測量條對數(shù)選擇“2”，將紅色基準(zhǔn)線對放置到凹槽平面中間，兩對測量線對分別放置在兩側(cè)平面，即可在數(shù)據(jù)纜讀取臺階高度數(shù)據(jù)。