干擾是產(chǎn)品整機測試中常見而又非常棘手的問題，當系統(tǒng)電路受到干擾時，在電源線或者信號線上產(chǎn)生某種頻率、一定幅值的干擾波。液晶顯示模塊作為產(chǎn)品的一個顯示窗口，必然也是干擾的表演窗口之一。模塊對系統(tǒng)而言，是純輸入型部件，或稱被動型部件，既模塊接收滿足操作時序關(guān)系的任何信號而無判斷是非的能力。錯誤的信號與數(shù)據(jù)，將產(chǎn)生錯誤的控制字指令或者顯示圖案，導致錯誤的顯示效果。

消除干擾的首要工作是找到干擾源或干擾影響的位置，然后以有效的方法去消除、消弱、或預防、屏蔽、補救。

液晶顯示屏EMI與解決方法

問：工作時或者做干擾測試時，出現(xiàn)白屏/藍屏（所謂白屏或者藍屏，是指模塊屏幕如同剛上電時
顯示，只有背光亮，調(diào)對比度也沒有反應）
答： 這是因為在模塊工作期間，干擾施加在模塊的電源 VDD 或者VSS 上，或者施加到模塊的RESET 信號線上，導致模塊被復位了。復位的結(jié)果是初始化了模塊內(nèi)部寄存器，同時關(guān)顯示。解決的方法是：
- 如果干擾施加在電源線上，則建議在最靠近模塊的位置的電源線VDD、VSS 之間并入一個
- 穩(wěn)壓電容(10uF)和一個濾波電容（0.1uF/0.01uF）。
- 如果干擾施加在 RESET 信號線上，則建議在最靠近模塊的位置的RESET 信號線對VSS之間并入一個濾波電容，電容容量選擇0.1uF 或0.01uF。
電容值的選擇，需要根據(jù)實際測試的效果而定。

問： 工作時或干擾測試時，畫面產(chǎn)生錯誤的字符或亂點（數(shù)據(jù)錯誤），而且無法恢復，只能重新上電，初始化寄存器才能恢復
答： 這是因為干擾施加到控制信號上，使得寄存器參數(shù)被修改，一般的操作是寫顯示數(shù)據(jù)，沒有對主要工作的寄存器參數(shù)進行重復寫入，所以出現(xiàn)上述現(xiàn)象。解決的方法是：
如果干擾施加在傳輸線上，
（1）用磁環(huán)、或者錫紙、銅薄做線路的屏蔽；
（2）改變傳輸線的走向，躲避干擾環(huán)境；
（3）縮短傳輸線長度；或者加入傳輸線驅(qū)動器，以提高驅(qū)動能力和抗干擾能力。

問：工作時或干擾測試時，找不到干擾點或者采取電路預防，仍然杜絕不了干擾的影響，怎么辦？
答：定時對寄存器初始化，首先不使用RESET 信號，僅對寄存器操作；如果出現(xiàn)死機不能恢復的話，就需要使用RESET 信號初始化，但這樣的操作在正常顯示下會產(chǎn)生閃屏現(xiàn)象。因此，為了保證正常顯示不受到初始化的干擾
1、可以采用讀寄存器數(shù)據(jù)做初始化的判斷依據(jù)，如讀顯示狀態(tài)字，特殊SRAM 單元數(shù)據(jù)等。
2、使用負性顯示模塊，在不操作時關(guān)閉背光，此時，不易觀察到顯示內(nèi)容，當需要觀察顯
示內(nèi)容時，希望啟動背光點亮，將此時作為重新初始化模塊啟動點，不易被察覺。

問：對產(chǎn)品外殼（尤其是產(chǎn)品面板）進行靜電干擾測試，模塊出現(xiàn)白屏或者亂顯現(xiàn)象
答：這種干擾多數(shù)是通過模塊的鐵框或玻璃干擾模塊電路的。改善的方法是，（1）模塊的鐵框接
大地、（2）模塊的鐵框接VSS，（3）模塊的鐵框浮空，（4）在模塊鐵框與金屬外殼之間加絕緣墊，絕緣墊越厚，對靜電的消減就越大；這四種方法需要在實際產(chǎn)品中測試，選擇有效的方法。

問：外部沒有干擾源，但也出現(xiàn)白屏或者亂顯現(xiàn)象
答：這種情況也屬于干擾，是系統(tǒng)內(nèi)部的干擾，主要是軟件的程序沖突所致。首先找出干擾出現(xiàn)的規(guī)律，如下機會如果發(fā)生在模塊的寫入過程中時，容易產(chǎn)生模塊的死機、錯誤顯示等：
中斷程序正在操作模塊（I/O 尋址方式）的過程中產(chǎn)生，控制信號被修改、數(shù)據(jù)被修改等錯誤的操作，導致模塊的死機或顯示錯誤。改善的方式是，在操作模塊過程中，關(guān)閉中斷響應操作。