chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

彈簧針pogo pin可靠性測(cè)試之二:電氣性能測(cè)試

【CFE】川富電子 ? 2022-04-18 14:52 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

日常客戶咨詢pogo pin問得最多的問題便是可以過多大的電流,電壓多少,這 兩項(xiàng)便是pogopin的電氣相關(guān)的參數(shù),pogopin在送達(dá)客戶手中需經(jīng)過4項(xiàng)電氣相關(guān)的測(cè)試項(xiàng)目,具體如下:

二、電氣性能測(cè)試
1.絕緣阻抗測(cè)試(insulation resistance)
量測(cè)目的:評(píng)估pogo pin連接器之絕緣材料在通過直流電壓后,其表面產(chǎn)品漏電流狀況,以判定其絕緣程度。
2.耐電壓測(cè)試(withstanding voltage)
量測(cè)目的:評(píng)估pogo pin連接器之安全額定電壓及承受瞬間脈沖電壓之安全性,進(jìn)而評(píng)估連接器的絕緣材料與其組成絕緣間隔是否適當(dāng)。
3.低功率接觸阻抗測(cè)試(low level contact resistance LLCR)
量測(cè)目的:在不破壞端子表面氧化膜下,測(cè)試端子的接觸阻值,作為連接器的總體性評(píng)估。
4.溫升測(cè)試(temperature rise)
量測(cè)目的:評(píng)估pogo pin能攜帶規(guī)格之額定電流,在規(guī)格時(shí)間內(nèi)其溫升不得超過規(guī)定值。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 測(cè)試
    +關(guān)注

    關(guān)注

    8

    文章

    6034

    瀏覽量

    130735
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    如何測(cè)試時(shí)間同步硬件的性能可靠性?

    選擇時(shí)間同步硬件后,需通過 系統(tǒng)測(cè)試 驗(yàn)證其性能是否達(dá)標(biāo)、可靠性是否滿足場(chǎng)景需求。測(cè)試需圍繞時(shí)間同步的核心目標(biāo)(精度、穩(wěn)定性、抗風(fēng)險(xiǎn)能力)
    的頭像 發(fā)表于 09-19 11:54 ?465次閱讀

    射頻天線的電氣性能該如何測(cè)試?

    射頻天線作為射頻系統(tǒng)中發(fā)射和接收電磁波的關(guān)鍵部件,其性能直接決定了通信、雷達(dá)、導(dǎo)航等系統(tǒng)的效率和可靠性,電氣性能是天線最根本的特性,反映其電信號(hào)與電磁波的轉(zhuǎn)換效率。 ? 射頻線纜測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 09-04 18:07 ?771次閱讀
    射頻天線的<b class='flag-5'>電氣性能</b>該如何<b class='flag-5'>測(cè)試</b>?

    AR 眼鏡硬件可靠性測(cè)試方法

    AR 眼鏡作為集成了光學(xué)、電子、傳感器等復(fù)雜硬件的智能設(shè)備,其硬件可靠性直接影響產(chǎn)品使用壽命和用戶體驗(yàn)。硬件可靠性測(cè)試需針對(duì) AR 眼鏡特殊結(jié)構(gòu)和使用場(chǎng)景,從機(jī)械強(qiáng)度、環(huán)境適應(yīng)、電池性能
    的頭像 發(fā)表于 06-19 10:27 ?989次閱讀
    AR 眼鏡硬件<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>方法

    可靠性測(cè)試包括哪些測(cè)試和設(shè)備?

    在當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激烈的市場(chǎng)環(huán)境中,產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性成為了企業(yè)立足的根本。無論是電子產(chǎn)品、汽車零部件,還是智能家居設(shè)備,都需要經(jīng)過嚴(yán)格的可靠性測(cè)試,以確保在各種復(fù)雜環(huán)境下都能穩(wěn)定運(yùn)行,為用戶提供可靠
    的頭像 發(fā)表于 06-03 10:52 ?1116次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>包括哪些<b class='flag-5'>測(cè)試</b>和設(shè)備?

    半導(dǎo)體測(cè)試可靠性測(cè)試設(shè)備

    在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測(cè)試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境,對(duì)半導(dǎo)體器件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行評(píng)估,確保其在實(shí)際使用中能穩(wěn)定運(yùn)行。以下為你詳細(xì)介紹常見的半導(dǎo)體測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 05-15 09:43 ?908次閱讀
    半導(dǎo)體<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>設(shè)備

    可靠連接方案:彈簧Pogo Pin在智能座艙中的創(chuàng)新應(yīng)用與竟?fàn)巸?yōu)勢(shì)

    彈簧Pogo Pin連接器在智能座艙中的應(yīng)用場(chǎng)景廣泛,涵蓋了顯示屏、模塊化組件、傳感器、智能座椅及頭枕、智能氛圍燈及車載設(shè)備等多個(gè)方面。其高可靠性
    的頭像 發(fā)表于 05-14 17:38 ?1296次閱讀
    高<b class='flag-5'>可靠</b>連接方案:<b class='flag-5'>彈簧</b><b class='flag-5'>針</b><b class='flag-5'>Pogo</b> <b class='flag-5'>Pin</b>在智能座艙中的創(chuàng)新應(yīng)用與竟?fàn)巸?yōu)勢(shì)

    提升QFN封裝可靠性的關(guān)鍵:附推拉力測(cè)試機(jī)檢測(cè)方案

    近期,公司出貨了一臺(tái)推拉力測(cè)試機(jī),是專門用于進(jìn)行QFN封裝可靠性測(cè)試。在現(xiàn)代電子制造領(lǐng)域,QFN(Quad Flat No-leads)封裝因其體積小、散熱性能優(yōu)異和
    的頭像 發(fā)表于 05-08 10:25 ?860次閱讀

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試-WLR晶圓可靠性測(cè)試

    隨著半導(dǎo)體工藝復(fù)雜度提升,可靠性要求與測(cè)試成本及時(shí)間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級(jí)可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術(shù)通過直接在未封裝晶圓上施加加速應(yīng)力,實(shí)現(xiàn)快速
    發(fā)表于 05-07 20:34

    可靠性測(cè)試結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)概述

    深入理解設(shè)計(jì)規(guī)則,設(shè)計(jì)者可在可靠性測(cè)試結(jié)構(gòu)優(yōu)化中兼顧性能、成本與質(zhì)量,推動(dòng)半導(dǎo)體技術(shù)的持續(xù)創(chuàng)新。
    的頭像 發(fā)表于 04-11 14:59 ?1083次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)概述

    芯片可靠性測(cè)試性能的關(guān)鍵

    在芯片行業(yè),可靠性測(cè)試是確保產(chǎn)品性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。金鑒實(shí)驗(yàn)室作為專業(yè)的檢測(cè)機(jī)構(gòu),提供全面的芯片可靠性測(cè)試服務(wù),幫助企業(yè)在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中保持領(lǐng)
    的頭像 發(fā)表于 03-04 11:50 ?1194次閱讀
    芯片<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>:<b class='flag-5'>性能</b>的關(guān)鍵

    厚聲貼片電阻的可靠性測(cè)試與壽命

    厚聲貼片電阻的可靠性測(cè)試與壽命評(píng)估是確保其在實(shí)際應(yīng)用中穩(wěn)定工作的重要環(huán)節(jié)。以下是對(duì)這兩個(gè)方面的詳細(xì)分析: 一、可靠性測(cè)試 厚聲貼片電阻的可靠性
    的頭像 發(fā)表于 02-25 14:50 ?760次閱讀
    厚聲貼片電阻的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>與壽命

    厚聲貼片電感的可靠性測(cè)試:振動(dòng)與沖擊

    厚聲貼片電感作為一種關(guān)鍵的電子元件,其可靠性對(duì)于整個(gè)電路系統(tǒng)的穩(wěn)定性和性能至關(guān)重要。在可靠性測(cè)試中,振動(dòng)與沖擊測(cè)試是評(píng)估貼片電感在實(shí)際應(yīng)用環(huán)
    的頭像 發(fā)表于 02-17 14:19 ?861次閱讀
    厚聲貼片電感的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>:振動(dòng)與沖擊

    霍爾元件的可靠性測(cè)試步驟

    霍爾元件是一種利用霍爾效應(yīng)來測(cè)量磁場(chǎng)的傳感器,廣泛應(yīng)用于電機(jī)控制、位置檢測(cè)、速度測(cè)量以及電流監(jiān)測(cè)、變頻控制測(cè)試、交直流電源、電源逆變器和電子開關(guān)等領(lǐng)域。為了確?;魻栐?b class='flag-5'>性能可靠性,進(jìn)行全面
    的頭像 發(fā)表于 02-11 15:41 ?1199次閱讀

    如何測(cè)試光耦的性能可靠性

    光耦作為電氣隔離的關(guān)鍵組件,其性能可靠性直接影響到整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和安全。因此,對(duì)光耦進(jìn)行嚴(yán)格的性能
    的頭像 發(fā)表于 01-14 16:13 ?2482次閱讀

    端子材料對(duì)電氣性能的影響

    連接點(diǎn),以確保電流和信號(hào)的傳輸。端子材料的選擇對(duì)于確保電路的可靠性性能至關(guān)重要。不同的材料具有不同的物理和化學(xué)特性,這些特性決定了端子在實(shí)際應(yīng)用中的電氣性能。 端子材料的類型 常見的端子材料包括銅、銅合金、鋁
    的頭像 發(fā)表于 12-29 10:39 ?1483次閱讀