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上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀 MCU 芯片高低溫沖擊測(cè)試

伯東企業(yè)(上海)有限公司 ? 2022-06-13 11:35 ? 次閱讀
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inTEST 熱流儀微控制器 MCU 芯片高低溫測(cè)試
微控制器 MCU 芯片廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子 (手機(jī), 打印機(jī)), 計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò), 工業(yè)控制, 醫(yī)療設(shè)備, 汽車電子以及智慧家庭等領(lǐng)域.其中, 汽車是 MCU 芯片最大的應(yīng)用市場(chǎng), 傳統(tǒng)汽車單車會(huì)平均用到 70個(gè)左右, 而新能源汽車則需要用到 300多個(gè), 應(yīng)用領(lǐng)域包括 ADAS, 車身, 底盤及安全, 信息娛樂, 動(dòng)力系統(tǒng)等, 幾乎無處不在. 上海伯東美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可以快速提供需要的模擬環(huán)境溫度,解決了因?yàn)榄h(huán)境受限的 MCU 芯片高低溫測(cè)試難題.

MCU 市場(chǎng)



微控制器 MCU 芯片需要進(jìn)行溫度測(cè)試
以工作溫度為例, 車規(guī)級(jí)要求 MCU 可承受工作溫度范圍為 -40℃ 至 105℃ 或更高, 一般工業(yè)級(jí)為 -40℃ 至 85℃, 而消費(fèi)級(jí)只要保證 0℃ 至 70℃ 能正常工作即可過關(guān), 因此消費(fèi)級(jí)產(chǎn)品在常溫時(shí)工作狀態(tài)與工業(yè)級(jí) / 車規(guī)產(chǎn)品差異不大, 但在高低溫時(shí), 則容易出現(xiàn)問題, 嚴(yán)重的可能會(huì)導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)停機(jī). 因此工業(yè)級(jí)或車規(guī)級(jí) MCU 在出廠之前需要專門針對(duì)嚴(yán)苛應(yīng)用環(huán)境做針對(duì)性設(shè)計(jì)與篩查, 從而達(dá)到工業(yè)設(shè)備或汽車對(duì)于元器件高可靠與低缺陷的要求.

MCU 芯片高低溫沖擊測(cè)試案例
國(guó)內(nèi)某本土 MCU 廠商從成立之初就將工控和車載作為研發(fā)方向, 經(jīng)上海伯東推薦, 采用美國(guó)inTEST ECO-710E 對(duì)其 MCU 產(chǎn)品進(jìn)行高低溫沖擊測(cè)試, 并且滿足汽車電子協(xié)會(huì) Automotive Electronics Council 的通用標(biāo)準(zhǔn), 例如目前廣泛采用的集成電路失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試條件的 AEC-Q100.

車載 MCU 芯片的工況環(huán)境決定其溫度等級(jí), 根據(jù)其測(cè)試標(biāo)準(zhǔn), 芯片的溫度測(cè)試要求如下:

MCU 芯片溫度等級(jí)

等級(jí)

工作溫度范圍

備注

Level 0- 40℃~150℃最高范圍
Level 1- 40℃~125℃一般等級(jí)
Level 2- 40℃~105℃一般等級(jí)
Level 3- 40℃~85℃最低范圍


針對(duì)客戶提出的測(cè)試要求, 上海伯東提供微控制器 MCU 芯片高低溫測(cè)試解決方案
ECO-710E 測(cè)試的溫度范圍 -80 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, inTEST 高低溫測(cè)試機(jī) ECO-710E 搭配 delta design 測(cè)試機(jī)共同進(jìn)行微處理器芯片測(cè)試, 有效提高了芯片測(cè)試的速度和準(zhǔn)確性, 快速進(jìn)行在電工作的電性能測(cè)試, 失效分析, 可靠性評(píng)估等. inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)的主要作用就是快速提供需要的模擬環(huán)境溫度,解決了因?yàn)榄h(huán)境受限的芯片高低溫測(cè)試難題.


微處理器芯片高低溫測(cè)試方法:
1. 將待測(cè)微處理器芯片放置在玻璃罩中
2. 操作員設(shè)置需要測(cè)試的溫度范圍
3. 啟動(dòng) ThermoStream ECO-710E, 利用空壓機(jī)將干燥潔凈的空氣通入制冷機(jī)進(jìn)行低溫處理, 然后空氣經(jīng)由外部管路到達(dá)加熱頭進(jìn)行升溫, 氣流通過熱流罩進(jìn)入測(cè)試腔. 玻璃罩中的溫度傳感器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)當(dāng)前溫度.

inTEST 熱流儀技術(shù)規(guī)格

型號(hào)

ATS-545

ATS-710E

ECO-710E

ATS-535

溫度范圍 °C

-75 至 + 225

-75至+225

-80 至 +225

-60 至 +225

變溫速率

-55 至 +125°C 約 10 S
+125 至 -55°C 約 10 S

-55 至 +125°C 約 10 s
+125 至 -55°C 約 10 s

-55 至 +125°C, ≤ 10S
125 至 -55°C, ≤ 10S

-40至+ 125°C < 12 s
+125至-40°C < 40 s

空壓機(jī)

額外另配

額外另配

額外另配

內(nèi)部集成空壓機(jī)

控制方式

旋鈕式

觸摸屏

觸摸屏

旋鈕式

氣體流量 scfm

4 至 18

4 至 18

4 至18 SCFM

5

溫度顯示和分辨率

+/- 0.1°C

溫度精度

1.0°C(根據(jù) NIST 標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)時(shí))

電源

200-250VAC, 50/60Hz, 30A,1phase

200-250VAC, 50/60Hz, 30A,1phase

200-250VAC, 50/60Hz, 20A,1phase

220±10%VAC, 50/60Hz, 30A

微控制器 MCU 在生活中的應(yīng)用非常廣泛, 各種家電設(shè)備, 消費(fèi)電子, 工業(yè)品和車載電子幾乎都離不開 MCU 芯片, 工業(yè)級(jí)(或車規(guī)級(jí))MCU 與消費(fèi)級(jí) MCU 最大的區(qū)別之一是可靠性要求不同, 工業(yè)與車載應(yīng)用環(huán)境對(duì)產(chǎn)品可靠性要求更高, 需要更高的抗靜電能力, 更高的抗浪涌電壓與浪涌電流能力, 更寬的工作溫度范圍, 以及更長(zhǎng)的壽命.

若您需要進(jìn)一步的了解MCU 芯片高低溫測(cè)試詳細(xì)信息或討論, 請(qǐng)參考以下聯(lián)絡(luò)方式:
上海伯東: 葉小姐 臺(tái)灣伯東: 王小姐
T: +86-21-5046-3511 ext 107 T: +886-3-567-9508 ext 161
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  • 高低溫測(cè)試機(jī)

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