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宏展科技北京淺談IEC?60068-2推薦設(shè)備高低溫濕熱試驗(yàn)箱、高低溫沖擊試驗(yàn)箱、快速溫變?cè)囼?yàn)箱

宏展儀器 ? 2026-02-02 13:42 ? 次閱讀
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淺談IEC60068-2推薦設(shè)備高低溫濕熱試驗(yàn)箱、高低溫沖擊試驗(yàn)箱、快速溫變?cè)囼?yàn)箱

說明:IEC(國(guó)際電工協(xié)會(huì))是世界上成立最早的非政府性國(guó)際電工標(biāo)準(zhǔn)化機(jī)構(gòu),針對(duì)于民生用的電子產(chǎn)品制定相關(guān)試驗(yàn)規(guī)范與測(cè)試方法,如:主機(jī)板、筆記型電腦、平板電腦、智慧型手機(jī)、液晶螢?zāi)?、游戲機(jī)...等,其試驗(yàn)主要精神都從IEC延伸過來的,其中主要代表就是IEC60068-2,環(huán)境試驗(yàn)條件其[環(huán)境試驗(yàn)]就是指將樣品暴露予自然和人工環(huán)境中,然而對(duì)其在實(shí)際中遇到的使用、運(yùn)輸和儲(chǔ)存條件下的性能做出評(píng)價(jià),透過規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)使用,以便使該樣品的環(huán)境試驗(yàn)達(dá)到統(tǒng)一而又具再線性。環(huán)境測(cè)試可以模擬產(chǎn)品是否能夠適應(yīng)在不同階段(儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用)的環(huán)境變化(溫度、濕度、振動(dòng)、溫度變化、溫度沖擊、鹽霧、粉塵).等,以及驗(yàn)證產(chǎn)品本身的特性與品質(zhì)不會(huì)受到其影響,低溫、高溫、溫度沖擊可以產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力,這種應(yīng)力使試驗(yàn)樣品對(duì)之后的試驗(yàn)更為敏感,沖擊、振動(dòng)可以產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力,這種應(yīng)力可使樣品立即損壞,空氣壓力、交變濕熱、恆定濕熱、腐蝕應(yīng)用這些試驗(yàn),可以接續(xù)熱與機(jī)械應(yīng)力的試驗(yàn)影響。


IEC重要規(guī)范分享:

IEC60068-2-1-冷

測(cè)試目的:測(cè)試汽車元件、裝備或其他元件產(chǎn)品在低溫環(huán)境下操作及儲(chǔ)存能力。
測(cè)試方法分為:
1.Aa:不生熱試件之溫度驟變法
2.Ab:不生熱試件之溫度漸變法
3.Ad:生熱試件之溫度漸變法
注意事項(xiàng):
Aa:
1.靜態(tài)測(cè)試(不外加電源)。
2.先降溫至規(guī)范之指定溫度再放待測(cè)試件。
3.穩(wěn)定后試件上各點(diǎn)溫差不超過±3℃。
4.測(cè)試完成后將試件置于標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下,直到完全除霧;移轉(zhuǎn)過程中試件不加電壓。
5.回復(fù)原狀況后(最少1hr)在進(jìn)行量測(cè)。

Ab:
1.靜態(tài)測(cè)試(不外加電源)
2.試件于室溫下置入柜內(nèi),柜溫之溫度變化每分鐘不超過1℃。
3.試件于試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)留置柜內(nèi),柜溫之溫度變化每分鐘不超過1℃回復(fù)至標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下;變溫期間試件應(yīng)不加電。
4.回復(fù)原狀況后(最少1hr)在進(jìn)行量測(cè)。(溫度與空氣溫度相差5℃以上)。

Ac:
1.動(dòng)態(tài)測(cè)試(外加電源)試件加電后溫度穩(wěn)定時(shí),試件表面最熱點(diǎn)之溫度。
2.試件于室溫下置入柜內(nèi),柜溫之溫度變化每分鐘不超過1℃。
3.試件于試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)留置柜內(nèi),柜溫之溫度變化每分鐘不超過1℃,回復(fù)至標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下;變溫期間試件應(yīng)不加電。
4.回復(fù)原狀況后(最少1hr)在進(jìn)行量測(cè)。

試驗(yàn)條件:

1.溫度:-65,-55,-40,-25,-10,-5,+5℃。
2.駐留時(shí)間:2/16/72/96小時(shí)。
3.溫變率:每分鐘不超過1℃。
4.容許誤差:±3℃。

試驗(yàn)設(shè)置:
生熱試件應(yīng)盡量置于試驗(yàn)柜中央試件與柜壁>15cm
試件與試件>15cm試驗(yàn)柜與試件體積之比>5:1
生熱之試件,若使用空氣對(duì)流盡量保持最小之流速。
試件應(yīng)以無包裝,夾具應(yīng)使用具高熱傳導(dǎo)之特性。
設(shè)備介紹:
恆溫恆濕機(jī)-標(biāo)準(zhǔn)型(ProgrammableTemperature&HumidityChamber)


IEC60068-2-2-乾熱


測(cè)試目的:測(cè)試元件、裝備或其他元件產(chǎn)品在高溫環(huán)境下操作及儲(chǔ)存能力。
測(cè)試方法為:
1.Ba:不生熱試件之溫度驟變法
2.Bb:不生熱試件之溫度漸變法
3.Bc:生熱試件之溫度驟變法
4.Bd:生熱試件之溫度漸變法

注意事項(xiàng):
Ba:
1.靜態(tài)測(cè)試(不外加電源)。
2.先降溫至規(guī)范之指定溫度再放待測(cè)試件。
3.穩(wěn)定后試件上各點(diǎn)溫差不超過±5℃。
4.測(cè)試完成后將試件置于標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下,回復(fù)原狀況后(最少1hr)。

Bb:
1.靜態(tài)測(cè)試(不外加電源)。
2.試件于室溫下置入柜內(nèi),柜溫之溫度變化每分鐘不超過1℃,降至規(guī)范所規(guī)定之溫度值。
3.試件于試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)留置柜內(nèi),柜溫之溫度變化每分鐘不超過1℃回復(fù)至標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下;變溫期間試件應(yīng)不加電。
4.回復(fù)原狀況后(最少1hr)在進(jìn)行量測(cè)。

Bc:
1.動(dòng)態(tài)測(cè)試(外加電源)試件加電后溫度穩(wěn)定時(shí),試件表面最熱點(diǎn)之溫度與空氣溫度相差5℃以上。
2.先升溫至規(guī)范之指定溫度再放待測(cè)試件。
3.穩(wěn)定后試件上各點(diǎn)溫差不超過±5℃。
4.測(cè)試完成后將試件置于標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下,回復(fù)原狀況后(最少1hr)在進(jìn)行量測(cè)。
5.在試件底面0~50mm之平面上數(shù)點(diǎn)之平均溫度。

Bd:
1.動(dòng)態(tài)測(cè)試(外加電源)試件加電后溫度穩(wěn)定時(shí),試件表面最熱點(diǎn)之溫度與空氣溫度相差5℃以上。
2.試件于室溫下置入柜內(nèi),柜溫之溫度變化每分鐘不超過1℃,升至所規(guī)定之溫度值。
3.回復(fù)至標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下;變溫期間試件應(yīng)不加電。
5.回復(fù)原狀況后(最少1hr)在進(jìn)行量測(cè)。

測(cè)試條件:

1.溫度:1000,800,630,500,400,315,250,200,175,155,125,100,85,70,55,40,30℃。
2.駐留時(shí)間:2/16/72/96小時(shí)。
3.溫變率:每分鐘不超過1℃。(5分鐘內(nèi)之平均值)
4.容許誤差:低于200℃之容差±2℃。(200~1000℃之容差±2%)

IEC-60068-2-2-乾熱-擺設(shè)要求

wKgZPGmAIP-ARoUAAAIL1h5ntFo371.png

待測(cè)物與風(fēng)向需平行

wKgZO2mAIP-AK8HQAAI0MAdYQ-0865.png

IEC60068-2-3試驗(yàn)方法Ca:穩(wěn)態(tài)濕熱


1.測(cè)試目的:
本試驗(yàn)法之目的在決定元件、裝備或其它產(chǎn)品于定溫(constanttemperature)、高相對(duì)濕度環(huán)境下操作及儲(chǔ)存的適應(yīng)性。

2.范圍
本試驗(yàn)法可同時(shí)適用于生熱(heat-dissipating)及不生熱(nonheat-dissipating)試件。

3.無限制。

4.測(cè)試步驟:
4.1試件于試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
4.2試件放入試驗(yàn)柜中之情況必須符合相關(guān)規(guī)范,試件入柜后為避免在試件上形成水珠,最好事先將試件溫度預(yù)熱至試驗(yàn)柜中之溫度條件。
4.3試件依規(guī)定之駐留加以保溫。
4.4若相關(guān)規(guī)范有所規(guī)定,則應(yīng)于試驗(yàn)中或試驗(yàn)后執(zhí)行功能測(cè)試及各項(xiàng)量測(cè)工作,執(zhí)行功能測(cè)試時(shí)必須按照規(guī)范中所要求之週期來進(jìn)行,且試件不得搬出試驗(yàn)柜。
4.5試驗(yàn)后試件必須置于標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下至少一小時(shí),最多兩小時(shí)以回復(fù)原來狀況。
依試件之特性或?qū)嶒?yàn)室能量之不同,可將試件移出或保留在試驗(yàn)柜中等待恢復(fù),若要移出則時(shí)間以愈短愈佳,最好不超過五分鐘,若維持在柜中則濕度必須在三十分鐘內(nèi)降至73%~77%R.H.,同時(shí)溫度也必須在三十分鐘內(nèi)達(dá)到實(shí)驗(yàn)室溫度之±1℃范圍內(nèi)。

5.測(cè)試條件
5.1試驗(yàn)溫度:試驗(yàn)柜中溫度應(yīng)控制在40±2℃范圍內(nèi)。
5.2相對(duì)濕度:試驗(yàn)柜中濕度應(yīng)控制在93(+2/-3)%R.H.范圍內(nèi)。
5.3駐留時(shí)間:駐留時(shí)間可選擇4天,10天,21天或56天。
5.4試驗(yàn)容差:溫度容差為±2℃,包含量測(cè)之絕對(duì)誤差、溫度之緩慢變化及溫度柜中溫度差異。然而為了便利維持濕度在一定范圍內(nèi),因此試驗(yàn)柜中任何兩點(diǎn)之溫度在任何時(shí)間都應(yīng)盡可能維持在最小范圍內(nèi)。若溫差超過1℃則濕度變化將超過容許范圍。因此即使短時(shí)間之溫度變化也可能需要控制在1℃內(nèi)。

6.試驗(yàn)設(shè)置
6.1試驗(yàn)柜內(nèi)必須安裝溫度及濕度感應(yīng)裝置以監(jiān)測(cè)柜內(nèi)溫度與濕度。
6.2試驗(yàn)柜內(nèi)頂端或牆壁不得有凝結(jié)水滴在試件上。
6.3試驗(yàn)柜內(nèi)凝結(jié)之水份必須不斷排出,除非淨(jìng)化(re-purified)否則不得再使用。
6.4當(dāng)試驗(yàn)柜內(nèi)濕度使用噴射方式即以水氣噴入試驗(yàn)柜中達(dá)成時(shí),其水份電阻係數(shù)不得低于500MΩ。

7.其它
7.1試驗(yàn)柜內(nèi)之溫濕度等條件必須均勻,并且與溫濕度感應(yīng)器周遭附近之條件相近。
7.2試件加電或功能測(cè)試時(shí)不得改變?cè)囼?yàn)柜內(nèi)之溫濕度條件。
7.3相關(guān)規(guī)范中須詳述在消除試件表面濕氣時(shí)應(yīng)注意事項(xiàng)。


IEC68-2-14試驗(yàn)方法N:溫度變化


1.測(cè)試目的
本試驗(yàn)法之目的在決定試件于溫度變化或溫度連續(xù)變化環(huán)境下所受之影響。

2.范圍
本試驗(yàn)法可區(qū)分為:
試驗(yàn)方法Na:在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化。
試驗(yàn)方法Nb:在特定溫度變率之溫度變化。
試驗(yàn)方法Nc:雙液體浸泡法之快速溫度變化。
前二項(xiàng)適用于元件、裝備或其它產(chǎn)品,第三項(xiàng)則適用于玻璃-金屬密封及類似之產(chǎn)品。

3.限制
本試驗(yàn)法并不驗(yàn)證高溫或低溫環(huán)境效應(yīng),若欲驗(yàn)證此種條件,則應(yīng)採(cǎi)用"IEC68-2-1試驗(yàn)法A:冷"或"IEC60068-2-2試驗(yàn)方法B:乾熱"。

4.測(cè)試步驟

4.1試驗(yàn)方法Na:
在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化
4.1.1試件于試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
4.1.2試件型態(tài)應(yīng)為無包裝、不加電及使用備便之狀況或其它相關(guān)規(guī)范規(guī)定之狀態(tài)。試件初始條件為實(shí)驗(yàn)室之室溫。
4.1.3將兩部溫度柜分別調(diào)溫至規(guī)定之高溫及低溫條件。
4.1.4將試件置于低溫柜中,并依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。
4.1.5將試件移于高溫柜中,并依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。
4.1.6高、低溫轉(zhuǎn)移時(shí)間依測(cè)試條件規(guī)定執(zhí)行。
4.1.7重複步驟4.1.4及步驟4.1.5之程式計(jì)4次。
4.1.8試驗(yàn)后應(yīng)將試件置于標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下,并保持一定時(shí)間,使試件達(dá)到溫度穩(wěn)定。
回復(fù)時(shí)間參考相關(guān)規(guī)范之規(guī)定。
4.1.9試驗(yàn)后試件應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。

4.2試驗(yàn)方法Nb:
在特定溫度變率之溫度變化
4.2.1試件于試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
4.2.2將試件置于溫度柜內(nèi),試件形態(tài)應(yīng)為無包裝、不加電及使用備便之狀況或其它相關(guān)規(guī)范規(guī)定之狀態(tài)。試件初始條件為實(shí)驗(yàn)室之室溫。
若有相關(guān)規(guī)范需求,試件可成為操作狀態(tài)。
4.2.3將柜溫降至規(guī)定之低溫條件,并依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。
4.2.4將柜溫升至規(guī)定之高溫條件,并依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。
4.2.5高、低溫之溫度變率依測(cè)試條件規(guī)定執(zhí)行。
4.2.6重複步驟4.2.3及步驟4.2.4之程式。
試驗(yàn)中須執(zhí)行電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
記錄電性及機(jī)械性能檢測(cè)所使用之時(shí)間。
試驗(yàn)后應(yīng)將試件置于標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下,并保持一定時(shí)間,使試件達(dá)到溫度穩(wěn)定。
回復(fù)時(shí)間參考相關(guān)規(guī)范之規(guī)定。
試驗(yàn)后試件應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。

5.測(cè)試條件
測(cè)試條件可由以下選擇適當(dāng)之溫度條件及試驗(yàn)時(shí)間或依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定。

5.1試驗(yàn)方法Na:
在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化
高溫:1000,800,630,500,400,315,250,200,175,155,125,100,85,70,55,40,30℃。
低溫:-65,-55,-40,-25,-10,-5,5℃。
濕度:每立方公尺空氣所含蒸氣需低于20公克(相當(dāng)于35℃時(shí)50%相對(duì)濕度)。
駐留時(shí)間:含溫度柜之溫度調(diào)整時(shí)間可為3小時(shí)、2小時(shí)、1小時(shí)、30分鐘或10分鐘,若無規(guī)定則訂為3小時(shí),試件置入溫度柜后,溫度調(diào)整時(shí)間不可超過駐留時(shí)間之十分之一。
轉(zhuǎn)移時(shí)間:手動(dòng)2~3分鐘,自動(dòng)少于30秒,小試件則少于10秒。
迴圈數(shù):5迴圈。
試驗(yàn)容差:溫度低于200℃之容差為±2℃。
溫度介于250~1000℃之容差為測(cè)試溫度之±2%。
若溫度柜尺寸大小無法達(dá)到上述容差要求,容差可放寬;溫度低于100℃之容差為±3℃,溫度介于100~200℃之容差為±5℃(容差放寬需于報(bào)告中注明)。

5.2試驗(yàn)方法Nb:
在特定溫度變率之溫度變化
高溫:1000,800,630,500,400,315,250,200,175,155,125,100,85,70,55,40,30℃。
低溫:-65,-55,-40,-25,-10,-5,5℃。
濕度:每立方公尺空氣所含蒸氣需低于20公克(相當(dāng)于35℃時(shí)50%相對(duì)濕度)
駐留時(shí)間:含升降溫時(shí)間可為3小時(shí)、2小時(shí)、1小時(shí)、30分鐘或10分鐘,若無規(guī)定則訂為3小時(shí)。
溫度變率:溫度柜5分鐘內(nèi)平均溫度升降變率為1±0.2℃/min、3±0.6℃/min或5±1℃/min。
迴圈數(shù):2迴圈。
試驗(yàn)容差:溫度低于200℃之容差為±2℃。
溫度介于250~1000℃之容差為測(cè)試溫度之±2%。
若溫度柜尺寸大小無法達(dá)到上述容差要求,容差可放寬溫度低于100℃之容差為±3℃,溫度介于100~200℃之容差為±5℃(容差放寬需于報(bào)告中注明)。

6.試驗(yàn)設(shè)置
6.1試驗(yàn)方法Na:
在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化
高、低溫柜之內(nèi)壁溫度與溫度試驗(yàn)規(guī)格之差異分別不可超過3%及8%(以°K示),以避免熱輻射問題。
生熱試件應(yīng)儘量置于試驗(yàn)柜之中央,且試件與柜壁、試件與試件之距離應(yīng)大于10公分以上,溫度柜與試件體積之比應(yīng)大于5:1。

wKgZPGmAIP-AcpN0AAGyTTtaFjo209.png

6.2試驗(yàn)方法Nb:
在特定溫度變率之溫度變化
試件于試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。
試件型態(tài)應(yīng)為無包裝、不加電及使用備便之狀況或其它相關(guān)規(guī)范規(guī)定之狀態(tài)。試件初始條件為實(shí)驗(yàn)室之室溫。
將兩部溫度柜分別調(diào)溫至規(guī)定之高溫及低溫條件。
將試件置于低溫柜中,并依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。
將試件移于高溫柜中,并依規(guī)定之駐留時(shí)間進(jìn)行保溫。
高、低溫轉(zhuǎn)移時(shí)間依測(cè)試條件規(guī)定執(zhí)行。
重複步驟d及步驟e之程式計(jì)4次。
試驗(yàn)后應(yīng)將試件置于標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下,并保持一定時(shí)間,使試件達(dá)到溫度穩(wěn)定。
回復(fù)時(shí)間參考相關(guān)規(guī)范之規(guī)定。
試驗(yàn)后試件應(yīng)依相關(guān)規(guī)范之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。

6.3試驗(yàn)方法Nc:
雙液體浸泡法之快速溫度變化
試驗(yàn)之液體選用應(yīng)與試件相容,不可傷害到試件。
7.其它
7.1試驗(yàn)方法Na:
在特定時(shí)間內(nèi)快速溫度變化
當(dāng)試件置于溫度柜內(nèi),其柜內(nèi)溫度及空氣流速在保溫時(shí)間的十分之一內(nèi)須達(dá)到所規(guī)定之溫度規(guī)格與容差。
柜內(nèi)空氣必須維持迴圈,試件附近之空氣流速不可小于每秒2公尺(2m/s)。
若試件從高、低溫柜轉(zhuǎn)移后,因故無法將保溫時(shí)間執(zhí)行完畢,則停留在前一個(gè)保溫狀態(tài)(最好是低溫)。
7.2試驗(yàn)方法Nb:
在特定溫度變率之溫度變化柜內(nèi)空氣必須維持迴圈,試件附近之空氣流速不可小于每秒2公尺(2m/s)。
7.3試驗(yàn)方法Nc:
雙液體浸泡法之快速溫度變化
試件浸泡于液體內(nèi)時(shí)能快速的在兩容器間轉(zhuǎn)移,且不可攪拌液體。

高低溫試驗(yàn)箱_快速溫變?cè)囼?yàn)箱_溫度循環(huán)試驗(yàn)箱_冷熱沖擊試驗(yàn)箱

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