AEC-Q101認(rèn)證的概念

AEC-Q101：車(chē)用分立半導(dǎo)體元器件的基于失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試驗(yàn)證。

半導(dǎo)體分立器件被廣泛應(yīng)用到消費(fèi)電子、計(jì)算機(jī)及外設(shè)、網(wǎng)絡(luò)通信、汽車(chē)電子、LED顯示屏等領(lǐng)域，而汽車(chē)領(lǐng)域是全球半導(dǎo)體分立器件最大的應(yīng)用市場(chǎng)。隨著汽車(chē)電子朝著智能化、信息化、網(wǎng)絡(luò)化方向發(fā)展，新能源汽車(chē)的產(chǎn)銷(xiāo)量爆發(fā)性增長(zhǎng)，半導(dǎo)體分立器件在汽車(chē)電子產(chǎn)品中的應(yīng)用呈現(xiàn)出更大的發(fā)展空間。

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的分立半導(dǎo)體元器件的最小工作溫度范圍：-40℃~+125℃

最小工作溫度范圍-40℃~+85℃。

AEC-Q101認(rèn)證對(duì)象：

晶體管：BJT、MOSFET、IGBT、二極管、Diodes、Rectifier、Zeners、PIN、Varactors

光器件：LEDs、Optocoupler、Photodiodes、Phototransistors

AEC-Q101認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目（總共29項(xiàng)，并非所有項(xiàng)目都應(yīng)用于所有器件）。

測(cè)試項(xiàng)目分類(lèi)：

各項(xiàng)參數(shù)測(cè)試：如性能測(cè)試、外觀、參數(shù)驗(yàn)證、物理尺寸、熱阻、雪崩耐量、短路可靠性、介質(zhì)完整性等。

環(huán)境應(yīng)力實(shí)驗(yàn)：按照軍用電子器件環(huán)境適應(yīng)性標(biāo)準(zhǔn)和汽車(chē)電子通用環(huán)境適應(yīng)性標(biāo)準(zhǔn)，執(zhí)行器件的應(yīng)力實(shí)驗(yàn)，如高溫反偏、高溫柵偏壓、溫度循環(huán)、高壓蒸煮、HAST、高溫高濕反偏、高溫高濕工作、間歇工作壽命、功率溫度循環(huán)、常加速、振動(dòng)、沖擊、氣密性等

工藝質(zhì)量評(píng)價(jià)：針對(duì)封裝、后續(xù)電子組裝工藝，以及使用可靠性進(jìn)行的相應(yīng)元器件工藝質(zhì)量評(píng)價(jià)，如ESD、DPA、端子強(qiáng)度、耐溶劑試驗(yàn)、耐焊接熱、可焊性、綁線拉力剪切力、芯片推力、無(wú)鉛測(cè)試等。