以白光干涉為原理的光纖微裂紋檢測儀，最初受限于延時纖的測量長度，只能測試6cm,使得測試場景非常局限，為解決測量長度問題，昊衡科技歷時3年，推出測量長度1m的國產(chǎn)光纖微裂紋檢測儀。

光纖微裂紋檢測儀測量長度升級到1m,是希望能更大程度滿足客戶測試所需，解決客戶不斷匹配跳線，測試繁瑣問題，1m的測試長度能更大限度包容待測樣品，為測試器件留有更大空間，更便捷客戶使用。

設(shè)備測試性能和穩(wěn)定性也有了質(zhì)的飛躍，在升級長度過程中，不斷迭代已有的光路和模塊，長時間的實(shí)驗驗證，以最優(yōu)化的結(jié)構(gòu)，提升設(shè)備測試效果。

以下是光纖微裂紋檢測儀測量保偏光鏈路，該器件長0.955m,末端是保偏光纖，OLI能測試出由保偏光纖雙折射引起的2個不同時延峰值。OLI以1μm的采樣分辨率能清晰判別出鏈路中光模塊的好壞以及光纖裂紋檢測。

圖1.保偏光鏈路測試圖

昊衡推出的光纖微裂紋檢測儀叫做低成本光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)（OLI），該系統(tǒng)通過讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個掃描范圍內(nèi)的回波損耗， 進(jìn)而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能，其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米，最低可探測到-80dB光學(xué)弱信號，廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。

圖2.低成本光學(xué)鏈路診斷儀

OLI 低成本光學(xué)鏈路診斷儀產(chǎn)品應(yīng)用

光纖微裂紋檢測

硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測

FA光纖陣列鏈路性能檢測

光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測