chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

白光干涉儀如何獲得高度信息丨科普篇

優(yōu)可測(cè) ? 2023-04-07 09:12 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

就 ” 白光 -干涉-高度” 三個(gè)內(nèi)容,小優(yōu)博士帶大家一起了解白光干涉儀是如何獲得高度。

一、什么是白光?

pYYBAGQun4eAA8HlAAC90J2PhEE735.png

可見(jiàn)光波長(zhǎng)范圍390nm - 780nm, 最短是紫光,其次藍(lán)光、青光、綠光、黃光、橙光、紅光。

白光是復(fù)合光,白光干涉儀的光源波長(zhǎng)一般在500nm附近。

二、光干涉

1. 什么是光干涉

兩列頻率相同、相位差恒定、振動(dòng)方向一致的相干光源能產(chǎn)生光的干涉。

poYBAGQun56AZ9N6AAIZ6SRs_SM868.png


2.如何產(chǎn)生光干涉

通過(guò)分束器,將光一束打到物體表面,一束打到參考鏡。

光反射回來(lái)時(shí)光程差相等時(shí)即可產(chǎn)生光干涉。

poYBAGQun6yAeM3sAAS92A4MKbM966.png

三、獲取高度 和 獲取高度的常用方法

點(diǎn)A和B的干涉條紋的亮度峰值之間的差,就表示高度差。

poYBAGQuoAyAVMCPAAEuC3UwZ4g805.png

方法1 :通過(guò)PSI 相移干涉 獲得高度差

相移干涉法使用特定波長(zhǎng)范圍內(nèi)的光源來(lái)確認(rèn)目標(biāo)面反射光和參考面反射光之間的光干涉。

目標(biāo)面的反射光和參考面的反射光之間的相位為?,距離參考面的高度為h,則?=4h/λ。

借助相位測(cè)量法,可使用雅典掃描器等傳動(dòng)器移動(dòng)測(cè)量面的光路,計(jì)算以1/4波長(zhǎng)移動(dòng)光路時(shí)獲得的多個(gè)干涉條紋的相位差(?),然后將其轉(zhuǎn)換為高度h。

poYBAGQuoBWAK8L-AAL4X-HWowk653.png

方法2:通過(guò)VSI垂直掃描干涉 獲得高度差

物鏡以一定的間隔移動(dòng),以便確定每一階的干涉條紋的亮度。

當(dāng)測(cè)量面的光路和參考面的光路長(zhǎng)度相等時(shí),干涉條紋的亮度達(dá)到最高。

通過(guò)確定CCD光接收元件中每點(diǎn)最大干涉條紋亮度的Z軸高度可測(cè)出3D輪廓即高度差。

pYYBAGQuoCGADhIFAAKygkhfAmo945.png


四、白光干涉儀獲取高度信息圖例

(例)通過(guò)PSI 相移干涉,獲得激光鐳雕的高度&三維形貌。

pYYBAGQuoDmAP3WVAAdImWTHB_o578.png


聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 干涉儀
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    145

    瀏覽量

    10694
  • 白光干涉儀
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    233

    瀏覽量

    3322
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    以設(shè)計(jì)鑄品質(zhì)!優(yōu)可測(cè)白光干涉儀AM-8000榮膺2025德國(guó)紅點(diǎn)獎(jiǎng)

    優(yōu)可測(cè)白光干涉儀AM-8000打破了傳統(tǒng)精密儀器“輕設(shè)計(jì)” 的固有認(rèn)知,憑借技術(shù)沉淀與創(chuàng)新設(shè)計(jì),斬獲2025德國(guó)紅點(diǎn)獎(jiǎng)!
    的頭像 發(fā)表于 11-21 11:59 ?2064次閱讀
    以設(shè)計(jì)鑄品質(zhì)!優(yōu)可測(cè)<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>AM-8000榮膺2025德國(guó)紅點(diǎn)獎(jiǎng)

    白光干涉儀在晶圓深腐蝕溝槽的 3D 輪廓測(cè)量

    摘要:本文研究白光干涉儀在晶圓深腐蝕溝槽 3D 輪廓測(cè)量中的應(yīng)用,分析其工作原理及適配深腐蝕溝槽特征的技術(shù)優(yōu)勢(shì),通過(guò)實(shí)際案例驗(yàn)證測(cè)量精度,為晶圓深腐蝕工藝的質(zhì)量控制與器件性能優(yōu)化提供技術(shù)支持
    的頭像 發(fā)表于 10-30 14:22 ?266次閱讀
    <b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>在晶圓深腐蝕溝槽的 3D 輪廓測(cè)量

    白光干涉儀與激光干涉儀的區(qū)別及應(yīng)用解析

    在精密測(cè)量領(lǐng)域,干涉儀作為基于光的干涉原理實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)的儀器,被廣泛應(yīng)用于工業(yè)制造、科研實(shí)驗(yàn)等場(chǎng)景。其中,白光干涉儀與激光干涉儀是兩類具有
    的頭像 發(fā)表于 09-20 11:16 ?1075次閱讀

    引進(jìn)白光干涉儀管控微流控芯片形貌,性能大幅提升

    白光干涉儀納米級(jí)管控微流控芯片表面粗糙度,以及微流道高度和寬度,提升微流控產(chǎn)品性能與質(zhì)量,滿足不同客戶需求。
    的頭像 發(fā)表于 05-29 17:34 ?604次閱讀
    引進(jìn)<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>管控微流控芯片形貌,性能大幅提升

    VirtualLab Fusion:用于光學(xué)檢測(cè)的斐索干涉儀

    摘要 斐索干涉儀是工業(yè)上常見(jiàn)的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,通常用于高精度測(cè)試光學(xué)表面的質(zhì)量。在VirtualLab Fusion中通道配置的幫助下,我們建立了一個(gè)Fizeau干涉儀,并將其用于測(cè)試不同的光學(xué)表面
    發(fā)表于 05-28 08:48

    FRED應(yīng)用:天文光干涉儀

    干涉儀中光線的光程差會(huì)隨著角度的增大而增大。探測(cè)器上生成的干涉圖樣的一些例子如圖2所示。 圖2.左:角度范圍為1弧秒的恒星在探測(cè)器上的白光干涉圖樣,
    發(fā)表于 04-29 08:52

    納米級(jí)形貌快速測(cè)量,優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展

    研究摩擦學(xué),能帶來(lái)什么價(jià)值?從摩擦磨損到亞納米級(jí)精度,白光干涉儀如何參與摩擦學(xué)發(fā)展?
    的頭像 發(fā)表于 04-21 12:02 ?1156次閱讀
    納米級(jí)形貌快速測(cè)量,優(yōu)可測(cè)<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展

    一鍵對(duì)焦+一鍵調(diào)平,測(cè)量效率提升7倍 | 優(yōu)可測(cè)全新旗艦白光干涉儀發(fā)布

    測(cè)量精度小于1納米,性能進(jìn)入全球一梯隊(duì),優(yōu)可測(cè)旗艦白光干涉儀發(fā)布
    的頭像 發(fā)表于 03-27 11:03 ?1054次閱讀
    一鍵對(duì)焦+一鍵調(diào)平,測(cè)量效率提升7倍 | 優(yōu)可測(cè)全新旗艦<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>發(fā)布

    入駐眾多科研機(jī)構(gòu),優(yōu)可測(cè)白光干涉儀助力前沿成果發(fā)布

    近年來(lái),優(yōu)可測(cè)白光干涉儀在科研領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用,被多科研論文使用,在CFRP/Al鉆孔監(jiān)測(cè)、光纖微透鏡制造、超快3D打印等領(lǐng)域的研究成果,展示了其在高精度檢測(cè)方面的優(yōu)勢(shì)。
    的頭像 發(fā)表于 02-24 17:02 ?1129次閱讀
    入駐眾多科研機(jī)構(gòu),優(yōu)可測(cè)<b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>助力前沿成果發(fā)布

    白光干涉儀的膜厚測(cè)量模式原理

    白光干涉儀的膜厚測(cè)量模式原理主要基于光的干涉原理,通過(guò)測(cè)量反射光波的相位差或干涉條紋的變化來(lái)精確計(jì)算薄膜的厚度。以下是該原理的詳細(xì)解釋: 一、基本原理 當(dāng)光線照射到薄膜表面時(shí),部分光線
    的頭像 發(fā)表于 02-08 14:24 ?508次閱讀
    <b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>的膜厚測(cè)量模式原理

    白光干涉儀的光譜干涉模式原理

    白光干涉儀的光譜干涉模式原理主要基于光的干涉和光譜分析。以下是對(duì)該原理的詳細(xì)解釋: 一、基本原理 白光
    的頭像 發(fā)表于 02-07 15:11 ?563次閱讀
    <b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>的光譜<b class='flag-5'>干涉</b>模式原理

    白光干涉儀中的VSI和PSI以及VXI模式的區(qū)別

    白光干涉儀是一種高精度的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,它利用白光干涉原理來(lái)測(cè)量物體表面的形貌和高度信息。在
    的頭像 發(fā)表于 02-06 10:39 ?541次閱讀
    <b class='flag-5'>白光</b><b class='flag-5'>干涉儀</b>中的VSI和PSI以及VXI模式的區(qū)別

    邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實(shí)現(xiàn)、條紋特征及形成機(jī)理

    邁克耳孫干涉儀白光等傾干涉的實(shí)現(xiàn)、條紋特征及形成機(jī)理是光學(xué)研究中的重要內(nèi)容。以下是對(duì)這些方面的詳細(xì)解釋: 一、邁克耳孫干涉儀白光等傾
    的頭像 發(fā)表于 01-23 14:58 ?585次閱讀
    邁克耳孫<b class='flag-5'>干涉儀</b><b class='flag-5'>白光</b>等傾<b class='flag-5'>干涉</b>的實(shí)現(xiàn)、條紋特征及形成機(jī)理