高溫對(duì)產(chǎn)品的影響

溫度升高, 材料分子運(yùn)動(dòng)速度加劇, 分子動(dòng)能的增加將導(dǎo)致物體的膨脹、相態(tài)轉(zhuǎn)換和物理化學(xué)特性的變化, 從而引發(fā)：

1) 絕熱物質(zhì)失效 — 材料熱老化(導(dǎo)熱率增大)；

2) 變形、卡死、爆裂 (結(jié)構(gòu)損壞) — 高溫下氣態(tài)、液態(tài)、固態(tài)物體的膨脹或尺寸的增加；

3) 電氣性能變化、電接觸不良、介質(zhì)擊穿 — 電阻率、電導(dǎo)率增大, 表面高溫氧化, 材料間相互擴(kuò)散加劇

4) 潤(rùn)滑性能下降(磨損)或喪失(結(jié)構(gòu)損壞) — 化學(xué)反應(yīng)引起潤(rùn)滑劑變質(zhì), 粘度隨溫度升高而降低；

5) 物質(zhì)相態(tài)變化 — 高溫下物質(zhì)軟化、熔化、蒸發(fā)、升華；

6) 更高的溫度, 如達(dá)到居里點(diǎn)固體會(huì)失去磁性, 物體在強(qiáng)電介質(zhì)中會(huì)失去極性, 達(dá)到超導(dǎo)電性臨界溫度時(shí), 物體出現(xiàn)超導(dǎo)電性能

7) 有機(jī)材料退色、裂解或龜裂；

8) 密封殼體(炮彈、炸彈等)內(nèi)物質(zhì)因熱脹產(chǎn)生高壓；

9) 合成材料在高溫下放氣, 喪失真空度。

低溫對(duì)產(chǎn)品的影響

與高溫相反, 溫度降低, 材料分子運(yùn)動(dòng)速度減小, 導(dǎo)至物體的收縮, 流動(dòng)性變差, 甚至凝結(jié)變硬, 金屬材料會(huì)出現(xiàn)“冷脆”, 液態(tài)物質(zhì)出現(xiàn)“冷凝”、“固化”。外在性能表現(xiàn)為：

1)、潤(rùn)滑性能降低或喪失 — 潤(rùn)滑劑粘度增大甚至“固化”；

2)、材料耐沖擊能力降低, 韌性變壞 — “冷脆”或“粉化”；

3)、“縮差”產(chǎn)生結(jié)構(gòu)應(yīng)力, 導(dǎo)至結(jié)構(gòu)損壞或“咬死” — 物體的“冷縮” ；

4)、電子元器件(電阻值、電容值等)性能改變；

5)、水的冷凝和結(jié)冰會(huì)導(dǎo)至電氣特性和機(jī)械特性變壞；

6)、燃燒效率降低；

7)、變壓器及機(jī)電部件性能改變；

8)、減振器剛性增加, 沖擊強(qiáng)度改變;

9)、對(duì)于受約束的光學(xué)器件產(chǎn)生靜疲勞。

溫濕度環(huán)境試驗(yàn)條件

1 試驗(yàn)樣品應(yīng)在不包裝、不通電、準(zhǔn)備使用狀態(tài)或標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的其它狀態(tài)進(jìn)行試驗(yàn)，條件試驗(yàn)開(kāi)始時(shí)，試驗(yàn)樣品的溫度應(yīng)是試驗(yàn)室溫度。

2 在低溫和高溫下的試驗(yàn)時(shí)間t1，取決于試驗(yàn)樣品的熱容量，試驗(yàn)時(shí)間應(yīng)為3h、2h、1h、30min或 10min，由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，若有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)未規(guī)定試驗(yàn)時(shí)間時(shí)，則為3h。

3 低溫箱內(nèi)溫度預(yù)先調(diào)節(jié)到要求的低溫TA，然后把試驗(yàn)樣品放入箱內(nèi)。

4 低溫箱的溫度應(yīng)在TA下保持規(guī)定時(shí)間t1， t1值包括放入試驗(yàn)樣品后箱內(nèi)溫度恢復(fù)到TA所需的時(shí)間，該時(shí)間不應(yīng)大于0.1t1。注:t1試驗(yàn)時(shí)間，是從試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱的瞬間算起。

5 轉(zhuǎn)換時(shí)間t2 試驗(yàn)樣品從低溫箱中取出并轉(zhuǎn)移到高溫箱中，轉(zhuǎn)換時(shí)間t2，包括從一個(gè)箱取出和放入另一個(gè)箱的時(shí)間，以及在試驗(yàn)室環(huán)境溫度下停頓的時(shí)間。轉(zhuǎn)換時(shí)間分為下列三種，由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)要求自定:2～3min，20～30s；<10s。

6 高溫箱的溫度應(yīng)在高溫TB下保持要求的時(shí)間t1。t1包括放入試驗(yàn)樣品后箱內(nèi)溫度恢復(fù)到穩(wěn)定狀態(tài)的過(guò)程時(shí)間，該時(shí)間不應(yīng)大于0.1t1。注：試驗(yàn)時(shí)間t1，是從試驗(yàn)樣品放入箱內(nèi)的瞬間算起。

7 把試驗(yàn)樣品按5規(guī)定的轉(zhuǎn)換時(shí)間t2，轉(zhuǎn)移到低溫箱，進(jìn)行下一個(gè)循環(huán)。

8 每一個(gè)循環(huán)由兩個(gè)試驗(yàn)時(shí)間t1，和兩個(gè)轉(zhuǎn)換時(shí)間t2，組成。

9 除非有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)另有規(guī)定，試驗(yàn)樣品應(yīng)按3～8各個(gè)程序經(jīng)受5次循環(huán)。

10 最后一個(gè)循環(huán)結(jié)束時(shí)，試驗(yàn)樣品應(yīng)按規(guī)定進(jìn)行恢復(fù)程序。