手持式藍(lán)光3D三維掃描儀的掃描方式是:
第一種二維掃描儀:點(diǎn)測(cè)量。適合做物體表面形位公差檢測(cè)用。
通過(guò)每一次的測(cè)量點(diǎn)反映物體表面特征，優(yōu)點(diǎn)是精度高，但速度慢，如果要做逆向工程，只能在測(cè)量高精密形位公差要求的物體上有優(yōu)勢(shì).
第二種三維掃描儀:線測(cè)量，適合掃描中小件物體，掃描景深小(一般只有5公分)，精度較高，此代系統(tǒng)是發(fā)展比較成的,其新產(chǎn)品最高精度已經(jīng)達(dá)到0.01微米。所以，精度上，其比肩點(diǎn)掃描。速度上已有極大地提高。在高精度工業(yè)設(shè)計(jì)領(lǐng)域，將有廣闊用途.通過(guò)一段(一般為幾公分，激光線過(guò)長(zhǎng)會(huì)發(fā)散》有效的激光線照射物體表面，再通過(guò)傳感器得到物體表面數(shù)據(jù)信息。

第二種二維掃描儀: 面測(cè)量
用于3D檢測(cè):
金檢測(cè)和公差分析;檢具檢測(cè);CAD比對(duì);大型金屬構(gòu)架測(cè)。
通過(guò)一組(一面光)光柵的位移，再同時(shí)經(jīng)過(guò)傳感器而采集到物體表面的數(shù)據(jù)信息.