chinese直男口爆体育生外卖, 99久久er热在这里只有精品99, 又色又爽又黄18禁美女裸身无遮挡, gogogo高清免费观看日本电视,私密按摩师高清版在线,人妻视频毛茸茸,91论坛 兴趣闲谈,欧美 亚洲 精品 8区,国产精品久久久久精品免费

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

如何判定雜散來源?

analog_devices ? 來源:未知 ? 2023-08-21 18:20 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

直接數(shù)據(jù)頻率合成器(DDS)因能產生頻率捷變且殘留相位噪聲性能卓越而著稱。另外,多數(shù)用戶都很清楚DDS輸出頻譜中存在的雜散噪聲,比如相位截斷雜散以及與相位-幅度轉換過程相關的雜散等。此類雜散是實際DDS設計中的 有限相位和幅度分辨率造成的結果。

其他雜散源與集成DAC相關——DAC的采樣輸出產生基波和相關諧波的鏡像頻率。另外,因DAC非理想的開關屬性可能導致低階諧波的功率水平升高。最后一種雜散源是在系統(tǒng)時鐘頻率的基波與任何內部分諧波時鐘(例如,ADI直接數(shù)字頻率合成器提供的SYNC_CLK)之間產生的混頻產物。

上述雜散噪聲的全部已知來源都可根據(jù)相對于DDS/DAC輸出處基波信號的頻率偏移進行預測。以下內容旨在幫助您確定DDS輸出信號頻譜中的雜散源。如果通過改變DDS頻率調諧字使雜散與DDS/DAC相關,則并不難確定雜散源。這是因為改變調諧字時,上述所有雜散噪聲的頻率偏移均隨基波變化。

如何確定DDS輸出信號頻譜中的雜散源例如,24 MHz基波有一個72 MHz的三階諧波。如果DDS系統(tǒng)時鐘為100 MHz,則三階諧波與系統(tǒng)時鐘的產物會折回到至28 MHz,與基波僅偏移4 MHz。如果基波增加10 KHz至24.010 MHz,則新的后疊積將偏移基波3.97MHz,這是可以提前預測的。 如果無論頻率調諧字如何變化,雜散相對基波的頻率偏移均保持不變,則DDS/DAC不是雜散源。相反,如果雜散相對基波的頻率偏移隨DDS調諧改變而變化,則DDS/DAC很可能是雜散源。通過確保頻率調諧字變化包括頻率調諧字的截斷部分和未截斷部分,可為發(fā)現(xiàn)雜散源帶來方便。截斷部分一般為調諧字的14位至19位(MSB)。

當DDS頻率調諧字發(fā)生變化時,相對基波(載波)的頻率偏移不發(fā)生改變的雜散一般分為兩類:

  • 要么以某種方式耦合至DDS電源;
  • 要么是驅動DDS的參考時鐘源上的一個元件。

注意,如果DDS的內部參考時鐘乘法器(PLL)被啟用,則DDS輸出同樣存在相對于基波的固定邊帶雜散,其頻率偏移等于參考時鐘頻率。

參考時鐘源雜散

圖1所示為DDS的500 MHz參考時鐘,由一個100 KHz音實現(xiàn)10%的AM調制。該參考時鐘源是一款Rohde andSchwartz具有調制功能的SMA信號發(fā)生器。圖1中的灰色線為無調制條件下的參考時鐘。

067b4576-400b-11ee-ac96-dac502259ad0.jpg

圖1. DDS的500 MHz參考時鐘

(由一個100 kHz音(藍色線)實現(xiàn)10%的AM調制)

圖2中,同一100 KHz音以完全相同的頻率偏移傳輸?shù)紻DS/DAC輸出,不受調諧字頻率影響。圖2中的頻率調諧字表現(xiàn)出四個相互疊加的不同DDS載波。注意,在全部四個載波改變時,參考時鐘雜散的頻率偏移保持不變;但該雜散的幅度以20 log(x)為單位發(fā)生變化,其中,x為參考時鐘頻率與DDS載波頻率之比。

068cfbc2-400b-11ee-ac96-dac502259ad0.jpg

圖2. 四個DDS輸出載波表現(xiàn)出100 kHz雜散產生的效應,該雜散對DDS的參考時鐘(500 MHz)進行AM調制

開關電源雜散

圖3和圖4展示了DDS電源上的雜散(如開關電源)與DDS輸出之間的關系。注意,如前所述,在相對于相同的載波變化時,它們也保持相同的固定頻率偏移。

06a6f5b8-400b-11ee-ac96-dac502259ad0.jpg

圖3. 四個DDS輸出載波表現(xiàn)出150 kHz雜散產生的效應,該雜散對DDS的電源進行AM調制

圖4為DDS電源的實際時域,其中,一個150 kHz調制音施加于DDS電源之上,以仿真電源開關雜散。

06c0987e-400b-11ee-ac96-dac502259ad0.png

圖4. 150 kHz音(16 mV p-p)通過一個函數(shù)發(fā)生器施加于DDS電源之

DDS參考時鐘或電源(一般為AVDD)上的雜散會對DDS輸出產生一定的影響。結果,當載波變化時,以載波為中心的邊帶將保持不變。因此,調諧字發(fā)生變化時,如果在DAC/DDS輸出中觀察到固定雜散,則應檢查參考時鐘源和DDS電源中是否存在雜散。

06dfe940-400b-11ee-ac96-dac502259ad0.gif ? ?查看往期內容↓↓↓


原文標題:如何判定雜散來源?

文章出處:【微信公眾號:亞德諾半導體】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。


聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 亞德諾
    +關注

    關注

    6

    文章

    4680

    瀏覽量

    16595

原文標題:如何判定雜散來源?

文章出處:【微信號:analog_devices,微信公眾號:analog_devices】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    PCB工程師必看!通孔、盲孔、埋孔的判定技巧

    一站式PCBA加工廠家今天為大家講講多層板上通孔,埋孔,盲孔怎么判定?多層板上通孔,埋孔,盲孔判定方法。在多層印制電路板(PCB)中,通孔、埋孔和盲孔的判定主要基于其穿透層次和位置,以下是具體
    的頭像 發(fā)表于 12-03 09:27 ?106次閱讀
    PCB工程師必看!通孔、盲孔、埋孔的<b class='flag-5'>判定</b>技巧

    什么是晶振的散電容?

    什么是晶振的散電容?晶振的散電容,也叫做寄生電容,是指電路中非人為設計、由物理結構自然產生的、有害的隱藏電容。它為什么重要?(影響)散電容之所以關鍵,是因為它會直接影響晶振的振蕩頻率精度。核心
    的頭像 發(fā)表于 11-13 18:13 ?134次閱讀
    什么是晶振的<b class='flag-5'>雜</b>散電容?

    太陽光模擬器太空環(huán)境應用:光學載荷的散光性能測試

    在太空環(huán)境中運行的地球觀測或天文探測衛(wèi)星,其光學載荷承擔著獲取高質量圖像與科學數(shù)據(jù)的關鍵任務。然而,強烈的太陽光及其引發(fā)的散光可能通過非理想路徑進入光學系統(tǒng),形成眩光、鬼像或背景噪聲,嚴重影響
    的頭像 發(fā)表于 11-12 18:02 ?115次閱讀
    太陽光模擬器太空環(huán)境應用:光學載荷的<b class='flag-5'>雜</b>散光性能測試

    自動駕駛事故如何判定?誰應負主要責任?

    個問題,那就是如果在使用組合輔助駕駛階段出現(xiàn)事故,這個事故應該如何判定?責任應該由誰來承擔? 從智駕等級分類看責任判定 根據(jù)美國汽車工程師協(xié)會的分類,將自動駕駛分為了L0到L5共6個分級,低等級(L0–L2)仍以人做為主要
    的頭像 發(fā)表于 10-09 17:58 ?486次閱讀
    自動駕駛事故如何<b class='flag-5'>判定</b>?誰應負主要責任?

    IGBT功率模塊動態(tài)測試中夾具散電感的影響

    在IGBT功率模塊的動態(tài)測試中,夾具的散電感(Stray Inductance,Lσ)是影響測試結果準確性的核心因素。散電感由測試夾具的layout、材料及連接方式引入,會導致開關波形畸變、電壓尖峰升高及損耗測量偏差。
    的頭像 發(fā)表于 06-04 15:07 ?1522次閱讀
    IGBT功率模塊動態(tài)測試中夾具<b class='flag-5'>雜</b>散電感的影響

    散、50 MHz 至 2.1 GHz 單通道小數(shù) N 分頻頻率合成器 skyworksinc

    電子發(fā)燒友網(wǎng)為你提供()無散、50 MHz 至 2.1 GHz 單通道小數(shù) N 分頻頻率合成器相關產品參數(shù)、數(shù)據(jù)手冊,更有無散、50 MHz 至 2.1 GHz 單通道小數(shù) N 分頻頻率合成器
    發(fā)表于 05-23 18:30
    無<b class='flag-5'>雜</b>散、50 MHz 至 2.1 GHz 單通道小數(shù) N 分頻頻率合成器 skyworksinc

    stm32G474的flash模式如何判定?

    是2k. 手冊判定依據(jù):讀取flash option register,其中BFB2位是0,表示是單bank模式。 而我這邊不管是打印出寄存器狀態(tài)值,還是用cube工具讀出來,都是BFB2為0
    發(fā)表于 03-12 08:18

    dac5682散可能是在哪個環(huán)節(jié)產生的,應如何有效避免?

    240KHz左右出現(xiàn)較大散信號,抑制在50dB左右,嚴重影響到后面的信號處理。 問題:該散可能是在哪個環(huán)節(jié)產生的,應如何有效避免?
    發(fā)表于 02-14 06:49

    高速信號如何判定?常見的高速信號有哪些?

    隨著信息技術的飛速發(fā)展,高速信號在互聯(lián)網(wǎng)傳輸、計算機內部通信、移動通信及衛(wèi)星通信等領域中廣泛應用。那么,如何判定一個信號是否為高速信號呢?,常見的高速信號類型有哪些呢? 高速信號判定方法 1.一般
    的頭像 發(fā)表于 02-11 15:14 ?1288次閱讀
    高速信號如何<b class='flag-5'>判定</b>?常見的高速信號有哪些?

    如何判定線性穩(wěn)壓器是否存在過熱問題?工作溫度范圍的重要性影響多方面因素

    如何判定線性穩(wěn)壓器是否存在過熱問題?工作溫度范圍的重要性影響多方面因素
    的頭像 發(fā)表于 02-06 09:37 ?882次閱讀

    ADC10D1500采樣數(shù)據(jù)散的原因?

    系列FPGA讀取ADC的量化數(shù)據(jù),使用Matlab對數(shù)據(jù)做FFT,觀察信號頻譜,在750MHZ處有明顯散,該硬件電路板為個人設計電路板,現(xiàn)在找不到引起750M散的原因,圖片在附件中,忘指點,十分感謝!
    發(fā)表于 01-08 07:22

    ADS5407散較差的原因?

    的SFDR(無散動態(tài)范圍)比較差,只有40~50dbc,而官方手冊上描述的SFDR在70dbc以上,我們做了以下措施: 修改了時鐘輸入端的匹配網(wǎng)絡,前期ADS5407時鐘輸入信號特別差,如下圖所示: 修改
    發(fā)表于 01-08 06:30

    邊帶散和開關散的含義是什么?會對電路造成什么影響?

    我在看ADC供電部分的時候,看到邊帶散和開關散這兩詞不知道它的含義。請問下大家它們的含義以及它們將會對電路造成什么影響? 謝謝大家了!?。。?!
    發(fā)表于 12-31 06:32

    DAC3482存在散怎么解決?

    當前DTRU產品中使用了DAC3482,故障率達到12%,從FPGA側IQ數(shù)據(jù)到達DAC3482,從3482出口處測量到的信號,發(fā)現(xiàn)近端存在散。具體見下圖所示。 另外做了如下實驗: 1、將
    發(fā)表于 12-16 06:23

    使用ADC12DJ3200做采樣系統(tǒng)時,發(fā)現(xiàn)SFDR受限于交織散,有什么方法降低Fs/2-Fin處的散?

    我在使用ADC12DJ3200做采樣系統(tǒng)時,發(fā)現(xiàn)SFDR受限于交織散,在開了前景校準和offset filtering后,F(xiàn)s/4和Fs/2處的散明顯變小,但是Fs/2-Fin散仍然很大。請問有什么方法降低Fs/2-Fi
    發(fā)表于 12-13 15:14