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高精度、低噪聲、快速采樣——虹科ADC/DAC芯片測試平臺

虹科測試測量 ? 2023-08-18 08:07 ? 次閱讀
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HK-ATX7006A是具有9槽的ATE測試系統(tǒng),模塊化,可拓展,并配套分析軟件ATView和WaveAnalyzer。

產品特點

支持線性和動態(tài)測試

DIO同步時鐘模塊

可測試8-24位的數模轉換器

采樣率200/400MHz

HK-ATX7006A 是一款完全集成的解決方案,用于測試 ADC、DAC 和其他模擬功能。它結合了極高的精度、低噪聲和快速采樣以及卓越的易用性。傳統(tǒng)上,數據轉換器是使用一整套臺式儀器、濾波器、開關矩陣和用戶制作的軟件來測試的。需要許多工程時間才能獲得可靠的結果。HK-ATX7006A 是一款適用于所有數據轉換器測試和測試方法的單一儀器。以下是三種可拓展的模塊概況,分別是任意波形發(fā)生器、數字化儀和其他模塊。

波形發(fā)生器模塊

2f4976ce-3d5b-11ee-ad04-dac502259ad0.png

HK-AWG22

·2 MHz 最大采樣速度

· 22位分辨率

·差分或單端輸出

·8 個輸出范圍,從 80mV 到 10.20Vpp

2fb60f6e-3d5b-11ee-ad04-dac502259ad0.png

HK-AWG20

·2 MHz 最大采樣速度

·20位分辨率

·差分輸出

·8 個輸出范圍

301a2cf6-3d5b-11ee-ad04-dac502259ad0.png

HK-AWG18

·300MHz最大采樣速度

·600 MS/s 和 1.2 GS/s 插值模式

·18位分辨率

·差分或單端輸出

30702bce-3d5b-11ee-ad04-dac502259ad0.png

HK-AWG16

·400MHz最大采樣速度

·16位分辨率

·差分輸出

·8 個輸出范圍

數字化儀

HK-WFD22

30ebe282-3d5b-11ee-ad04-dac502259ad0.png

1 MHz 采樣率,22 位分辨率

具有 10 個范圍的全差分輸入

100 MΩ 低 I 偏置、1 MΩ 超低噪聲輸入

1.5 ppm 典型線性度

±(25 μV + 10 ppm 量程)絕對精度

HK-WFD20

31345a26-3d5b-11ee-ad04-dac502259ad0.png

2 MHz 最大采樣速度

20位分辨率

全差分輸入

8 個輸入范圍

可選擇濾波器以減少帶外噪聲

HK-WFD16

31d4d3e8-3d5b-11ee-ad04-dac502259ad0.png

180 MHz 最大采樣速度

16位分辨率

全差分輸入

16 個輸入范圍

可選擇濾波器以減少帶外噪聲

其他模塊

精密DC

HK-DRS20

32891b82-3d5b-11ee-ad04-dac502259ad0.png

高精度直流電源

雙通道,20位分辨率

2ppm 線性度

+/-10 V 輸出擺幅

最大+/-10 mA 電流,1 μV/mA 負載調節(jié)

設備供電模塊

HK-DPS16

32d07054-3d5b-11ee-ad04-dac502259ad0.png

雙通道電源,低輸出噪聲

16位分辨率,+/-12V 輸出范圍

2 或 4 線輸出配置

最大 200 mA 具有可編程電流限制

PSRR 測量的調制能力

設備供電模塊

HK-DIO-II

33124a9c-3d5b-11ee-ad04-dac502259ad0.png

多模式數字源/采集模塊

非常低的抖動時鐘生成

低速模式下數據速率高達 50 MHz

高速模式下數據速率高達 200 MHz

通過前置時鐘輸出高達 1 GHz 時鐘速率

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