芯片老化測試的目的是為了評估芯片長期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性，以確保芯片及系統的工作穩(wěn)定性。往期我們分享了芯片老化測試的內容及注意事項，今天我們將分享如何用納米軟件半導體老化測試系統測試芯片老化。

芯片老化測試的設計

在進行老化測試前應該制定好測試計劃和流程，制定好測試條件、參數等。

1. 選擇合適的測試負載

根據芯片的應用場景和預期使用條件，選擇好測試負載，包括電壓、頻率、溫度等參數。

2. 設計測試持續(xù)時間

老化測試的持續(xù)時間一般根據芯片的預期使用壽命和應用場景確定，數小時至數千小時不等。

3. 確定測試環(huán)境

測試環(huán)境包括溫度、濕度等環(huán)境條件，模擬實際使用中的環(huán)境條件。

4. 制定測試計劃

根據測試需求和時間限制，制定詳細的測試計劃，包括測試開始時間、持續(xù)時間、測試參數等。

ATECLOUD-IC芯片測試系統

ATECLOUD-IC芯片測試系統進行老化測試

ATECLOUD-IC是專門針對于各類芯片、半導體器件、分立器件等測試的自動化測試系統，采取軟硬件結構，滿足芯片測試指標，提供整體解決方案。用ATECLOUD-IC進行芯片老化測試的方法如下：

1. 連接測試設備

將待測產品與計算機、納米BOX(一種邊緣計算設備)連接，確保可以傳輸通信。

2. 搭建測試項目，設置測試參數

在項目維護界面中選擇儀器型號，拖拽測試指令搭建測試流程，并根據要求設置相應的測試參數，如測試持續(xù)時間、電壓、頻率、溫度等。

3. 運行測試

在方案運行界面點擊“運行”開始芯片老化測試，啟動芯片老化試驗。系統會以指標形式反饋測試結果。

4. 監(jiān)測記錄數據、數據分析

該系統有數據洞察功能，會采集、匯總、管理所測數據，并對測試數據進行分析和處理。數據分析支持圖表形式展示，方便觀測數據，如折線圖、柱狀圖、餅狀圖等。用戶還可以自定義數據報告，選擇數據模板，生成導出報告。

審核編輯 黃宇