電源芯片測試貫穿著研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)過程的始終,目的就是為了通過反復(fù)檢測來確保電源芯片的性能、質(zhì)量和可靠性,保證正常工作運(yùn)行。電源芯片測試涉及到許多測試項(xiàng)目,并且有著具體的測試規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)和方法。本文納米軟件將介紹電源芯片輸入電壓范圍的測試規(guī)范。
電源芯片測試規(guī)范介紹
適用范圍:主要是基于PCB板焊接的電源芯片,如DC/DC、LDO電源芯片等,也包括小功率DC/DC電源模塊。
測試工具:可調(diào)電源、電子負(fù)載、示波器、萬用表
測試環(huán)境:溫度(25±2℃);濕度(60%~70%);大氣壓強(qiáng)(86kPa~106kPa)
測試原理圖:
電源芯片測試原理圖
電源芯片輸入電壓范圍測試方法
輸入電壓范圍指該芯片可以接受的輸入電壓范圍。根據(jù)使用場景選擇合適的電源芯片確??梢哉9ぷ?。檢測輸入電壓范圍的具體步驟如下:
調(diào)節(jié)電子負(fù)載,保證電源芯片滿載工作;
調(diào)節(jié)可調(diào)電源輸出為下限值VIN_MIN,記錄此時(shí)對應(yīng)輸出電壓,記為V1;
調(diào)節(jié)可調(diào)電源輸出為上限值VIN_MAX,記錄此時(shí)輸出電壓,記為V2;
電源芯片額定輸出為V0;
分別計(jì)算{|V1—V0|/V0}×100%,{|V2-V0|/V0}×100%,判斷此時(shí)的輸出是否滿足精度要求。
用納米軟件ATECLOUD-POWER電源測試系統(tǒng)測試輸入電壓范圍,不僅可以自動(dòng)存儲(chǔ)管理測試數(shù)據(jù),而且還可以對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行多方面圖表分析,以指標(biāo)形式反饋測試結(jié)果。電源測試系統(tǒng)可以幫助實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試,解決傳統(tǒng)手動(dòng)測試繁瑣復(fù)雜、手動(dòng)記錄數(shù)據(jù)、人工分析數(shù)據(jù)等痛點(diǎn),助力高效能測試和生產(chǎn)。
審核編輯:湯梓紅
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電源輸入電壓范圍裕量太小導(dǎo)致的設(shè)備運(yùn)行故障

如何在電源的標(biāo)稱輸入電壓范圍之內(nèi)減小突發(fā)輸入電壓瞬變的中文概述

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