1、主要內(nèi)容：分析運放電路閉環(huán)增益與1/Beta之間關(guān)系

VOUT/VIN閉環(huán)增益并非總與1/β一致。下圖中交流小信號反饋由RI以及與其并聯(lián)的Rn-Cn網(wǎng)絡(luò)構(gòu)成，所以反饋信號與Rn-Cn相關(guān)。隨著頻率增加，Rn-Cn網(wǎng)絡(luò)效果反映在在1/β曲線中。因此可將本例看成反相求和運放電路，即通過RI的VIN與通過Rn-Cn網(wǎng)絡(luò)到地的信號相加。低頻時VOUT/VIN不受Rn-Cn網(wǎng)絡(luò)影響，增益約為20dB。隨著環(huán)路增益(Aolβ) 被Rn-Cn網(wǎng)絡(luò)拉低至1 (0dB)，即無環(huán)路增益用于糾正誤差，此時VOUT/VIN將在fcl以上頻率跟隨Aol曲線變化。

VOUT/VIN與1/β

圖中(上下、左右)：Aol、SSBW(小信號帶寬);

在fcl上Aolβ=0(dB)、無環(huán)路增益用于糾正誤差、VOUT/VIN響應(yīng)跟隨Aol曲線;

注：1/β為運放交流小信號閉環(huán)增益、VOUT/VIN常常與1/β不同

2、仿真分析PS——Test1

2.1頻域測試

環(huán)路測試電路

交流仿真設(shè)置

閉環(huán)增益DB(V(OUT1))由RF1和RI1決定;

1/β—DB(V(OUT3)/V(FB2))由RF1和RI1與Rn1和Cn1共同決定;

所以VOUT/VIN與1/β不同!

增加Rn1和Cn1可用于環(huán)路穩(wěn)定性補(bǔ)償設(shè)計

2.2瞬態(tài)分析

瞬態(tài)測試電路：反相放大10倍

瞬態(tài)仿真設(shè)置

輸入、輸出電壓波形：-10倍放大，穩(wěn)態(tài)工作時放大倍數(shù)與Rn1和Cn1無關(guān);

輸出電壓轉(zhuǎn)換完成瞬間由于Cn1存儲電量需要通過Rn1放電，所以輸出電壓產(chǎn)生尖峰

3、總結(jié)：

通常VOUT/VIN與1/β不同!增加Rn1和Cn1可用于頻率補(bǔ)償，提高環(huán)路穩(wěn)定性。