工業(yè)與醫(yī)療應用中，在較高輸入電壓條件下，輸出正壓和負壓的應用需求越來越多。

在應對輸出負壓條件時，傳統(tǒng)解決方案電路復雜且體積龐大，研發(fā)周期較長。以半導體測試為例，新一代的測試機通常需要具備以下特點：

1、高度集成的電路方案，減小板卡體積；

2、高要求的測試機體溫度把控，最小化溫升帶來的誤差；

3、優(yōu)異的信噪比 (SNR) 性能，保證高精度的測試數據。

不難看出測試機電源的主要需求為低輸出紋波、低溫升、高集成度，以滿足日益復雜的 IC 特性參數精確測試，這對電源設計提出了新的挑戰(zhàn)。

圖1：ATE電源板卡電源軌

目前市場上 IC 自動測試機的一些電源板卡電源軌常用（找元器件現貨上唯樣商城）架構如圖1所示，通過將24V母線電壓經過變換器轉換為128通道的功放和主控 FPGA 的供電。

下面，我們來看看幾個實際應用的案例

在24V轉1.8V的應用中，輸出電壓紋波小，無風條件下溫升50℃左右。

測試條件1

輸入24V，輸出1.8V，輸出電容6*22μF，開關頻率600kHz，兩相并聯輸出：

針對一些數據轉換芯片，特別是數字模擬轉換器（DAC）和模擬數字轉換器（ADC）的 ATE 方案中需要負電源軌時，MPM3596 仍然能輕松應對，穩(wěn)定性與熱性能表現良好。

圖2 數模轉換芯片 ATE 功放（PA）供電

測試條件2

輸入12V，輸出-12V，輸出電容6*22μF，開關頻率600kHz，兩模塊四相并聯輸出：

測試條件3

輸入12V，輸出-5.5V，輸出電容6*22μF，開關頻率600kHz，兩相并聯輸出：

除了大家最關心的power性能特點外，MPM3596 更擁有以下絕技：

1靈活性

2可靠性

3高集成度

審核編輯 黃宇