驅動電壓尖峰抑制方法
【背景】高頻、高速開關是碳化硅(SiC)MOSFET的重要優(yōu)勢之一,這能讓系統(tǒng)效率顯著提升,但也會在寄生電感和電容上產(chǎn)生更大的振蕩,從而在驅動電壓上產(chǎn)生更大的尖峰。
驅動電壓尖峰會對系統(tǒng)有諸多不良影響。首先,驅動電壓尖峰若超出SiC MOSFET的驅動電壓安全范圍,可能導致器件誤開關,甚至損壞器件。其次,尖峰電壓可能產(chǎn)生電磁干擾,影響系統(tǒng)EMC指標。最后,驅動電壓尖峰帶來的高頻震蕩還會導致電流波形不穩(wěn)定,從而影響系統(tǒng)的性能和穩(wěn)定。
因此,抑制驅動電壓尖峰,成為發(fā)揮SiC MOSFET優(yōu)勢的關鍵課題。本系列上篇講解過:“驅動電壓尖峰復現(xiàn)與分析”,本篇主講第二部分:“驅動電壓尖峰的抑制方法”。

雙脈沖測試方法
瞻芯電子采用經(jīng)典的雙脈沖測試方法,來復現(xiàn)分析SiC MOSFET的開關過程中驅動電壓尖峰,以便采取對策。在雙脈沖測試中,Q1和Q2為瞻芯電子1200V 80mΩ SiCMOSFET(IV1Q12080T3/T4),下管Q2始終保持關斷,上管Q1則進行開關動作。當上管Q1開通時電流路徑為紅色實線,當上管Q1關斷時電流路徑為紅色虛線,如下圖1:

圖1:雙脈沖測試電路及過程
抑制尖峰對策一:并聯(lián)二極管鉗位
利用二極管的單向導通特性,在MOSFET柵極和源極并聯(lián)二極管,來鉗位因米勒效應和di/dt在源極的震蕩導致的驅動電壓負尖峰。如下圖2所示,當上管Q1關閉時,高dv/dt導致器件米勒電容放電,同時源極產(chǎn)生自感電動勢,這些導致Vgs產(chǎn)生負尖峰,當負尖峰電壓超過二極管閾值電壓時,二極管將導通以消除Vgs的負尖峰。

圖2:MOSFET并聯(lián)二極管
在下列測試波形圖3中,Vgs負壓尖峰幾乎消除,但是在0V關斷的條件下,因寄生電感釋放能量,導致正尖峰增大到3.9V,存在誤開通風險。
所以二極管鉗位可以有效消除負尖峰,但是正尖峰風險增大,因此推薦搭配使用驅動負壓偏置,以避免MOSFET誤開通。

圖3:0V驅動,且并聯(lián)二極管

圖4:0V驅動,但無鉗位
抑制尖峰對策二:并聯(lián)電容
在-3.5V關斷下管Q2,且不加抑制尖峰對策時,驅動電路如下圖5。當首次關閉上管Q1時的波形如圖6,當開通上管Q1時的波形如圖7,都出現(xiàn)較大正負尖峰:

圖5:不加抑制時,上管Q1關閉的電路

若利用電容的穩(wěn)壓和濾波特性,在MOSFET柵極和源極并聯(lián)合適的電容,可吸收和平滑驅動電壓正負尖峰,如圖8:

圖8:并聯(lián)電容時,上管Q1關閉
當上管Q1關閉后,在Vds降低到0V后,Vgs負壓尖峰不再下拉,如下圖9;當上管Q1開通時,Vgs正尖峰也被限制得較低,如下圖10:

如果在系統(tǒng)中有高頻震蕩,還建議在電容處串聯(lián)阻尼電阻,會有更好的尖峰震蕩抑制效果,電路如下圖11:

圖11:MOSFET并聯(lián)電容+電阻
在并聯(lián)電容上,串聯(lián)電阻的驅動波形如下圖12、13:

雖然串聯(lián)電阻后對主尖峰的吸收效果略有減弱,但對于TO247-3封裝的器件,考慮源極引腳會導致管芯上的Vgs電壓尖峰和持續(xù)震蕩,所以加吸收電阻有更好的阻尼效果。
抑制尖峰對策三:采用開爾文源極驅動
因為TO247-4封裝器件具有開爾文源極引腳,可與功率回路源極分開,讓源極電感無法影響驅動電壓,因而能有效抑制源極管腳寄生電感引起的驅動電壓尖峰,其電路示意圖如下圖14:
圖14:采用開爾文源極引腳驅動
下列的波形圖中,采用-3.5V驅動電壓關斷的SiC MOSFET,TO247-4封裝器件因具備開爾文源極引腳,對比TO247-3器件,其驅動電壓尖峰被顯著抑制,其中負壓尖峰由-7.4V提升到-6.9V,正壓尖峰由2.58V降低到-2.99V,如下圖15-16:

圖15:有開爾文源極引腳驅動的波形

圖16:無開爾文源極引腳驅動的波形
如果SiC MOSFET選用TO247-4封裝,同時并聯(lián)電容和電阻,還能進一步吸收驅動電壓尖峰,抑制持續(xù)震蕩,總體效果更好,如下圖17-18:
圖17:采用TO247-4+RC吸收

圖18:采用開爾文源極引腳驅動+RC吸收的波形
綜合對比上述3種抑制對策,效果最佳的方式為采用具有開爾文源極的TO247-4封裝器件,并合理搭配吸收電容和電阻。
米勒鉗位應用對策
為應對SiC MOSFET較低的閾值電壓(Vth),瞻芯電子開發(fā)了SiC專業(yè)·比鄰驅動芯片TM IVCR1401,其內部集成負壓驅動與退保和保護功能。在下列驅動電路中,加入了2個鉗位MOSFET,如下圖19:
圖19:SiC專用驅動芯片IVCR1401+米勒鉗位管
當主MOSFET關斷時,鉗位管導通,以短接驅動電阻Rg,等效于米勒鉗位,能顯著抑制驅動電壓主尖峰,如下圖20:

圖20:對比有無米勒鉗位管的波形
總 結
1、驅動電壓尖峰的主要原因有2點: -高dv/dt時的米勒電效應; -高di/dt在源極引腳寄生電感上產(chǎn)生的震蕩。
2、驅動電壓尖峰的最佳抑制方法為:采用開爾文源極引腳驅動,并搭配合適的電容和電阻,以吸收尖峰和震蕩;
3、對于TO247-3封裝,不建議用米勒鉗位,最多用電容串聯(lián)電阻的弱下拉,如下圖21:

圖21:對比TO247-3與TO247-4封裝的驅動回路
4、對于TO247-4封裝或驅動回路源極漏感小的電路,可用各種米勒鉗位對策;
5、建議驅動路徑盡量靠近器件引腳根部,規(guī)避長引腳的寄生電感。
審核編輯:劉清
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原文標題:SiC MOSFET驅動電壓尖峰分析與抑制(下)
文章出處:【微信號:瞻芯電子,微信公眾號:瞻芯電子】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。
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