傳統(tǒng)的幾何尺寸測(cè)量?jī)x器設(shè)備包括千分尺、角度尺、游標(biāo)卡尺等，這些儀器能夠滿足一般的幾何量測(cè)量需求。但是隨著科技的發(fā)展，越來越多高精度測(cè)量?jī)x器被應(yīng)用于幾何量測(cè)量領(lǐng)域。從納米級(jí)光學(xué)3D表面輪廓儀通過光學(xué)原理測(cè)量物體的三維形狀，到百米級(jí)激光跟蹤儀高精度（μm級(jí)）、大工作空間（百米級(jí)）的坐標(biāo)和空間姿態(tài)測(cè)量，大大提高了幾何尺寸測(cè)量?jī)x器設(shè)備的精度和效率：

1、光學(xué)3D表面輪廓儀
W系列光學(xué)3D表面輪廓儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸，從0.1nm級(jí)別的超光滑表面到數(shù)十微米級(jí)別的粗糙度表面，儀器均能實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。

2、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
三本精密儀器的三坐標(biāo)是蔡司的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，控制器、測(cè)頭測(cè)座、軟件全自主研發(fā)，安全可控。最大允許示值誤差（1.5+L/350）μm，測(cè)量行程從500mmx700mmx500mm延伸到800mmx1000mmx600mm，提供了豐富的計(jì)量解決方案。

3、粗糙度輪廓儀
粗糙度輪廓儀一體機(jī)一次測(cè)量同時(shí)評(píng)定輪廓和粗糙度參數(shù)。SJ5730具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍，分辨率高達(dá)0.1nm，系統(tǒng)殘差小于3nm。納米級(jí)大量程粗糙度測(cè)量，高精度、高穩(wěn)定性、高重復(fù)性特點(diǎn)，是大曲面測(cè)量（軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、軸承滾子）領(lǐng)域精細(xì)粗糙度測(cè)量的利器。

4、全自動(dòng)影像儀
全自動(dòng)影像儀0.1μm的光柵顯示分辨率，結(jié)合飛拍測(cè)量、圖像拼接、環(huán)光獨(dú)立升降、圖像匹配、無接觸3D掃描成像等功能，多方面滿足測(cè)量需求。

幾何尺寸測(cè)量?jī)x器設(shè)備是現(xiàn)代工程領(lǐng)域中的一項(xiàng)重要技術(shù)。通過準(zhǔn)確測(cè)量物體的形狀、尺寸等幾何屬性，可以為產(chǎn)品設(shè)計(jì)、工程測(cè)量等提供重要的依據(jù)。在測(cè)量過程中，我們需要了解基本原理和精密儀器，并注意選擇合適的儀器、控制環(huán)境因素，并提高操作人員的技術(shù)水平。只有這樣，我們才能獲得準(zhǔn)確、可靠的幾何量測(cè)量結(jié)果，為工程實(shí)踐提供有力支撐。

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