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電源測(cè)試系統(tǒng)如何測(cè)試開(kāi)關(guān)電源反復(fù)短路,提高測(cè)試效率?

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來(lái)源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2024-01-03 16:42 ? 次閱讀
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開(kāi)關(guān)電源反復(fù)短路測(cè)試

反復(fù)短路測(cè)試是開(kāi)關(guān)電源極限測(cè)試項(xiàng)目之一,是在各種輸入和輸出狀態(tài)下將開(kāi)關(guān)電源輸出短路,反復(fù)多次短路測(cè)試,檢測(cè)開(kāi)關(guān)電源是否可以實(shí)現(xiàn)保護(hù)或回縮,測(cè)試結(jié)束后之后,開(kāi)關(guān)電源是否可以自動(dòng)恢復(fù)正常運(yùn)行。反復(fù)短路測(cè)試是檢測(cè)開(kāi)關(guān)電源保護(hù)功能的方法之一,是衡量電源質(zhì)量和性能好壞的重要指標(biāo)。

開(kāi)關(guān)電源反復(fù)短路如何測(cè)試?

對(duì)開(kāi)關(guān)電源進(jìn)行反復(fù)短路測(cè)試,主要有以下步驟:

1. 空載到短路

在輸入電壓安全范圍內(nèi),讓開(kāi)關(guān)電源從空載到短路反復(fù)工作,短路時(shí)間為1s,放開(kāi)時(shí)間為1s,持續(xù)時(shí)間為2小時(shí)。測(cè)試結(jié)束后,判斷開(kāi)關(guān)電源是否能正常工作。

2. 滿載到短路

在輸入電壓安全范圍內(nèi),讓開(kāi)關(guān)電源從滿載到短路,保持短路狀態(tài)2小時(shí),然后短路放開(kāi),判斷開(kāi)關(guān)電源是否能夠正常工作。

3. 短路開(kāi)機(jī)

先將開(kāi)關(guān)電源的輸出短路,在開(kāi)關(guān)電源的輸入電壓范圍內(nèi)上電,重復(fù)測(cè)試10次后,短路放開(kāi),檢測(cè)開(kāi)關(guān)電源是否能夠正常工作。

在多次反復(fù)短路測(cè)試之后,開(kāi)關(guān)電源開(kāi)機(jī)后如果可以正常工作,開(kāi)機(jī)殼檢查,電路板及其它部分無(wú)異?,F(xiàn)象,那么開(kāi)關(guān)電源短路保護(hù)功能完好。

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電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試反復(fù)短路的優(yōu)勢(shì)

1. 實(shí)現(xiàn)智能自動(dòng)化測(cè)試,提高測(cè)試效率,確保測(cè)試結(jié)果可靠性。

2. 簡(jiǎn)化手動(dòng)繁瑣測(cè)試程序,通過(guò)開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng),創(chuàng)建測(cè)試流程和工步,設(shè)置測(cè)試時(shí)長(zhǎng)和次數(shù),系統(tǒng)會(huì)按照流程和設(shè)置好的條件自動(dòng)完成從空載到短路、滿載到短路、短路開(kāi)機(jī)的測(cè)試。

3. 系統(tǒng)會(huì)將測(cè)試結(jié)果以指標(biāo)形式反饋,Pass、Fail直接展現(xiàn)開(kāi)關(guān)電源測(cè)試指標(biāo)是否合格、產(chǎn)品是否合格。

4. 系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理分析功能可以幫助快速定位問(wèn)題,指導(dǎo)開(kāi)關(guān)電源的優(yōu)化提升。

5. 系統(tǒng)采取B/S架構(gòu),無(wú)代碼開(kāi)發(fā),文字語(yǔ)言操作環(huán)境,可以快速熟悉、上手。

6. 支持單工位、多工位測(cè)試

7. 支持項(xiàng)目調(diào)試和項(xiàng)目復(fù)用,節(jié)省相同測(cè)試項(xiàng)目的創(chuàng)建時(shí)間,提高測(cè)試速度。

總之,用電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試反復(fù)短路,以軟件操控硬件,完成自動(dòng)化測(cè)試,極大提高了測(cè)試效率;數(shù)據(jù)自動(dòng)采集存儲(chǔ),保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。

審核編輯 黃宇

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    發(fā)表于 02-13 13:45