PI-MAX4：1024i 簡(jiǎn)介

PI-MAX4：1024i 全集成的科研級(jí)增強(qiáng)型CCD(ICCD)，耦合了Gen II和Gen III的像增強(qiáng)器。增強(qiáng)器具備了從紫外到近紅外的高靈敏度。低于500ps的門(mén)控功能以及集成化的時(shí)序脈沖發(fā)生器使得相機(jī)可以應(yīng)用在時(shí)間分辨成像以及光譜等領(lǐng)域。特殊的雙曝光(DIF)選項(xiàng)使得相機(jī)可以快速采集兩幅圖像，滿足了PIV的應(yīng)用。

【產(chǎn)品特點(diǎn)】

l 最高26fps幀速

l 最短500ps的門(mén)控時(shí)間

l 1MHz重復(fù)頻率

l P43，P46熒光屏可選

l 18mm，25mm增強(qiáng)器尺寸可選

【量子效率曲線圖】

PI-MAX4 應(yīng)用

【應(yīng)用領(lǐng)域】

l 熒光壽命成像

l 瞬態(tài)吸收成像與光譜

l 燃燒

l 平面激光誘導(dǎo)熒光

l 粒子圖像測(cè)速

凝聚態(tài)物質(zhì)中沖擊誘發(fā)變形的成像

長(zhǎng)期以來(lái)，內(nèi)部X射線照相技術(shù)一直用于極端環(huán)境中，以對(duì)材料中的內(nèi)部變形進(jìn)行成像。近年來(lái)，第三代同步加速器光源和自由電子激光器將動(dòng)態(tài)X射線成像的能力擴(kuò)展到宏觀樣品中的亞微米和亞納秒尺度。這些增強(qiáng)的功能不僅可以更好地洞察材料變形，而且還對(duì)檢測(cè)器技術(shù)提出更高的要求。

如上圖實(shí)驗(yàn)建設(shè);沖擊速度范圍為250-850ms-1，產(chǎn)?的沖擊壓?和材料運(yùn)動(dòng)分別為5-20GPa和數(shù)百ms-1。在撞擊之后，通過(guò)?能量(50-250keV)X射線照相和互補(bǔ)速度診斷檢查?標(biāo)損傷，使用高能同步輻射X射線照相術(shù)來(lái)研究高Z材料中的沖擊引起的變形;這項(xiàng)研究的關(guān)鍵是普林斯頓儀器PI-MAX4：1024i增強(qiáng)型CCD(ICCD)相機(jī)，配備Gen III增強(qiáng)器，可在低光子情況下實(shí)現(xiàn)快速成像，PI-MAX4：1024i將傳統(tǒng)的像增強(qiáng)器門(mén)控選通達(dá)到500ps,而不犧牲量子效率。

審核編輯 黃宇