清微智能在本周宣布新型專利“一種IC驗證中實現(xiàn)雙DUT驗證的方法”已于今年3月獲批。該項專利內(nèi)容由該集團(tuán)獨(dú)立研究,申請日期優(yōu)先于2024年3月26日。
據(jù)了解,這項發(fā)明將使IC驗證環(huán)境更加精簡及高效,受益方面包括IP驗證速度提升以及驗證流程簡化等。

值得指出的是,盡管現(xiàn)有方法通過配置MONITOR進(jìn)行驗證,但這些過程耗費(fèi)大量時間。然而,相較之下,清微新發(fā)明僅需運(yùn)用新增DUT中的CPU讀取數(shù)據(jù),便能實現(xiàn)更快速和便捷的驗證方式。
同時,如若待驗證IP發(fā)生改變,無需重新建立驗證環(huán)境乃至更新 CASE,大大減少了項目間驗證環(huán)境的傳承難度。
另外,這種驗證方式簡化了對MONITOR采集方案或UVM驗證環(huán)境的關(guān)注,有助于防止數(shù)據(jù)錯誤,提高設(shè)計人員協(xié)助調(diào)試時的便利性。
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