蔡司EVO掃描電子顯微鏡用在五金機械領(lǐng)域
今天蔡司代理三本精密儀器小編給大家介紹EVO掃描電鏡電子顯微鏡在金屬加工領(lǐng)域的應(yīng)用。鎢燈絲電子顯微鏡EVO系列所提供的圖片質(zhì)量出色，不僅能幫助客戶清晰地觀察到亞微米甚至納米級別的細微差異，還為客戶提供了靈活的端口配置選項，用戶可以可以根據(jù)實際需求配置多種探頭，以滿足不同的觀察和分析需求。
每臺EVO掃描電鏡都標(biāo)準配備了適用于高真空環(huán)境下使用的二次電子(SE)探測器，以及常配5象限背散射探頭。這種多樣化的探測系統(tǒng)能夠從多方位采集捕捉樣品的形貌和成分圖像，為客戶提供更為全面的數(shù)據(jù)分析。
更值得一提的是，蔡司鎢燈絲電子顯微鏡EVO系列還可與多家供應(yīng)商的EDS元素分析系統(tǒng)兼容，這不僅豐富了檢測內(nèi)容，同時顯著提高了用戶的工作效率。
二次電子形貌高分辨觀察
背散射電子晶粒取向和成分觀察
能譜儀元素定量分析
▲8630鋼上的合金625堆焊(BSD像)與Map元素分析
金屬部件中的雜質(zhì)顆粒分析
在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中，電子顯微分析已經(jīng)成為了一個至關(guān)重要的工具。無論是在日常工業(yè)質(zhì)量保證還是在失效分析領(lǐng)域，它都扮演著不可或缺的角色。
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。
舉報投訴
-
電子顯微鏡
+關(guān)注
關(guān)注
1文章
117瀏覽量
10161 -
電鏡
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
97瀏覽量
9607 -
掃描電鏡
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
112瀏覽量
9434
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
熱點推薦
什么是透射電子顯微鏡？
透射電子顯微鏡透射電子顯微鏡（簡稱透射電鏡）是一種利用加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，通過電子與樣品原子的碰撞產(chǎn)生立體角散射來成像的儀器。散射角的大小與樣品的密度、厚度密切相關(guān)
透射電子顯微鏡(TEM)的優(yōu)勢及應(yīng)用
在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的諸多領(lǐng)域中，透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope,TEM）以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用，成為了材料科學(xué)、生命科學(xué)以及納米科技研究中不可或缺的重要
掃描電子顯微鏡的應(yīng)用場景有哪些？
掃描電子顯微鏡（SEM）具有高分辨率、大景深、可觀察多種信號等特點，在多個領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用場景，以下是一些主要的應(yīng)用方面：一、材料科學(xué)領(lǐng)域-金屬材料研究：用于觀察金屬材料的微觀組織結(jié)
聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）的用途
離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）是將聚焦離子束（FIB）技術(shù)與掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)有機結(jié)合的高端設(shè)備。什么是FIB-SEM？FIB-SEM系統(tǒng)通過聚焦離子束（FIB）和
掃描電子顯微鏡（SEM）類型和原理
掃描電子顯微鏡（SEM）原理電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)聚光鏡和物鏡聚焦后，形成極細的電子束在樣品表面進
發(fā)表于 03-05 14:03
?0次下載
掃描電子顯微鏡（SEM）有哪些分類？
掃描電子顯微鏡（SEM）有多種分類方式，具體如下：1、按電子槍種類分類（1）鎢絲槍掃描電鏡：使用熱鎢極電子槍，陰極為能加熱的鎢絲。優(yōu)點是結(jié)構(gòu)
掃描電子顯微鏡（SEM）類型和原理
掃描電子顯微鏡（SEM）原理電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)聚光鏡和物鏡聚焦后，形成極細的電子束在樣品表面進
TEM樣本制備：透射電子顯微鏡技術(shù)指南
機械研磨和離子濺射技術(shù)是硬質(zhì)材料樣品制備中常用的方法。首先，將樣品通過機械研磨的方式制成極薄的片狀，然后利用離子濺射技術(shù)進一步減薄至電子能夠穿透的厚度。這一過程能夠使樣品達到透射電子顯微鏡
蔡司離子束掃描電子顯微鏡Crossbeam 550 Samplefab
蔡司代理三本精密儀器獲悉。蔡司推出全新雙束電鏡Crossbeam550Samplefab作為一款專為半導(dǎo)體行業(yè)TEM樣品制備開發(fā)的高端聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM
德國蔡司顯微鏡與FIB技術(shù)在電池材料研究中的應(yīng)用
蔡司作為一家在光學(xué)和電子顯微鏡領(lǐng)域具有深厚技術(shù)積累的企業(yè)，提供聚焦離子束—掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）和飛秒激光（Laser-FIB）技
透射電子顯微鏡（TEM）：基礎(chǔ)知識概覽
透射電子顯微鏡（TEM）概述透射電子顯微鏡（TEM）是材料科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域中不可或缺的研究工具。對于新接觸TEM的科研人員而言，理解其基礎(chǔ)原理和操作對于高效利用這一設(shè)備至關(guān)重要。本文將詳細介紹
掃描電子顯微鏡用在半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域
與分析的利器，正發(fā)揮著不可替代的作用。本文將深入探討蔡司掃描電子顯微鏡在半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域的應(yīng)用，從工藝開發(fā)、質(zhì)量控制到失效分析，全方位展現(xiàn)其技術(shù)優(yōu)勢與實際應(yīng)用案例。一、
進口SEM掃描電子顯微鏡品牌推薦
ZEISS品牌。蔡司可是光學(xué)領(lǐng)域的佼佼者，他們的SEM掃描電子顯微鏡無論是分辨率還是穩(wěn)定性都是一流的。想想看，用蔡司的
蔡司EVO掃描電子顯微鏡進行軸承清潔度檢測
的INNIOGroup總部早在10年前就引入了清潔度檢測標(biāo)準。為確定有害殘留污染物顆粒的來源，自2015年起INNIOGroup開始使用蔡司EVO掃描電子顯微鏡進行檢測。例如，如
工商網(wǎng)監(jiān)
評論