為什么需要測(cè)量 EMI 發(fā)射?

電子設(shè)備無(wú)意間的發(fā)射會(huì)產(chǎn)生電磁干擾(EMI)。相比天然的電磁干擾源(如閃電和太陽(yáng)風(fēng)暴)，工程師更關(guān)注人為的、無(wú)意中形成的EMI發(fā)射。產(chǎn)生這些發(fā)射的來(lái)源涵蓋從現(xiàn)代蜂窩通信系統(tǒng)和廣播系統(tǒng)到各種電子元器件，它們可以生成猝發(fā)、脈沖、連續(xù)波或調(diào)制信號(hào)。

為了使產(chǎn)品可以進(jìn)入全球市場(chǎng)，電子設(shè)備制造商必須遵守特定地區(qū)或國(guó)家的EMC 法規(guī)，確保其設(shè)備符合法規(guī)要求。

EMI 預(yù)兼容性測(cè)試的意義

1. 降低項(xiàng)目結(jié)束時(shí)達(dá)不到EMI 要求的風(fēng)險(xiǎn)

大多數(shù)制造商傾向于將產(chǎn)品交由授權(quán)的第三方服務(wù)提供商進(jìn)行認(rèn)證，因?yàn)楹笳吒煜と驑?biāo)準(zhǔn)和要求。EMI一致性測(cè)試將確保產(chǎn)品可以完全通過(guò)認(rèn)證。

但是，EMI 一致性測(cè)試通常是在項(xiàng)目結(jié)束時(shí)執(zhí)行。參考下面的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期表，您可以看到，90%的測(cè)試和測(cè)量(包括EMI診斷測(cè)試)都發(fā)生在原型設(shè)計(jì)和試運(yùn)行階段。另一方面，EMI一致性測(cè)試僅占整個(gè)流程測(cè)試總數(shù)的10%，并且是在項(xiàng)目結(jié)束時(shí)執(zhí)行。對(duì)于項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)來(lái)說(shuō)，EMI 一致性測(cè)試結(jié)果不合格，可能會(huì)導(dǎo)致在時(shí)間和金錢(qián)方面付出高昂的代價(jià)。因此，您應(yīng)該盡量在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的早期階段，執(zhí)行EMI診斷測(cè)試或預(yù)兼容性測(cè)試，從而最大限度地降低 EMI 一致性測(cè)試失敗的風(fēng)險(xiǎn)。

2.精準(zhǔn)確定電磁干擾(EMI)源

由于一致性測(cè)試無(wú)法告訴您問(wèn)題的根源究竟在哪里，因此很難確定 EMI 故障的來(lái)源。輻射發(fā)射可能來(lái)自 USB 端口、LAN 端口、屏蔽接縫、電纜、緩沖器、時(shí)鐘甚至電源線(xiàn)。您需要自行診斷故障，或從實(shí)驗(yàn)室或第三方獲取故障診斷服務(wù)。在這種情況下，近場(chǎng)測(cè)試是確定此類(lèi)發(fā)射源的唯一方法，該測(cè)試通常使用信號(hào)分析儀和一組近場(chǎng)探頭來(lái)執(zhí)行。

EMI 一致性測(cè)試與 EMI 預(yù)兼容性測(cè)試

3.EMI 接收機(jī)與通用信號(hào)分析儀之間的區(qū)別

EMI 接收機(jī)的功能與針對(duì)EMI 發(fā)射測(cè)量應(yīng)用而優(yōu)化的通用信號(hào)分析儀類(lèi)似。

EMI 接收機(jī)或具有基本 EMI 功能(如符合 CISPR 16-1-1標(biāo)準(zhǔn)的探測(cè)器和分辨率帶寬)的信號(hào)分析儀都可以用于執(zhí)行EMI 預(yù)兼容性測(cè)試。信號(hào)分析儀通常比EMI 接收機(jī)更便宜。EMI 一致性測(cè)試還要求在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試環(huán)境中執(zhí)行，這對(duì)大多數(shù)公司來(lái)說(shuō)很難實(shí)現(xiàn)。

簡(jiǎn)而言之，EMI 接收機(jī)能夠幫助您執(zhí)行完整的一致性測(cè)試。其設(shè)計(jì)考慮了所有一致性標(biāo)準(zhǔn)，大多數(shù)組織建議在EMI 應(yīng)用中使用 EMI 接收機(jī)。

另一方面，通用信號(hào)分析儀可用于執(zhí)行預(yù)兼容性測(cè)試。信號(hào)分析儀是一種多功能工具，可以進(jìn)一步優(yōu)化并用于 EMI測(cè)試。如果您是在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)早期階段工作的射頻工程師，那么具備基本EMI 功能的信號(hào)分析儀足以幫助您執(zhí)行預(yù)兼容性測(cè)試。

結(jié)論

使用信號(hào)分析儀進(jìn)行EMI 預(yù)兼容性測(cè)試的優(yōu)勢(shì)在于，您可以很好地預(yù)測(cè)新產(chǎn)品的 EMI 性能，降低項(xiàng)目結(jié)束時(shí)EMI 一致性測(cè)試失敗的風(fēng)險(xiǎn)。

現(xiàn)在您已經(jīng)更好地了解到預(yù)兼容性測(cè)試和一致性測(cè)試之間的區(qū)別，以下有具體關(guān)于Keysight EMC 預(yù)兼容性測(cè)試所使用的儀器解決方案，可以作為參考:

N9010B EXA 信號(hào)分析儀

N9020B MXA信號(hào)分析儀

N9311X-100 近場(chǎng)探頭套件，30 MHz-3 GHz

N6141C EMI 測(cè)量應(yīng)用軟件，多點(diǎn)觸控用戶(hù)界面

審核編輯 黃宇