ESD測(cè)試，即靜電放電測(cè)試（Electrostatic Discharge Testing），是一種用于評(píng)估電子設(shè)備或組件在靜電放電環(huán)境下的性能穩(wěn)定性和可靠性的測(cè)試方法。以下是關(guān)于ESD測(cè)試的詳細(xì)解釋：

01 定義與目的

● 定義：ESD測(cè)試是模擬操作人員或物體在接觸設(shè)備時(shí)產(chǎn)生的放電，以及人或物體對(duì)鄰近物體之放電，以檢測(cè)被測(cè)設(shè)備抵抗靜電放電之干擾能力。

● 目的：通過(guò)ESD測(cè)試，可以有效地識(shí)別和排除ESD問(wèn)題，并改進(jìn)設(shè)計(jì)，提高電子設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。

02測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

● 較為通用的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）于1995年制定的IEC 61000-4-2。該標(biāo)準(zhǔn)定義了ESD測(cè)試的分類、測(cè)試方法和測(cè)試等級(jí)，以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。

03測(cè)試分類

● 直接放電：利用放電點(diǎn)擊直接對(duì)受試設(shè)備實(shí)施放電，包括接觸放電（Contact Discharge）和空氣放電（Air Discharge）。接觸放電是放電頭直接接觸受試設(shè)備，而空氣放電則是在一定距離內(nèi)對(duì)受試設(shè)備放電。

● 間接放電：對(duì)受試設(shè)備附近的耦合板實(shí)施放電，以模擬人體對(duì)受試設(shè)備附近的物體的放電。這種放電方式更接近實(shí)際情況，能更全面地評(píng)估設(shè)備的抗靜電放電能力。

04 測(cè)試方法

● 人體放電模式（HBM, Human Body Model）：

通過(guò)模擬人體摩擦產(chǎn)生的電荷釋放來(lái)測(cè)試電子元件的抗靜電能力。常用標(biāo)準(zhǔn)包括MIL-STD-883C method 3015.7和EIA/JESD22-A114-A。HBM測(cè)試的靜電電壓可從小于2kV到16kV不等。

● 機(jī)器放電模式（MM, Machine Model）：

通過(guò)模擬機(jī)器（如機(jī)器人）移動(dòng)產(chǎn)生的靜電對(duì)芯片的放電來(lái)評(píng)估其抗靜電能力。常用標(biāo)準(zhǔn)包括EIAJ-IC-121 method 20和EIA/JESD22-A115-A。由于機(jī)器的電阻接近0，放電時(shí)間極短，電流較大，導(dǎo)致危害顯著。

● 元件充電模式（CDM, Charge Device Model）：

測(cè)試電子元件在生產(chǎn)運(yùn)輸過(guò)程中因摩擦或其他原因積累的靜電釋放對(duì)其的影響。CDM測(cè)試的放電時(shí)間可能在幾納秒內(nèi)，評(píng)估元件在靜電放電過(guò)程中的響應(yīng)和耐受能力。

05測(cè)試過(guò)程

使用專用的靜電放電發(fā)生器產(chǎn)生一定強(qiáng)度的靜電放電脈沖，對(duì)測(cè)試樣品進(jìn)行非接觸式的電擊。

測(cè)試樣品在靜電放電脈沖沖擊下的性能穩(wěn)定性和可靠性將受到考驗(yàn)。

通過(guò)觀察和測(cè)量測(cè)試樣品在靜電放電后的表現(xiàn)，如功能失效、性能下降或損壞等現(xiàn)象，評(píng)估其抗靜電放電能力。

06測(cè)試結(jié)果

武漢芯源半導(dǎo)體有限公司具有完備且嚴(yán)格的質(zhì)量管理體系，2022年12月22日，經(jīng)過(guò)CQC中國(guó)質(zhì)量認(rèn)證中心全面、嚴(yán)格、系統(tǒng)的審查考核，順利通過(guò)ISO 14001：2015環(huán)境管理體系認(rèn)證、ISO 45001:2018職業(yè)健康安全管理體系認(rèn)證、ISO 9001：2015質(zhì)量管理體系認(rèn)證，標(biāo)志著武漢芯源半導(dǎo)體在環(huán)境管理、職業(yè)健康安全管理、質(zhì)量管理方面達(dá)到了國(guó)際或國(guó)家指定的質(zhì)量控制標(biāo)準(zhǔn)，為產(chǎn)品進(jìn)入市場(chǎng)提供了必要的資質(zhì)保證。同時(shí)也標(biāo)志著武漢芯源半導(dǎo)體已具備科學(xué)穩(wěn)定的質(zhì)量管理能力，在設(shè)計(jì)研發(fā)、過(guò)程控制、產(chǎn)品質(zhì)量及改進(jìn)、客戶服務(wù)等方面的質(zhì)量控制得到肯定。

CW32全系列產(chǎn)品，符合IEC60730，IEC61508 功能安全設(shè)計(jì)規(guī)范。

CW32A030C8T7通過(guò)了AEC-Q100車規(guī)級(jí)可靠性測(cè)試。

CW32F ESD性能測(cè)試如圖所示。

06重要性

● 在現(xiàn)代電子制造業(yè)中，ESD測(cè)試扮演著至關(guān)重要的角色。靜電放電可能導(dǎo)致設(shè)備損壞、性能下降甚至功能失效，對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力產(chǎn)生嚴(yán)重影響。

● 通過(guò)進(jìn)行ESD測(cè)試，可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決潛在的靜電放電問(wèn)題，提高電子設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。同時(shí)，也有助于推動(dòng)電子制造業(yè)的技術(shù)進(jìn)步和產(chǎn)業(yè)升級(jí)。

綜上所述，ESD測(cè)試是確保電子設(shè)備在靜電放電環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行的重要手段之一。通過(guò)不斷完善測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范、采用先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備和技術(shù)、加強(qiáng)測(cè)試人員的培訓(xùn)和管理等措施，可以進(jìn)一步提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

以下視頻是部分網(wǎng)友土法測(cè)試，可以一定程度體現(xiàn)cw32抗干擾性能：

來(lái)自 “打狗棒”的閃電攻擊——MCU抗干擾實(shí)驗(yàn)系列專題（2）_嗶哩嗶哩_bilibili?www.bilibili.com/video/BV1nG4y1w7ZG/?spm_id_from=333.999.0.0

審核編輯 黃宇