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上海伯東代理美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀兼容各品牌半導體測試機, 可正確評估與參數(shù)標定芯片開發(fā), 器件或模塊研發(fā), 品質檢查, 第三方認證, 失效分析, FAE 等幾乎所有流程, 高低溫沖擊測試作為一種常見的測試手段, 適用于 IGBT, MOSFET, 三極管, 二極管等各類半導體特性測試.

美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀

inTEST 高低溫沖擊熱流儀特性
1. 變溫速率更快, 每秒可快速升溫/降溫 15 °C
2. 溫控精度: ±1℃
3. 實時監(jiān)測待測芯片真實溫度, 可隨時調整沖擊氣流溫度
4. 針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊), 可單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對測試機平臺 load board上的 IC 進行溫度循環(huán) / 沖擊; 傳統(tǒng)高低溫箱無法針對此類測試
6. 對整塊集成電路板提供準確且快速的環(huán)境溫度
7.inTEST 熱流儀兼容各品牌半導體測試機, 通訊方便, 無異常中斷風險, 可連續(xù)運行.

inTEST 高低溫沖擊熱流儀熱銷型號

型號	BT 28	ATS-545	ATS-710E	ECO-710E	ATS-535
類型	桌面型	移動式	移動式	移動式	移動式
溫度范圍 °C	-28 至 +225	-75 至 + 225	-75至+225	-80 至 +225	-60 至 +225
變溫速率	-10 至 +125°C, 約 10 S +125至 -10°C, 約 10 S	-55 至 +125°C 約 10 S +125 至 -55°C 約 10 S	-55 至 +125°C 約 10 s +125 至 -55°C 約 10 s	-55 至 +125°C, ≤ 10S 125 至 -55°C, ≤ 10S	-40至+ 125°C < 12 s +125至-40°C < 40 s
空壓機	根據(jù)應用選配	額外另配	額外另配	額外另配	內部集成空壓機
控制方式	觸摸屏	旋鈕式	觸摸屏	觸摸屏	旋鈕式
氣體流量 scfm	4-14	4 至 18	4 至 18	4 至18 SCFM	5
溫度顯示和分辨率	+/- 0.1°C
溫度精度	1.0°C（根據(jù) NIST 標準校準時）
電源	200-230V +/-10% VAC, 50 Hz, 15 A	200-250VAC 50 / 60Hz 30A,1phase	200-250VAC 50 / 60Hz 30A,1phase	200-250VAC 50 / 60Hz ,20A,1phase	220±10%VAC 50 / 60Hz 30A 和 16A

上海伯東美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀廣泛應用于車載芯片及器件, 電源芯片, 功率器件, 通信芯片, 光纖收發(fā)器等溫度沖擊測試.

美國 inTEST 高低溫沖擊熱流儀

美國 inTEST ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準.通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證. inTEST熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求.
上海伯東是美國inTEST中國總代理.

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