尼得科精密檢測科技株式會社的子公司尼得科SV Probe，近日正式推出了兩款創(chuàng)新產品，以滿足市場對高電壓、大電流功率半導體檢測需求的日益增長。

第一款產品是半導體設備溫度測量探針卡“TC(熱電偶)探針卡”。該產品專為精確測量半導體在高溫環(huán)境下的溫度而設計，有助于提升功率半導體在電動汽車(EV)和工業(yè)設備等領域的可靠性和性能。

第二款產品是可支持高電壓的探針卡“加壓結構探針卡”。隨著電動汽車和工業(yè)設備對高電壓、大電流功率半導體的需求不斷增加，該探針卡能夠滿足在高溫、高電壓環(huán)境下進行精確、高質量檢測的需求，為功率半導體的研發(fā)和生產提供有力支持。

尼得科SV Probe一直致力于為客戶提供高質量的檢測解決方案。此次推出的兩款探針卡，不僅豐富了公司的產品線，也進一步提升了公司在功率半導體檢測領域的競爭力。未來，尼得科SV Probe將繼續(xù)關注市場需求，不斷創(chuàng)新，為客戶提供更加優(yōu)質的產品和服務。